首页 电子元器件检验规范标准书

电子元器件检验规范标准书

举报
开通vip

电子元器件检验规范标准书耀电子元器件检验规范标准书蒂修订蚂日期蝇修订莆单号艘修订内容摘要靛页次衿版次蟆修订蔽审核膀批准量2011/03/30膈/苴系统义件新制7E苴4量A/0苴/蒯羁/•—lz"广P-\bj\\■„1I/,■;i1\\1聿批准:蜿审核:蒙编制:堕部分...

电子元器件检验规范标准书
耀电子元器件检验 规范 编程规范下载gsp规范下载钢格栅规范下载警徽规范下载建设厅规范下载 标准书蒂修订蚂日期蝇修订莆单号艘修订内容摘要靛页次衿版次蟆修订蔽审核膀批准量2011/03/30膈/苴系统义件新制7E苴4量A/0苴/蒯羁/•—lz"广P-\bj\\■„1I/,■;i1\\1聿批准:蜿审核:蒙编制:堕部分电子元器件检验规范标准书腿IC类检验规范(包括BGA)肆1.目的螟作为IQC人员检验IC类物料之依据。羁2.适用范围璧适用于本公司所有IC(包括BGA之检验。量3.抽样 计划 项目进度计划表范例计划下载计划下载计划下载课程教学计划下载 膳依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考〈〈抽样计划》。肄4.允收水准(AQD神严重缺点(CR):0;朦主要缺点(MA):0.4;,1'i\v-J*"-:.X祀次要缺点(MI):1.5.螃5.参考文件j1/•r•i神无薇检验项目写缺陷属性蔽缺陷描述蕾检验方式备注照包装检验嗨MAa.聿根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否1*成都正确,任何有误,均不可接受。c.蔻包装必须采用防铮电包装,否则不可接受。蒂目检膀数量检验r*1[蝇MA朦a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;膂b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接苏受。祎目检^妨点数袁外观检验展MA芾a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;莆b.来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;雕c.本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;>d.元件封装材料 关于同志近三年现实表现材料材料类招标技术评分表图表与交易pdf视力表打印pdf用图表说话 pdf 面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超蜥过0.5mm,且未露出基质,可接受;否则不可接受;蝴e.Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;螯f.元件脚弯曲,偏位,缺损或少脚,均不可接受;ST目检或聿10倍以上的放大镜'1_■■:rLJ蔓检验时,必须佩带静电带。蒂备注:凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的,1IQC仅进行包装检验,并加盖免检印章;该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH寸应的位置有没有变成粉红色,若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。腹(三)贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)葛1.目的雕便于IQC人员检验贴片元件类物料。案2.适用范围雷适用于本公司所有贴片元件(电容,电阻,电感…)之检验。薇3.抽样计划蜿依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考〈〈抽样计划》。克4.允收水准(AQD蝇严重缺点(CR):0;Al主要缺点(MA):0.4;勃次要缺点(MI):1.5.建5.参考文件衿«LCR数字电桥操作指引》菠〈〈数字万用表操作指引》袅检验项目袁缺陷属性量缺陷描述蝇检验方式薇备注袄包装检验量MAa.髭根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。Bb.包装必须采用防静电包装,否则不可接受。螯目检肇数量检验苗MAa.蟆实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;莉实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。蒂目检螺点数膳外观检验案MAa.簸Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;c.螃来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;e.莲本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;g.螺元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受;否则不可接受;i.艾Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;;1艘目检量10倍以上的放大镜薇检验时,必须佩带静电带。艾电性检验苴MA1\\X:!IL1蚁元件实际测扇值超出偏差范围内^莆LCR测试仪莆数字万用表蚂检验时,必须佩带静电带。腿二极管类型成检测方法荽LED肃选择数字万用表的二极管档,正向测量,LED需发出与要求相符的颜色的光,而反向测量不发光;否则该二极神管不合格。膈注:有标记的一端为负极。其它二极管选择数字万用表的二极管档,正向测量,读数需小于1,而反向测量读数需无穷大;否则该二极管不合格。注:有颜色标记的一端为负极。备注抽样计划说明:对于CHIP二极管,执行抽样计划时来料数量以盘为单位,样本数也以盘为单位;从抽检的每盘中取3~5pcs元件进行检测;AQL^变。检验方法见"LCR数字电桥测试仪操作指引"和"数字万用表操作指引"。插件用电解电容1.目的作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考〈〈抽样计划》。4.允收水准(AQD严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):0.4;次要缺点(MI):1.5.5.参考文件«LCR数字电桥操作指引》、〈〈数字电容表操作指引》。检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL±的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。11目检数量检验MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MA极性等标记符号印刷不清,难以辨认不可接受;电解电容之热缩套管破损、脱落,不可接受;本体变形,破损等不可接受;Pin生锈氧化,均不可接受。目检可焊性检验MAa.Pin上锡不良,或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使用之合格的松香水,再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100膜好上锡;如果不是则拒收)实际操作每LOT取5〜10PC涎小锡炉上验证上锡性尺寸规格检验MAa.外形尺寸不符合规格要求不可接受。卡尺若用于新的Model,需在PCB上对应的位置进行试插电性检验MAa.电容值超出规格要求则不可接受。用数字电容表或LCRB字电桥测试仪量测晶体类检验规范1.目的作为IQC人员检验晶体类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所用晶体之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考〈〈抽样计划》。