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手机最新可靠性测试标准.pdf

手机最新可靠性测试标准.pdf

上传者: kfukada 2013-12-12 评分1 评论0 下载5 收藏10 阅读量415 暂无简介 简介 举报

简介:本文档为《手机最新可靠性测试标准pdf》,可适用于硬件技术领域,主题内容包含第页共页文件名称可靠性测试标准文件编号QZLCTZC版本V正气进取专业发布日期主控部门综合测试部意见签名日期拟制:综合测试部同意李强斌审核:质量管理符等。

第 1 页 共 58 页 文件名称 可靠性测试标准 文件编号 QZ/LCT-ZC09-2007 版本 V6.3 正气 进取 专业 发布日期 2011-05-05 主控部门 综合测试部 意见 签名/日期 拟制:综合测试部 同意 李强斌 2011.05.03 审核:质量管理部 同意 姚凤贤 2011.05.03 审核:质量策划部 同意 沈 平 2011.05.03 审核:第一产品事业部 同意 黄承梁 2011.05.03 审核:第二产品事业部 同意 常玉柱 2011.05.03 审核:三旗通信 同意 李志虎 2011.05.03 审核:国际业务事业部 同意 朱明里 2011.05.03 批准:产品质量总监 同意 王一昌 2011.05.03 文件说明 质量中心-综合测试部可靠性实验室负责实施。 版本号 修改时间 修改人 修改原因 修改主要内容 V1.0 2005.09.05 刘利 新建 V2.0 2006.01.17 刘利 更新 软压由 50kg 改为 40kg; 滑盖测试后拆机测试 FPC 电阻 V3.0 2006.04.04 刘利 更新 增加高频振动、沙尘、滚筒跌落、酒精摩擦、铅笔硬度、胶 塞拉力、和存储卡拆装等测试 V4.0 2006.05.30 吴小弟 更新 触摸屏划线次数由 100000 次(反复一个来回记为一次)改为 100000 次(反复一个来回记为 2 次) V4.1 2006.06.26 吴小弟 更新 1.需测 RF 参数的测试项取消,综测仪设备不要 2.中试阶段测试,由工程部提出申请改为由中试部提出申请 3.增加包装振动测试和包装跌落测试项目 V4.2 2006.08.30 吴小弟 更新 增加触感键寿命测试项目 正气、进取、专业 质量体系文件 第 2 页 共 58 页 V5.0 2006.09.10 吴小弟 更新 1. 增加高低温运行中、恒温恒湿,跌落、高频振动、温度冲 击、软压、滚筒跌落、重复跌落、扭曲测试前后进行 RF 参数 测试; 2. 增加扭曲和冲击测试项目,增加 5.2.4 微动开关的寿命测 试; 3. 5.3.2.6 中增加橡胶漆塑胶件和钢片材料的摩擦条件; 4. 环境测试(与温度及湿度相关的测试)后,手机在常温下 统一放置 1~2 小时后进行外观、结构、功能的检验; 5.增加 7 不良等级分类细则; V6.0 2007.03.29 吴小弟 更新 1. 低温储存:5.1.1.2 测试条件中的持续时间由 48hrs 改为 24hrs;温度由-30改为-40;2. 高温储存:5.1.5.2 测试 条件中的持续时间由 48hrs 改为 24hrs;3. 冲击:5.1.3.2 测 试条件:脉冲持续时间 6ms 改为 18ms ;5. 砂尘试验:5.1.14.2 测试条件中的持续时间 3hrs 改为 8hrs;6. 充电器插拔: 5.2.7.2 测试条件:充电器、耳机和数据线插拔各为 2000 次; 7. 耳机插拔:5.2.5.2 测试条件:5000 次改为 2000 次;8.SIM 卡插拔: 5.2.9.2 测试条件:2500 次改为 1000 次;9.储存 卡拆装:5.2.10.2 测试条件:3000 次改为 2000 次; 正气、进取、专业 质量体系文件 第 3 页 共 58 页 V6.1 2008.11.18 陈贯中 更新 高低温储存:时间由 24h,改为 16h 冲击:条件改为加速度 25g,脉冲 6ms,每个轴的冲击次数改 为 1000 次 冲击/恒温恒湿/温度冲击/自由跌落的测试 样机数目:改为 8pcs 自由跌落:高度统一为 1.2m,跌落面为混凝土板面 盐雾的试验条件变更为:共三个喷雾周期,每次喷雾 2h,每 次喷雾后有一个为期 22h 的湿热储存周期。储存条件为(40 2),相对湿度为 90%~95% 翻盖标准:由 5W 次更新为 8W 次 滑盖标准:由 5W 次更新为 8W 次 按键寿命:由 10W 次改为 20W 次 微动开关(hold 键)寿命:由 1W 次改为 2W 次 充电器插拔测试条件改为:3 合一的充电器,充电器插拔 2000 次,数据线和耳机各 1500 次,共 5000 次 电池盖拆装:由 1000 次改为 500 次 存储卡拆装:由 2000 次改为 500 次 SIM 卡拆装:由 1000 次改为 500 次 触摸屏点击测试:测试速率由 2 次/S,改为 1 次/S 五向键寿命:由 3W 次改为 5W 次 重复跌落:跌落高度统一为 8cm,跌落次数由 20000 次改为 10000 次 摩擦测试:棱摩擦标准由 150 圈改为 100 圈;橡胶漆测试标 准由 140 圈改为 70 圈 百格:胶带的粘贴次数由 2 次改为 3 次 铅笔硬度:载荷由 1Kg 改为 0.5Kg 滚筒:测试次数由 1000 次改为 500 次 软压:测试标准由 3000 次改为 2000 次 扭曲:测试标准由 1000 次改为 500 次 增加人工汗液测试项 正气、进取、专业 质量体系文件 第 4 页 共 58 页 V6.2 2010.06.07 程雷 更新 1. 增加包装重量和跌落高度的对应关系表 2. 增加包装跌落测试手法,包括跌落棱/角/面的规定 盐雾实验的样机测试后干燥条件改为:用吹风机吹干表面残 留液体后放置与通风干燥处干燥 48H 修正笔误: 4.1 温度冲击测试(P10): 一处写 12cycles,一处写循环 4 次,前后不一致 4.2 滑盖寿命测试(P15): 以 40~45 次/分的速率滑盖 5 万 次 => 应该是 8 万次 4.3 五向键寿命测试(P23): 40000 万次、50000 万次 两处 笔误 4.4 冲击测试(P7):脉冲持续时间 18ms=> 应该是 6ms X,Y,Z 六个轴向=> 应该是 X,Y,Z 三个轴向 4.5 人工汗测试(P14):PH 值=8.5=> 应该是 PH 值=10.8 电池/电池盖拆装:由 500 次改为 2000 次 增加低频振动测试:位移参数量:5mm 取消 5.4 其它测试(电池充放电测试和电池内阻测试) 8.壳体可靠性项目(5.3.2 5.3.3 和 5.3.7)取消测试条件及 方法,增添指向壳体可靠性测试规范(QZ/LCT-ZC16-2009) 正气、进取、专业 质量体系文件 第 5 页 共 58 页 V6.3 2011.04.14 陈贯中 更新 1.自由跌落测试增加四个角的定向跌落 2.挂绳孔拉力测试中增加对拉断挂绳孔的要求 3.增加 USB 推力测试 4.增加 USB 外部逆插要求 5.增加按键拉拔力测试 6.增加高低温充电测试 7.SIM 卡寿命测试由 500 增加到 2000 8.存储卡寿命测试由 500 增加到 2000 9.重复跌落测试中增加侧面和顶部、底部的测试 10.