磁共振MRI质量控制
检测
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操作细则为
规范
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实磁共振MRI检测，参照卫生标准《医用磁共振成像(MRI)设备影像质量检测与评价规范》(WS/T263-2006),结合我单位检测设备，制定《磁共振MRI质量控制检测操作细则》共振频率在所有梯度场关闭的情况下，将检验模体置于磁体的等中心;调节射频(RF)合成器的中心频率，使磁共振(MR)信号达到最大。MR信号达到最大时的射频(RF)合成器的中心频率即为MRI设备的共振频率。可以利用计算机软件功能程序化调节和测量其共振频率，并应每天记录，以便分析其变化趋势。信噪比SNR将检验模体水平置于头线圈内置于选体的等中心位置，模体的中心同RF线圈的中心近似重合。选择扫描参数，对模体的溢流层扫描成像。几何畸变率在用规则模体(如方形或圆柱形)获得的自旋回波影像上，应用计算机软件测距功能.测量方形影像的对角线和长与宽，或测量圆形影像的若干直径，对于由棒或孔排列组成的线性模体影像，可以测定这些物体间的距离计算几何畸变率。高对比空间分辨力采用检验物目视评价法。在检验模体分辨力插件上有规则分布的4排（或6排）方形或圆形小孔，边长（或直径）可分别为:0.5mm、0.75mm、1.0mm、1.25mm、l.5mm、2.0mm，或刻制有高分辨力的图案。在分辨力插件影像上，通过调节窗宽（WW）和窗位（WL）,直至将每-扫描平面影像上孔的行距、间隔清晰地分辨并区分开来，此时的孔径或能分辨清楚的最大线对数，即为MRI设备影像扫描平面上的高对比空间分辨率。影像均匀性在溢流层影像上75%区域（通常距影像边缘1cm）内，利用计算机软件影像分析功能分别测量若干个感兴趣区（ROI）内的像素强度平均值，一般测定10个ROI的数值。层厚测量层厚的模块都是做成斜面，斜面的表面与扫描平面形成一个角度（0）。在斜面影像上，应用计算机影像分析软件功能，测量斜面影像的像素强度的剖面分布曲线。在剖面分布曲线上测定峰值一半的全宽度FWHM。层厚非均匀性在层厚影像上测量4~8个层厚值，计算其标准偏差作为层厚的非均匀性。纵横比应使用具有规则形状的模体作为检测工具,如方形成像模体和圆柱形成像模体。成像模体为方形时，在视频影像上分别测量量横向和纵向的长度并比较其比值;成像模体为圆柱形时，,则测量4个直径值井计算其比值，在持贝的胶片上测量的纵横比与实际成像体比较,检查硬拷贝系统导致胶片影像发生几何畸变的程度静磁场均匀度采用目测定性检验
方法
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:在FOV$380mm*380mm条件下，在模体正方形格栅插件影像上目测评价静磁场均匀度。超导磁体静磁场的非稳定性将均匀头部模体置于头线圈的中心部位，选用种脉冲扫描序列扫描，记录产生共振时频谱的共振中心频率和扫描时间。t小时后（通常要求8h）在相同检验条件下进行重复检验，并记录同样的数据。计算两次扫描共振中心颁率的偏差，然后除以两次测量之间的时间，即得到超导磁体静磁场的非稳定性。永磁体和常导磁体静磁场的非稳定性将均勿头部模体置于头线團的中心都位，选用一种脉冲扫描序列扫描，记录产生共振时频谱的共振中心频率和扫描时间，每间隔1h重复测量1次.t小时后（通常要求8h）用公式计算磁场的非均匀性。影像伪影模体要求：模体应由一个产生信号的圆柱体组成，其直径为2cm~5cm即可。该小圆柱形模体应位于性测模体上成45°角对称位置的个相限内。性能检测模体应有定位标志，并且直径至少应210cm,厚度应至少大于最大层厚的两倍。检测方法：将性能检测模体置于磁场等中心位置，小圆柱形模体位于FOV内偏离磁铁等中心的一个象限内。应用一个多层、多回波脉冲扫描序列扫描成像，测定接收正交误差和相位编码误差。由接收正交误差引起的接收正交伪影与产生实信号的小模体方向正好相反（小模体位于左上角，则伪影将出现在右下角）。用伪影ROI内的信号值相对于模体影像ROI内信号值的百分偏差定量表示接收正交误差。由相位编码误差引起的相位编码伪影，将沿着影像的相位编码方向以多重影像的方式位移。用伪影ROI内的信号值相对于模体影像ROT内信号值的百分偏差定是表示接收相位编码误差。制冷剂（液氮.液氦）挥发率检测方法1:在一定的时间周期内.准确记录制冷剂（液氮、液氮的消耗量和上次注人制查剂与本次注人时的时间间隔.即可计算出制冷剂的挥发率。检测方法2:直接用流量计测定制冷剂的挥发率。准确记录通过流量计注人的制冷剂和到下大注人制冷剂时的时间间隔，计算制冷剂的挥发率。
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