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Lesson22 17/35 10.2 表面电场效应9 10.2.4 半导体表面层的五种基本状态 4o 反型状态 Vs ↑ d ↑ Qs 对表面势依赖:从Vs1/2 到 exp(qVs/2kT) “耗尽层近似” 依然适用 弱反型 2/12 ⎟⎠ ⎞⎜⎝ ⎛−= kT qV qL kTQ s D s s ε耗尽状态 VB 2VB Vs ↑ d > dmax 非平衡状态,空间电荷层的载流子跟不上外加 电压变化 从深耗尽到热平衡反型层态所需的热驰豫时间τth为100~102s! 反型层的建立不是一个很快的过程! ( ...

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17/35 10.2 关于同志近三年现实表现材料材料类招标技术评分表图表与交易pdf视力表打印pdf用图表说话 pdf 面电场效应9 10.2.4 半导体表面层的五种基本状态 4o 反型状态 Vs ↑ d ↑ Qs 对表面势依赖:从Vs1/2 到 exp(qVs/2kT) “耗尽层近似” 依然适用 弱反型 2/12 ⎟⎠ ⎞⎜⎝ ⎛−= kT qV qL kTQ s D s s ε耗尽状态 VB 2VB Vs ↑ d > dmax 非平衡状态,空间电荷层的载流子跟不上外加 电压变化 从深耗尽到热平衡反型层态所需的热驰豫时间τth为100~102s! 反型层的建立不是一个很快的过程! ( )kTqVs 2exp − 2/1 ⎟⎠ ⎞⎜⎝ ⎛ kT qVs ( )kTqVs 2exp 2/12 ⎟⎠ ⎞⎜⎝ ⎛−= kT qV qL kTQ s D s s ε “耗尽层近似” 依然适用 19/35 10.2 表面电场效应11 10.2.4 半导体表面层的五种基本状态 金属 欧姆 接触 d0 P-半导体 绝缘层 ( ) ⎩⎨ ⎧ ⎥⎦ ⎤⎢⎣ ⎡ −+⎟⎠ ⎞⎜⎝ ⎛−=∝∝ 1exp kT qV kT qVVFEQ sssss 2/1 0 0 1exp ⎪⎭ ⎪⎬⎫⎥⎦ ⎤⎢⎣ ⎡ −−⎟⎠ ⎞⎜⎝ ⎛+ kT qV kT qV p n ss p p ( )kTqVs 2exp − 2/1 ⎟⎠ ⎞⎜⎝ ⎛ kT qVs ( )kTqVs 2exp 20/35 第十章 半导体表面与MIS结构 10.1 表面态概念 10.2 表面电场效应 10.3 Si-SiO2系统的性质 10.4 MIS结构的C-V特性 10.5 表面电导及迁移率 21/35 10.3 Si-SiO2系统的性质1 10.3.1 Si-SiO2系统中的电荷状态 1o Dit 1010 ~ 1012 cm-2eV-1 2o Dit 在禁带中呈现“U”形连续分布 3o Qit 与晶向关系: [111] > [110] > [100] 4o Qit 依赖退火处理 1. 界面陷阱电荷(快界面态) Qit 2. 氧化层中固定电荷 Qf 3. 氧化层中可动电荷 Qm 4. 氧化层中陷阱电荷 Qot 1.界面陷阱电荷(快界面态) Qit 界面态密度 Dit 1010 1011 1012 Ev Ec Dit 22/35 10.3 Si-SiO2系统的性质2 10.3.1 Si-SiO2系统中的电荷状态 2. 氧化层中固定电荷 Qf 1o 在外加电场下,不可移动 2o 局限于界面20nm范围以内 3o [111] > [110] > [100] 4o 不依赖于Vs, 不和体Si交换电荷,即不能充放电 5o 不依赖于Si掺杂和氧化层厚度 6o Si-SiO2界面附近的过剩Si4+导致Qf 7o 与热处理有关 3. 氧化层中可动电荷 Qm (Na+, K+) B-T实验 辐射;热载流子注入等 4. 氧化层中陷阱电荷 Qot
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分类:其他高等教育
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