人工汗液测试中增加酸性汗液的配方和测试(PH=4.7) 11.手写笔插拔测试增加对伸缩性手写笔的要求 12.增加 Mic 和 Receiver 的寿命测试 13.增加天线插拔测试 14.增加天线弯折测试 15.增加手写笔(天线)的拉力测试 16.增加加严测试项序列(可选测试项) 17.增加整机智能机测试项序列 18.增加完整可靠性测试项目归类 正气、进取、专业 质量体系文件 第 6 页 共 58 页 目 录 1、目的.................................................................................. 9 2、适用范围.............................................................................. 9 3、定义.................................................................................. 9 4、职责.................................................................................. 9 5、 可靠性试验测试方法和判定标准......................................................... 9 5.1 环境试验............................................................................. 9 5.1.1 低温储存测试....................................................................... 9 5.1.2 低温运行测试...................................................................... 10 5.1.3 冲击测试 .......................................................................... 11 5.1.4 低频振动测试 ...................................................................... 11 5.1.5 高温储存测试 ...................................................................... 12 5.1.6 高温运行测试 ...................................................................... 12 5.1.7 恒温恒湿测试 ...................................................................... 13 5.1.8 温度冲击测试...................................................................... 14 5.1.9 跌落测试 .......................................................................... 14 5.1.10 ESD 测试 ......................................................................... 15 5.1.11 盐雾测试 ......................................................................... 16 5.1.12 metal dome 手感测试 .............................................................. 17 5.1.13 高频振动测试 ..................................................................... 17 5.1.14 砂尘试验 ......................................................................... 18 5.1.15 人工汗液测试 ..................................................................... 18 5.2 寿命试验 ............................................................................ 19 5.2.1 翻盖寿命测试 ...................................................................... 19 5.2.2 滑盖寿命测试 ...................................................................... 19 5.2.3 按键/侧键测试 ..................................................................... 20 5.2.4 微动开关(hold 键等)寿命测试 ...................................................... 21 5.2.5 耳机(单功能)插拔测试 ............................................................ 21 5.2.6 笔插拔测试 ........................................................................ 22 5.2.7 充电器插拔测试 .................................................................... 22 5.2.8 电池/电池盖拆装测试 ............................................................... 23 5.2.9 SIM Card 拆装测试................................................................ 23 5.2.10 存储卡拆装测试 ................................................................... 24 5.2.11 speaker 寿命测试 ................................................................. 