4.允收水准(AQD严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):0.4;次要缺点(MI):1.5.5.参考文件〈〈数字频率计操作指引》检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MA字体模糊不清,难以辨认不可接受;有不同规格的晶体混装在一起,不可接受;元件变形,或受损露出本体等不可接受;Pin生锈氧化、上锡不良,或断Pin,均不可接受。口检_1'Zu*1每LOT取5〜10PCSft小锡炉上验证上锡性电性检验MA晶体不能起振不可接受;1测量值超出晶体的频率范围则不可接受。测试工位和数字频率计电性检测方法晶体检测方法32.768KHZ16.934MHz25.000MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体,再接通电源开机;在正常开机后,用调试好的数字频率计测量晶体,看测量的频率是否在规格范围内,若不能开机或测量值不在规格范围内,则该晶体不合格。24.576MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU内存条等,再接通电源开机,看能否正常开机显示;在正常开机显示后,用调试好的数字频率计测量晶体,看测量的频率是否在规格范围内,若不能开机显示或测量值不在规格范围内,则该晶体不合格。三极管检验规范1.目的作为IQC人员检验三极管类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有三极管之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考〈〈抽样计划》。4.允收水准(AQD严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):0.4;次要缺点(MI):1.5.5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检数量检验MA实际包装数量与Label±的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAMarking错或模糊不清难以辨认不可接受;来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5m渚,且未露出基质,可接受;否则不可接受;Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受。目检10倍以上的放大镜检验时,必须佩带静电带。电性检验无(七)排针8插槽(座)类检验规范1.目的作为IQC人员检验排针&S槽(座)类物料之依据。"1_2.适用范围适用于本公司所有排针啪槽(座)之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考〈〈抽样计划》。4.允收水准(AQD严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):0.4;次要缺点(MI):1.5.5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MA根据来料送检单核对外包装或LABEL±的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验、\1MAMarking错或模糊不能辩认;塑料与针脚不能紧固连接;塑料体破损,体脏,变形,明显色差,划伤,缩水;过锡炉后塑料体外观变色,变形,脱皮;针脚拧结,弯曲,偏位,缺损,断针或缺少;针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;针脚端部成蘑菇状影响安装.目检焊锡性检验MAa.PIN上锡不良,或完全不上锡,均不可接受;(将零件脚插入现使用之合格松香水内,全部浸润,再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100^^好上锡;如果不是则拒收)实际操作每LOT取5〜10PC亮小锡炉上验证上锡性安装检验MA针脚不能与标准PCB顺利安装;针脚露出机板长度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺针脚露出机板长度的标准为0.5mm~2.0mm范围内。八CABLED检验规范1.目的作为C人员检验CABLED物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有CABL萸之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考〈〈抽样计划》。4.允收水准(AQD严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):0.4;次要缺点(MI):1.5.L—■——__■:jT1\x'15参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL±的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。/£■|1j目检数量检验MA数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MA五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良;塑料体变形、划伤、毛边、破(断)裂、异色等不良;排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不可接受;1•-1排线与支架等组装不牢,易松脱;标识CABLED插方向的颜色不能明确分辩;c.排线接头的颜色不符合规格要求;g.排线表面的丝印错.目检按前后左右上下各轻摇3次排线接头处,看有无松脱现象参考MechanicalDrawingofCable尺寸检验MAa.长度不符合规格要求不可接受.卷尺尺寸参考MechanicalDrawingofCable电性测试检验MA排线的接线方式错不可接受;排线接触不良或不能运行不可接受;IDE排线的传输速率不符合要求不可接受.每批取10pcs送QA,请QA的同事帮助测试拉力测试检验MAa.与公端对插,插拔力不符合规格要求的不可接受.(拉力测试:用标准BoxHeader与排线对插好,用拉力计测出其CABLED全被拉出后的最大拔出力。)实际操作备注要求如下(低于20PIN的不作要求):80PIN:4.0~7.0Kgf;40PIN:3.5~6.0kgf:34PIN:3.0~5.0kgf;26PIN:2.0~4.0kgf;20PIN:1.4~3.4kg接插CABLE要轻插,不可插坏主板之插座;测拉力时,必需沿水平方向拔出,如果拉拔力均不符合要求,须重测三次;如有一次符合,则此CABLED拔力合格;如三次均不符合要求,需转换另一BOXHEADER(连续转换三次新的BOXHEADER)以同样的方式测试。更换三次后仍不符合,则拒收退货。
本文档为【电子元器件检验规范标准书】,请使用软件OFFICE或WPS软件打开。作品中的文字与图均可以修改和编辑, 图片更改请在作品中右键图片并更换,文字修改请直接点击文字进行修改,也可以新增和删除文档中的内容。
该文档来自用户分享,如有侵权行为请发邮件ishare@vip.sina.com联系网站客服,我们会及时删除。
[版权声明] 本站所有资料为用户分享产生,若发现您的权利被侵害,请联系客服邮件isharekefu@iask.cn,我们尽快处理。
本作品所展示的图片、画像、字体、音乐的版权可能需版权方额外授权,请谨慎使用。
网站提供的党政主题相关内容(国旗、国徽、党徽..)目的在于配合国家政策宣传,仅限个人学习分享使用,禁止用于任何广告和商用目的。
下载需要: 免费 已有0 人下载
最新资料
资料动态
专题动态
is_270070
暂无简介~
格式:doc
大小:29KB
软件:Word
页数:9
分类:
上传时间:2020-09-18
浏览量:0