第三章电离辐射吸收剂量的测量作为放疗物理师，吸收剂量的测量是个基本功，掌握本章节的内容，不仅对于考试，对于以后在工作中的实践，也是很有帮助的。对于本章内容，需要掌握和区分照射量、比释动能、吸收剂量的概念和他们之间的联系；掌握电离室测量吸收剂量的原理；掌握吸收剂量校准的方法；记忆电离室的工作特性；了解几种吸收剂量的其他测量方法。第一节剂量学中的辐射量及其单位主要是几个概念：1、粒子注量；2、能量注量；3、照射量；4、吸收剂量；5、比释动能；6、当量剂量；7、电子平衡另外就需要掌握照射量、吸收剂量和比释动能的关联和区别。第二节电离室测量吸收剂量原理1、电离室测量吸收剂量的基本过程是通过测量电离辐射在与物质相互作用过程中产生的次级粒子的电离电荷量，由计算得出吸收剂量。其实际上，电离室测量的是照射量，吸收剂量是通过计算得出的。2、电离室测量吸收剂量原理3、指形电离室：指形电离室是依据自由空气电离室的原理，为便于常规使用而设计的。假定空气外壳的半径等于电离辐射在空气中产生的次级电子的最大射程，满足进入气腔中的电子数与离开的相等，电子平衡存在。空气等效是指该种物质的有效原子序数与空气有效原子序数相等。4、电离室的工作特性：1）方向性：由于电离室本身固有的角度依赖性，电离室的灵敏度会受到电离辐射的入射方向的影响。平行板电离室应使用其前
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面垂直于射线束的中心轴，指形电离室应使其主轴线与射线束中心轴的入射方向相垂直。2）饱和性：当入射电离辐射强度不变时，电离室的输出信号随其工作电压的变化关系(见图3-12)；3）杆效应：电离室的灵敏度也会受到电离室金属杆和电缆在电离辐射场中的被照范围i的影响。电离室的金属杆和绝缘体及电缆在辐射场中会产生微弱的电离，叠加在电离室的信号电流中形成电离室杆的漏射，称为杆效应。对于X（r）射线，能量越大，杆效应越明显。而对于电子束，表现不甚明显。当电离室受照范围较小时，杆效应变化较大。4）复合效应：电离室的复合效应依赖于电离室的几何尺寸，工作电压的选择和正负离子产生的速率；5）极化效应：对给定的电离辐射，电离室收集的电离电荷会因收集极工作电压极性的改变而变化，这种变化现象称为极效应。电离室测量吸收剂量原理电离室首先测量由电离辐射产生的电离电荷，然后利用空气的平均电离能计算并转换成电离辐射所沉积的能量，即吸收剂量。1、用于测量中低能X（r）射线吸收剂量的电离室：（1）室壁由空气等效材料制成；（2）室壁厚度或加平衡帽后可达电子平衡；（3）气腔体积可精确测量而确定。2、高能电离辐射吸收剂量的测量掌握布拉格格雷空腔理论和Spencer-Attix理论的联系和区别。第三节电离辐射质的确定1、中低能X射线质的确定用半价层表示这一部分需要了解各种材料对射线的吸收更厉害，各种材料之间的厚度比值，参见表3-6中低能X射线质有关参数。2、放射性核素产生的r射线质放射治疗中一般用其核素名和辐射类型表示；3、高能X射线质，通常用电子的标称加速电位表示，但从剂量学角度考虑，通常的做法是用辐射质指数I表示，可以用两种方法来确定，一种是TPR20/TPR10,另一种是PDD20/PDD10.高能电子束射线质的确定描述高能电子束射线质，通常包含以下几种方法：1、模体表面平均能量E0=2.33*R50 (R50为半峰值剂量深度)2、模体表面最大可几能量3、不同深度处的平均能量第四节 吸收剂量的校准吸收剂量的校准内容也是物理师的基本功之一，就算不是准备考试，也要深刻理解，牢牢掌握！不过这一节内容偏实践稍多，考试时可考点倒不是很多，好好的理解，把整个刻度过程的来龙去脉搞清楚，考试应该没有问题！中低能X射线吸收剂量的校准需要应用到照射量到吸收剂量的转换公式（3-18）。照射量校准因子Nx=Xc/Mc空气比释动能校准因子Nk=Ka,c/Mc可以得到Nk=Nx*W/e这里还可以联系照射量、吸收剂量、比释动能之间的关系来考虑。高能电离辐射吸收剂量校准高能电离辐射吸收剂量校准介绍了两种方法，一种是依据ICRU14号和21号
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推荐的C和CE方法，但这种方法没有考虑电离室物理结构、室壁材料的影响。第二种是IAEA在1987年提出的测量方法，即我们常说的TRS277号报告《光子和电子束的吸收剂量测定》，在我国，国家质量技术监督局参照IAEATRS277报告制定并颁布了中华人共和国国家计量检定规程（JJG-589-2001）《外照射治疗辐射源》于2001年6月1日开始实施。高能电离辐射吸收剂量校准的IAEA方法1、IAEA方法和C和CE方法的区别：1）引入了空气吸收剂剂量校准因子ND，他依赖于电离室的几何形状和制作材料，对不同电离室取不同的数值，它由电离室的比释动能校准因子NK或照射量校准因子Nx计算得来；2）引入相对不同能量X(r)射线和电子束的质量阻止本领和扰动因子。2、IAEA方法校准高能电离辐射吸收剂量的公式：Dw=Mu*Nx*W/e*Km*Katt*(Sw/Sa)u*Pu*Pcel掌握IAEA校准高能电离辐射吸收剂量的详细过程以及该公式的来龙去脉，各种符号的物理意义，这一章节也就掌握的差不多了。第五节平行板电离室1、由于平行板电离室的结构特点和物理特性，对于能量低于10MeV的电子束，推荐使用平行板电离室测量其吸收剂量，而能量低于5MeV的电子束必须使用平行板电离室；对能量较高的电子束(>10MeV),亦可使用平行板电离室。对于X(r)射线，特别是高能X(r)射线，一般不用平行板电离室作吸收剂量校准。2、平行板电离室的主要优点之一是“腔内散射扰动效应”小。第六节吸收剂量的其他测量方法了解几种测量吸收剂量的其他方法：量热法，化学剂量计，热释光剂量计，半导体剂量计，胶片剂量计。并需要了解各自的优缺点。掌握热释光剂量剂、半导体剂量剂、胶片剂量计几种方法的测量原理、各自优势以及主要侧重应用于哪些方面。1、热释光剂量仪在辐射防护中应用较广，另外在近距离治疗放射源周围的剂量分布、患者剂量监测和剂量对比等场合都有应用。2、胶片剂量仪主要用于相对剂量测量，在剂量学中的应用主要有三个方面：1）检查射野的平坦度和对称性；2）获取临床常用的剂量学数据，如高能光子的离轴比、电子束的百分深度量和离轴比等；3）验证剂量分布。3、胶片剂量仪的优点：1）同时测量一个平面内所有的点剂量，可以较少照射时间和测量时间；2）有很高的空间分辨率；3）可以测量不均与固体介质中的剂量分布。4、半导体剂量仪灵敏度非常高，工作电压较低，主要用于测量高能光子和电子束的相对剂量。5、半导体剂量仪的缺陷：1）“暗”电流现象；2）高能辐射轰击硅晶体，会使其晶格发生畸变，导致探头受损，灵敏度下降；3）半导体剂量仪的灵敏度受环境温度、照射野大小以及脉冲式电离辐射场中剂量率的影响。
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