24 5.2.12 振动器寿命测试 ................................................................... 24 5.2.13 摄像头翻转测试 ................................................................... 25 正气、进取、专业 质量体系文件 第 7 页 共 58 页 5.2.14 待机时间测试 ..................................................................... 25 5.2.15 开关机键寿命测试 ................................................................. 25 5.2.16 触摸屏点击测试 ................................................................... 26 5.2.17 触摸屏划线测试 ................................................................... 26 5.2.18 EL 背光寿命测试 .................................................................. 27 5.2.19 LED 指示灯寿命测试 ............................................................... 27 5.2.20 五向键寿命测试 ................................................................... 27 5.3 机械测试 ............................................................................ 28 5.3.1 重复跌落测试 ...................................................................... 28 5.3.2 纸带磨擦(RCA)................................................................... 29 5.3.3 附着力(百格)测试 ................................................................ 29 5.3.4 胶塞拉力测试 ...................................................................... 29 5.3.5 堵头按压测试 ...................................................................... 29 5.3.6 酒精摩擦 .......................................................................... 29 5.3.7 铅笔硬度测试 ...................................................................... 30 5.3.8 手机抗压测试 ...................................................................... 30 5.3.9 挂绳孔拉力测试 .................................................................... 30 5.3.10 螺钉测试(ScrewTest) ............................................................ 31 5.3.11 滚筒跌落测试 ..................................................................... 31 5.3.12 软压测试 ......................................................................... 32 5.3.13 扭曲测试 ......................................................................... 33 5.3.14 钢球跌落测试 ..................................................................... 33 5.3.15 包装振动测试 ..................................................................... 34 5.3.16 包装跌落测试 ..................................................................... 34 5.3.17 触感键寿命测试 ................................................................... 35 5.3.18 USB 推力测试 ..................................................................... 36 5.3.19 USB 外部逆插 ..................................................................... 36 5.3.20 按键拉拔......................................................................... 36 5.3.21 高低温充电....................................................................... 37 5.3.22 Mic 和 Receiver 的寿命测试 ........................................................ 37 5.3.23 天线插拔测试..................................................................... 37 5.3.24 天线弯折测试..................................................................... 38 5.3.25 手写笔(天线)拉力测试 ........................................................... 38 6、 特殊加严测试序列(可选测试项,建议亚热带区域产品必做) .............................. 