TM-EMS-07-01_DIP_电压瞬降耐受度测试_V1.0
Accuracy, Speed, Think Solutions
程智科技股份有限公司
, 类 别:电磁耐受度(EMS)
Electromagnetic Susceptibility
, 课 目:电压瞬降耐受度测试(DIP)
Voltage Dips and Short Interruptions Immunity Test
, 适用范围:EMC测试工程师,助理工程师
, 发行单位:管理中心
, 发行日期:2008-00-00
,
档案
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编号:TM-EMS-07-01
, 版 本:1.0
修 版 记 录
版 本 日 期 修 版 内 容
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1 目的:
为使隶属本公司EMC测试助理工程师,在最短时间内对电压瞬降耐受度测试,能有最基本的操作执
行能力。
2 内容大纲:
章节 内容
适用产品概述及常用标准。 3
4 相关标准限制值。
5 电压瞬降(DIP)耐受度测试。
测试操作流程大纲。 6
7 电压瞬降耐受度测试软件操作范例。
3 适用产品概述及常用标准:
产品概述及常用标准
适用于连接在50Hz或者60Hz赫兹A.C.电源网络,输入电流不超过每相位16 A的产品定义 电子、电气设备。
典型产品 无特别定义。
不适用于连接在400Hz之A.C.电源网络。 排 除 性 对于400Hz将被包含于未来的IEC规范中。
EN 61000-4-11 常用标准 IEC61000-4-11
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4 相关标准限制值:
4.1 专有名词说明:
4.1.1 Voltage Dip,电压瞬降:
, 供电系统在某一点的瞬间电压减少到一特定下降阈值,随后即恢复门槛。
, DIP
表
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示短路中止或其它外在系统与相关装置的电流增加。
, 电压瞬降是一2D电磁干扰,强度取决于电压与时间长短。
4.1.2 Short Interruption,瞬间的中断:
, 电流供应系统在特别的点的全部阶段性电压的突然减少到指定中断门槛,随后即
恢复门槛。
, 短暂中断通常在短路系统或相关装置上设有一开关装置。
4.1.3 Residual Voltage(of Voltage Dip),电压下降的剩余电压:
, 在电压骤降或短暂中断的r.m.s.电压的最小值。
, 剩余电压可能以伏特或百分比或相对参考电压单位来表示。
4.1.4 Malfunction,功能失常:
, 设备欲进行之效能终止或进行非预期之功能
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4.2 耐受度测试标准:
4.2.1 电压瞬降的测试水准与时间长度:
4.2.2 短暂中断的测试水准与时间长度:
4.2.3 电压改变的建议时间与维持时间:(选择性)
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4.2.4 补充说明:
, 此标准之电压为设备额定电压(UT),当作电压测试规定水准。
, 设备额定电压在以下范围内可适用:
, 如果电压范围不超过特定额定电压最低值的20%,此范围内之电压可作为测
试规定水准(UT)。
, 其它情形下,依宣告之电压范围测试最低与最高电压。
, 选择测试水准与时间长度指引请见IEC 61000-2-8。
, 电压瞬降与短暂中断:
, UT与改变之电压间是不连贯的,在主电压任何一相的角度都可能开始或停
止,测试电压水准以下表示(%UT):0%,40%,70%和80%,相对于dip
残余电压之0%,40%,70%和80%。
, 电压变化(选择性):
, 此测试考量在额定电压UT与改变电压间跃迁的定义。
, 改变电压发生期间极短暂,也可能因为负荷改变而产生。
, 改变速率为固定,电压可以是阶段性的,从0开始,不超过UT 10%。低于
UT 1%的每一阶可视为改变电压的固定速率。
4.3 测试结果的评估与分类:
Criteria A
在测试过程中,装置要能依功能正常运转;当装置依其功能使用时,在制造者所规定的性能(或是可允许减损的性能)水准下,不允许其性能产生劣化或功能减损;假如制造者未规定最低的性能位准或是可允许的性能减损,则这些劣化或减损情形可以从产品的说明书和其相关文件加以推导,同时也可依使用者照着产品功能使用时,所预期的合理特性加以推导。
Criteria B
测试完成后,装置要能依其功能正常运转;当装置依其功能使用时,在制造者所规定的性能(或是可允许减损的性能)水准下,不允许其性能产生劣化或功能减损;但在测试过程中,性能劣化是允许的,然而不能改变产品的实际操作状态和所储存的资料;假如制造者未规定最低的性能位准或是可允许的性能减损,则这些劣化或减损情形可以从产品的说明书和其相关文件加以推导,同时也可依使用者照着产品功能使用时,所预期的合理特性加以推导。
