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T260VSE-F-Power decay .pdf

T260VSE-F-Power decay

c3276
2010-04-04 0人阅读 举报 0 0 暂无简介

简介:本文档为《T260VSE-F-Power decay pdf》,可适用于IT/计算机领域

一、基本資料整理(Information):失效現象(ORTfailure):Power衰減(Powerdecay)失效項目(Failureitem):TC失效數量(failureQTY):pcs使用晶片 (Builtinchip):TVSFE二、失效材料電性測試(規格<)結果:Power衰減幅度最小為最大達電性確認均無VF及IR不良現象。Results:Powerattenuationrateofminimum,maximumupto,electricalVFandIRconfirmedthatnoundesirablephenomenon三、不良材料外觀及研磨後確認TVSFE失效分析TESTITEMDEVICEHOURSIF=mAIF=mABEFOREAFTERBEFOREAFTERTESTTESTTESTTESTuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAuAIR(V)Power(mWsr)NO△△﹪NO△△﹪VF(Voltage)一焊點側面確認一焊點側面確認小電流確認一焊點側面確認晶片正面晶片側面晶片正面晶片側面小電流確認小電流確認一焊點側面確認晶片正面晶片側面晶片正面晶片側面小電流確認結果:不良材料晶片正面無異常但小電流點亮在金軌末端對應處有輕微暗區。Results:Thenonperformingmaterials,wafernoabnormalpositive,butsmallcurrentlightrailingoldattheendofaslightdarkareacorrespondsto四、結論:晶片來料異常所至。AbnormalSuozhiincomingwafer

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