测试检验标准

发光二极管测试检验标准文件编号FJSW—WI088版本/版次A/0页次5-11．适用范围：本标准适用于发光二极管测试工序的检验。2．检验项目：包装检验、资料检验、外观检验、光电性能检验四大类共32个项目。外观检验、光电性能检验由操作员检验合格后送QC抽检，包装检验、资料检验由QC全检。外观检验、光电性能检验方式采用测试机测试。包装检验、资料检验采用目检。3．设备、仪器及工具：显微镜、测试机、游标尺（精度为0.02mm）、台灯4．检验规则：4.1批的组成：由同一作业员在同一班次所作业的同一机种，同一批号，并按规定数量（具体规定见表一《测试检验的批量要求》）放置于同一转料盘中的材料，即可组成一个检验批。由同一作业员作业的每个班次的最后一盘或每个批号的最后一盘如数量不够规定要求，也可组成一个检验批。4.2检验顺序：先全检项目，后抽检项目。4.3抽样：抽检项目根据《测试检验抽样/判定表》（表二）抽样。4.4检查：将待检材料按检验规格进行检查，并分别累计全检部分和抽检部分各类不合格品的数量以作为判定依据，不合格品以产品个数为计数单位，一个产品同时有几种不合格，仍记为一个不合格品。检验材料的不合格品由QC退回作业员返修。4.5判定：同一检验批的全检部分和抽检部分根据检查结果与《测试检验抽样/判定表》（表二）分别进行判定，只有某个检验批的全检部分和抽检部分均判为合格时，该批才能判为合格，否则，为不合格。5．允收水准：致命缺陷CR：0.25  主要缺陷MA：0.65   次要缺陷MI：2.5编制审核批准发光二极管测试检验标准文件编号FJSW—WI088版本/版次A/0页次5-2表一：测试检验的批量要求支架发光二极管20032004批量(K)2020表二：测试检验抽样/判定表批量范围（PCS）抽检样本数（PCS）抽检判定数（ea）CR0.25MA0.65MI2.5累计2.51～150全检                                                       0，11，22，32，3151～500800，11，25，65，6501～12001250，12，37，87，81201～32002001，23，410，1110，113201～100003152，35，614，1514，1510001～350005003，47，821，2221，2235001～1500008005，610，1121，2221，22150001～50000012507，814，1521，2221，22≥500001200010，1121，2221，2221，22编制审核批准发光二极管测试检验标准文件编号FJSW—WI088版本/版次A/0页次5-3五、检验规格：检验项目规格说明判定图示包装检验包装不良封口不严密、不规则MR——包装单合格证倒置或正反面放反MI——包装单资料不全无包装单或包装单填写不完整CR——包装单无QCPASS单CR——资料检验无流程卡或流程卡内容填写不全CR——流程卡内容与实际不符CR——数量不符实际数量与包装单上数量不符CR——机种不符实际机种与包装单上机种不符CR——混料同一包装内有两个或两个以上机种CR——外  观  检  验支架切反阴阳极管脚长度与晶粒极性规定不一致MA——平脚阴阳极管脚一样长MA——管脚长度不符阴阳极管脚长度与技术规格相差±0.2mmMA——支架插反有沿机种支架阴阳极与模粒正负极不一致CR——毛刺支架半切面不平整、光滑，毛刺≥0.15mmMA——弯脚支架管脚弯曲角度≥5°MI——支架变色支架有明显发黄MA——支架污染管脚上离胶体10mm以内有擦不掉异物≥0.5mm×0.5mmMA——多胶多胶面积大于胶体底部水平面0.2mmMA——编制审核批准发光二极管测试检验标准文件编号FJSW—WI088版本/版次A/0页次5-4五、检验规格：检验项目规格说明判定图示外  观  检  验少胶有帽沿机种缺损≥1/3帽沿厚度MA——无帽沿机种缺损≥1/20胶体高度MA支架生锈视距30cm处明显可见者MA——横筋切面生锈目视轻微MI目视严重MA支架压伤支架压伤深度≥1/4支架厚度（距胶体10mm内）MA——支架压伤深度≥1/2支架厚度（距胶体10mm外）MA支架压伤深度＜1/3支架厚度（距胶体10mm外）MI支架爬胶超过上BAR下边沿MA——胶体刮伤胶体正面有明显划痕（30cm视距）MA——胶体侧面有明显划痕（30cm视距）MI表面不良发光面有明显油渍物但不影响发光MI——胶体表面粗糙，手摸有涩手感MA胶色不同胶色与该机种常规胶色明显不同CR——杂物针孔胶体正面有明显杂物或针孔，面积≥0.2mm×0.2mm，影响发光MA——胶体侧面有明显杂物或针孔MI偏心晶粒偏移胶体中心X轴或Y轴≥1/3晶粒高度MA——气泡晶粒与金线上有＞1/3晶粒的气泡，影响发光亮度MA——晶粒旁边有＞1/2晶粒的气泡，影响发光亮度MA胶体A区气泡超过2个MA晶高/低与标准晶高相差≥0.2mm，影响发光MA——编制审核批准发光二极管测试检验标准文件编号FJSW—WI088版本/版次A/0页次5-5五、检验规格：检验项目规格说明判定图示光电性能检验发光暗淡目视发光亮度明显低于常规亮度或客户样品亮度CR——缺亮电性能测试时不发光CR——电性不良VF与工艺规定不符CR——IR≥30uA（VR=5V）CR发光颜色不符发光颜色与制造单晶粒发光颜色不同CR——单边缺亮双个晶粒机种在测试时有一个晶粒缺亮CR——编制审核批准