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厚度测量仪

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    2017-09-26

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    2017-09-20

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    2017-09-21

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    2017-09-26

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    2017-09-26

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    2012-01-06

    光学[立即查看]

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    2017-09-27

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    2012-01-06

    光学[立即查看]

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    2017-11-15

    椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验背景介绍 椭圆偏振测量(椭偏术)是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法,其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。 椭圆偏振测量的应用范围很广,如半导体、光学掩膜、圆晶、[立即查看]

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