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SPC統計製程管制技術管制

SPC統計製程管制技術管制SPC統計製程管制技術管制目的：1.貫徹預防原則2.以科學措施與方法→品質方針、目標實現緣由1924年美國W.A.Shewart首創製程控制理論及監控工具—控制圖，→SPC定義‧SPC為StatiscalProcessControl(統計製程控制)縮寫。‧应用統計技術對製程中的各階段進行監控，進而達到保證產品品質的目的。此一統計技術泛指任何可以應用的數理統計方法，而以控制圖理論為主。2功用：判斷製程異常即常預警。SPC應用之趨勢一、時代要求：‧21世紀是品質世紀→J.M.Juran提出‧不良率降低：百分之一、千分之...

SPC統計製程管制技術管制目的：1.貫徹預防原則2.以科學措施與方法 →品質方針、目標實現緣由1924年美國W.A.Shewart首創製程控制理論及監控工具—控制圖，→SPC定義‧SPC為StatiscalProcessControl(統計製程控制)縮寫。‧应用統計技術對製程中的各階段進行監控，進而達到保證產品品質的目的。此一統計技術泛指任何可以應用的數理統計方法，而以控制圖理論為主。2功用：判斷製程異常即常預警。SPC應用之趨勢一、時代要求：‧21世紀是品質世紀→J.M.Juran提出‧不良率降低：百分之一、千分之一→ppm,ppb(控制之方法為6σ-ppm)μ2.7×10-33σ3σμ2.0×10-96σ6σ3二、科學管理三、外貿要求或認證要求(QS9000、ISO9000…等)四、日本例子控制圖控制圖是對製程品質特性值進行測定、評估和監控制程是不處於控制狀態一種用統計方法設計的圖。UCLCLLCL4控制圖之重要性‧貫徹預防原則SPC的重要工具‧工廠中运用控制圖的張數在某種水平上反映了管理現代化的水平。控制圖原理‧基本知識(直方圖作法)1.搜集數據2.決定組數3.決定組距4.決定組界5.計算組中中點6.計算次數並作次數分配表 ※範例說明※產品品質的統計觀點：‧產品品質具有變異性(4M1E)‧產品品質變異具有統計規律性(常態、偏態分配圖)5控制圖原理‧常態分配的基本知識μμ’σ=0.4σ=1.0σ=2.5位置參數形狀參數6μμ+3σμ-3σ99.73%0.135%0.135%常態分配曲線下的面積μμ+3σμ-3σμμ-3σμ+3σ控制圖之演變7UCLCLLCLX控制圖time891011點出界判異8異常缘由區分‧偶因-randomcause(不影響整體品質，不易查明缘由)‧異因-assignablecause(可查明缘由)‧品質要素-可分為4M1E(人為、機具、资料、方法、環境)等五方面。控制圖是如何貫徹預防原則‧case1：UCLCLLCL9‧case2：控制點突然異常出界，即顯示異常。查出異因，採取措施，保證消弭，不再出現，納入標準。‧二種錯誤CLLCLUCLαβFalsealarm虛報alarmmissing漏報10經驗證明：W.A.Shewart提出之3σ控制界限值較好普通控制圖：CLUCLLCL3σ3σ※普通控制圖表※控制圖區分為：‧剖析用控制圖-剖析能否為控制狀態?-制程才干指數能否滿足要求?11時間時間失去控制控制狀態管制狀態圖示控制狀態但製程能力不足製程能力圖示OKTUTL12控制用控制圖：當製程達到了我們所確定的狀態後，才干將剖析用控制綫延長作為控制用控制圖。→日常管理→判異原則→發現異常→查出異因採取措施保證消弭不再出現納入標準。判異準則：1.點出界即判異2.界內點陈列不隨機判異※界內點陈列不隨機判異之類別※13X-R控制圖(n=2~5為乙組；普通為N=25組125個樣本)1.以剖析用控制圖訂出上下界即UCL,CL,LCL2.以控制圖紙將控制點標出，對於超出控制界限者，找出缘由改善予以剔除。再重新計算控制限界限3.假定完成在控制狀態後，再確認製程才干指數值Cpk=1.33，假定是即以本剖析用控制圖界限值做為控制用控制值。4.剖析控制圖之先後順序：先確認R控制圖在控制狀態後，再確認X控制圖能否在控制狀態。※範例說明※14X-Rm控制圖個別值移動全距控制圖，n=1,N=25組數據1.以剖析用控制圖訂出上下界即UCL,CL,LCL2.以控制圖紙將控制點標出，對於超出控制界限者，找出缘由改善予以剔除。再重新計算控制限界限3.假定完成在控制狀態後，再確認製程才干指數值Cpk=1.33，假定是即以本剖析用控制圖界限值做為控制用控制值。4.剖析控制圖之先後順序：先確認R控制圖在控制狀態後，再確認X控制圖能否在控制狀態。※範例說明※15製程才干與製程才干指數1.製程才干：決定於品質要素人為、機具、资料、方法、環境2.製程才干指數Ca,Cp,Cpk3.計算製程才干指數之前提為穩能範圍內才可做為評估值，假定非穩態者其計算之值均不具代表性。PerformanceIndexMT/2u16TLTUTLTUTLTUCp>1.0Cp=1.0Cp<1.0製程才干指數評量標準Cp(k)>1.67I級製程才干過高1.67>Cp(k)>1.33II級製程才干充份，表示技術管理很好繼續維持1.33>Cp(k)>1.0III級製程才干較差，表示技術管理普通，須提昇至II級1.0>Cp(k)>0.67IV級製程才干缺乏，表示技術管理很差，須採取措施0.67>Cp(k)V級製程才干嚴重缺乏，停工整頓；並採取緊急對策及重新檢討規格。17Cp=0.67=1.5不良率=4.45%Cp=1.00=1.0不良率=0.27%Cp=1.33=0.75不良率=60ppmCp=1.67=0.6不良率=0.6ppm製程才干指數與不良率的關係18※結語※‧本中心實施SPC之作業流程 ‧X-R控制圖範例‧PDCAdiagram‧異常製程處理案例說明19

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