Criteria C
测试完成后允许暂时失去功能,但其功能要能自动回复,或是透过控制的操作可以被复原,或是可以透过使用说明所规定的任何操作方法加以回复。
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Criteria D
测试完成后性能的劣化或丧失,是因硬件或软件的损坏或是因资料流失,以致无法恢复。
5 电压瞬降(DIP)耐受度测试:
5.1 测试目的:
电子、电气设备可能会受到电力系统中电压瞬降、瞬间中断和电压变化的影响。造成这些电压
变动的原因是由于电力系统、变电设备发生故障或负荷突然发生大的变动,或者负荷相对比较
平稳的连续变化引起的。这些现象是随机的,规律性很差,有时候在一段时间内会出现多次,
甚至连续出现,从而干扰电子、电气设备的正常工作。
5.2 测试设备:
5.2.1 Dips/Interruption and Variations Simulator 。
5.2.2 装载测试软件之计算机。(PC or NB)
5.3 测试环境与场地:
符合一般EMS测试条件之实验室即可,无其它特殊条件限制。
5.3.1 测试环境温度及湿度:
, 环境温度:15?C ~ 35?C。
, 环境湿度:20% ~ 80% R.H.。
, 大气压力:86Kpa ~ 106Kpa。
5.3.2 测试场地:
符合一般EMS测试条件之实验室即可,无其它特殊条件限制。
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5.4 架设方式:
受试时EUT以原厂最短电力连接线连接到测试产生器,如果线长度未决定,就以越短越适合
EUT为原则。
5.4.1 以内建开关方式架设电路图:
内建开关方式架设电路图
5.4.2 以电力放大器方式架设电路图:
电力放大器方式架设电路图
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5.4.3 以三相的产生器与电力放大器方式架设电路图:
三相的产生器与电力放大器方式架设电路图
5.4.4 实际架设参考图片:
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5.5 测试操作:
5.5.1 测试项目说明:
, 电压瞬降与短暂中断测试:
, 测试进行中的主要测试电压应精确监测在2%之间。
, EUT应以固定测试等级或时间组合间隔至少10秒的骤降或中断序列来测
试。每一代表性操作模式都应被测试。
, 对于电压骤降,电压供应改变发生于电压交叉点,加上产品委员会决定应测
的角度或个别产品特殊的角度,有45?,90?,135?,180?,225?,
270?,315?,在每一相位上测量。
, 对于电压中断,角度的决定在于产品委员会定义的最糟情况,如果未决定,
每一相建议使用0?。
, 电压变化(选择性):
EUT按照最代表性的操作模式测试特别电压变化3次,每一间隔10秒。
, 单相与三相电压瞬降测试:
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Accuracy, Speed, Think Solutions , 单相电压瞬降测试:
对于单一相的电压瞬降测试,电压应按照标准5.1.章节来测试,包括一系列
的测试。
, 三相电压瞬降测试:
, 如果EUT不只一条电力线,每一条都要测。
, 三相系统,相到相之间的电压骤降变化可能不只一个。
, 对于三相系统的电压中断测试,所有三相必须同时按照标准5.1.章节说明
测试。
, 出现中立点的三相电压骤降测试,每一单一电压(相到中立点和相到相之
间)都要测,每一点测量一段时间,参照标准5.1.章节,包括6个不同测
试系列,请参照下图所示。
, 无中立点的3相电压骤降测试,每一相到相之间的电压都要测,一次一
个,参照标准5.1.章节,包括3个不同系列的测试,请参照下图所示。
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5.5.2 测试操作步骤:
STEP 1 :
确认客户要求测试规格。
STEP 2 :
依据标准规定,于实验室内架设待测物及其相关测试设备。以下为特别需要注意事项:
, 所有待测系统尽可能摆置成正常安装模式(Test Configuration),布线必须依制
造者建议之要求一致,除非特别指明,否则待测件必须置于其机壳内测试,其相
关的输出入口亦须适当处,。
, 依照规格要求,设定控制软件的参数:
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, U-Nominal:80 – 250V,设定值为230V。
, Phase:0 -360?,设定值为270? 。
, I Limlt:电流设定值为16A。
