X_射线荧光光谱
分析
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技术的发展
中国无机分析化学第3卷第3期Vol.3,No.3
2013年9月ChineseJournalofInoranicAnalticalChemistr1~7 :/doi10.3969.issn.20951035.2013.03.001-j
X-射线荧光光谱分析技术的发展
章连香 符斌
()北京矿冶研究总院,北京100160
摘 要 归纳了X仪器检测性能的提-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X还就能量色散X高、-射线荧光光谱技术的进展,-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的——手持式、论文发表情况进行了
总结
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,对近年来X偏振、微束分析等进行-射线荧光光谱仪的发展趋势—了评述,并对其技术的发展方向进行了展望。
关键词 X能量色散X射线荧光光谱法;波长色散X射线荧光光谱法;微束分析;手持式-射线荧光光谱法;()中图分类号:O657.34;TH744.16 文献标志码:A 文章编号:20951035201303000107---
AdvancesinXraFluorescenceSectrometr - ypy
,ZHANGLianxianFUBin g
(BeiinGeneralResearchInstituteoMininand MetallurBeiin00160,China) jg f ggy,jg1
AbstracthedevelomentofXrafluorescencesectrometrwasreviewedinthisroressaer.The T - pypypgpp advancementofthewavelenthdisersiveXrafluorescencesectrometrwereexoundedfromeiht - gpypypg
,,asectssuchastheameliorationofmoderncontroltechnoloimrovementofinstrumenterformance pgypp,extensionofthednamicraneforelementdetectionandsoon.TheXratubeanddetectortechnolo - ygygy ,w,winenerdisersiveXrafluorescencesectrometrhichhavebeendeveloedraidlereused - gypypyppy inthefieldofXrafluorescencesectrometrintheteninsummarized.Theaersublishedastears - ypyppppy
,Chinawereoverviewed.ThedevelomenttrendofXrafluorescencesectrometersinrecentsuchears - pypy ,p,asinnovationofhandheldeuimenttechniueandmicrobeamanalsisaswellastheolarization - qpqydirectionoffuturedevelomentofthetechnolowerediscussed. pgy
;e;Kewords Xraluorescenceectrometrnerisersiveraluorescenceectrometr- s X- sypygypypyy f d f
;m;wavelenthdisersiveXrafluorescencesectrometricrobeamanalsishandheld - gpypyy
或缺的分析仪器设备,X射线荧光光谱分析技术已而且正在在各种科研和工业领域得到广泛的应用,向更深的领域发展,为经济建设和改善人类生活发挥越来越大的作用。
按色散和探测方法的不同,X射线荧光光谱分为波长色散X射线荧光光谱法(WD-XRF)和能量。色散X射线荧光光谱法(ED-XRF)
0 引言
X射线荧光光谱分析法是利用初级X射线光
子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产次级X射线)而进行物质成分分析和化学生荧光(
态研究的方法。1世界第一台波长色散X射948年,线荧光光谱仪研制成功,经历60多年的发展,X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可
收稿日期:2013012620130408-- 修回日期:--
:作者简介:章连香,女,高级工程师,主要从事矿石及冶金产品分析测试研究。E-mailzlianxeah.net@y