, Udips:0% - 80%,设定值为0%。
, Twarmup:热机时间,设定值为3s。
, Tevent:事件的持续时间,设定值为5000s。
, Trep:事件的重复时间,设定值为6s。
, Ttest:全部的测试时间,设定值为3min。
, Dip mode:SYNC/ASYNC,设定值为SYNC。
, LOAD TYPE :负载类型,设定值为P=CONST。
STEP 3 :
依据标准或使用程序,正确激活待测物。
STEP 4 :
依据标准开始进行测试:
STEP 5 :
根据标准判定测试数据与结果,并制作测试报告。
6 测试操作流程大纲:
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電磁耐受度:EMS:, 電壓瞬降耐受度:DIP:測試操作流程大綱
確認客戶要求測試規格
於實驗室內架設EUT
及相關測試參數設定
依據標準或使用手冊
正常啟動EUT
依據標準開始
進行測試
測試結束後
彙整測試結果數據
是否
NGPASS是否超過限制值
Over Limited
依據測試結果數據
製作測試報告
測試結束
7 电压瞬降耐受度测试软件操作范例:
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Accuracy, Speed, Think Solutions 7.1 测式范例软件;
本章节以Winpats测试软件作为示范,各实验室请依照实际使用之测试软件运用之。
7.2 软件操作步骤:
7.2.1 激活Winpats测试软件进入主窗口后,视情况需要,可于【Unit】、【Serial Nbr.】、
【Operator】及【Remarks】字段中输入资料:
7.2.2 开启【Program】下拉式菜单,点选【Open】功能,将开启已设定完成之测试程序。
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如欲增加测试项目,则点选【Arrange】增加,但增加测试的项目必须于“Test”功能栏
中存在的Set up测试项目。
7.2.3 选择【dip.prg】选项,按下【OK】按键:
7.2.4 进入Test Monitor Screen后,按下【START】按键,开始测试。
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7.2.5 此为测试完成判定画面。(若于测试中按下中断按键,即判定为FAIL)
7.2.6 进入【Protocol】功能区,点选【Print Setup】功能,执行测试结果打印:
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7.2.7 如何设定测试内容:
, 进入【Test】下拉选单,点选【Open】功能键:
, 至Drive C的目录中选取file【dip.tst】进行相关设定,然后点选【OK】按键,进
入【Test Item EDIT】画面:
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, 进入Test Item EDIT画面,点选【Line】,再点选【SETUP】进入设定画面:
, 依据标准中的规定,设定相关参数后,按下【SETUP】进入细部设定页面:
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, 依据标转完成各项参数设定后,按下【OK】按键:
, 再按下【OK】按键:
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, 再按下【OK】按键,将设定值储存:
7.2.8 如何设定计算机联机:
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, 进入【Configuration】下拉选单,点选【Interfaces】功能键:
, 进入设定画面,于【LFP / PLINE】选项中,选择正确的COM Port,点选【OK】
键即可:
7.2.9 Variations测试操作大致雷同,相关参数设定画面如下:
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, 至Drive C的目录中选取file【Var.tst】进行相关设定,然后点选【OK】按键,
进入【Test Item EDIT】画面:
, 进入Test Item EDIT画面,点选【Line】,再点选【SETUP】进入设定画面:
, 依据标准中的规定,设定相关参数后,按下【SETUP】进入细部设定页面:
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, 依据标准完成参数设定后,逐次按下【OK】键,将设定值存盘。
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