39 6.1 长周期湿热存储...................................................................... 39 6.2 翻/滑盖(湿热环境) ................................................................. 40 正气、进取、专业 质量体系文件 第 8 页 共 58 页 6.3 软压(湿热环境).................................................................... 40 6.4 Speaker 寿命(高温环境) ............................................................ 41 7.整机智能机测试序列.................................................................... 41 7.1 振动摩擦............................................................................ 41 7.2 硬压................................................................................ 41 7.3 LCM 挤压 ............................................................................ 42 7.4 结露测试............................................................................ 42 7.5 触摸屏点击(电容屏)................................................................ 43 7.6 触摸屏划线(电容屏)................................................................ 43 7.7 盐雾测试(电容屏).................................................................. 44 7.8 高温高湿(电容屏).................................................................. 44 7.9 铅笔硬度(电容屏) .................................................................. 44 7.10 Lens 耐摩(电容屏) ................................................................ 45 7.11 水雾干扰测试(电容屏) ............................................................... 45 7.12 低温运行(电容屏)................................................................. 45 8、可靠性测试实施计划................................................................... 46 9、不良等级分类细则:................................................................... 54 10、相关/支持性文件..................................................................... 58 11、质量记录............................................................................ 58 正气、进取、专业 质量体系文件 第 9 页 共 58 页 1、目的 为保证龙旗控股份设计、委托制造的手机及相关产品品质符合国家、行业、企业可靠性标准要求,特 制定此文件; 2、适用范围 本文件适用于龙旗控股设计、委托制造、采购的手机及相关产品(零部件)在研发、中试、量产阶段 的可靠性试验,由综合测试部负责实施; 3、定义 无 4、职责 4.1 可靠性测试工程师 4.1.1 研发阶段可靠性测试; 4.1.2 中试阶段可靠性测试; 4.1.3 参加可靠性分析会; 4.1.4 可靠性测试报告; 4.1.5 维护可靠性试验室; 4.2 可靠性测试技术员 4.2.1 拟定可靠性测试计划; 4.2.2 研发可靠性测试; 4.2.3 中试可靠性测试; 5、 可靠性试验测试方法和判定标准 5.1 环境试验 在做温度冲击、跌落、恒温恒湿、低温运行、高温运行、高频振动、软压、滚筒跌落、重复跌落、冲 击和扭曲测试前的手机先进行常温下的 RF 参数测试; 5.1.1 低温储存测试 5.1.1.1 测试目的:手机低温环境下的适应性; 5.1.1.2 测试条件:温度:-402、持续时间:16hrs; 5.1.1.3 测试数量:4pcs; 5.1.1.4 测试设备:高低温箱; 5.1.1.5 测试前检查项目:对手机进行全面外观、结构、功能检测; 5.1.1.6 测试方法: a. 存入 5 个电话,5 条短信息,设置手机时钟为当前日期时间;手机里存放 MP3,MPEG4; b. 一半手机带满电电池,不插卡,设置为关机状态;一半手机不放电池,放入高低温箱内,手机间 的间距大于等于 10cm,调节温度控制器到-40; c. 持续 16 个小时之后,在常温下放置 1~2 小时,然后进行外观、结构、功能检查; d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算; e. 对于翻盖手机,应将一半样品闭合为初始状态,一半样品打开到使用状态;对于滑盖手机,应将 正气、进取、专业 质量体系文件 第 10 页 共 58 页 一半样品滑开到上限位置; 5.1.1.7 检验标准:手机外观,结构,功能无异常; a. 功能检查:拨打电话,显示,铃声,振动,按键,扬声器,受话器,回音,指示灯,拍照,充电, 蓝牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常; b. 结构检查:装饰件,logo,LENS 等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象; c. 外观检查:壳体表面无裂纹以及其它与测试前状态不一致的现象; d. 样品内存,时钟无异常(内存无丢失;时钟无混乱,复位,超前,滞后等); 5.1.2 低温运行测试 5.1.2.1 测试目的:验证样机低温环境下的工作性能及传导的射频性能; 5.1.2.2 测试条件:温度:-202;持续时间:4hrs; 5.1.2.3 测试数量:4pcs (试验中 RF 测试 2pcs); 5.1.2.4 测试设备:高低温箱,CMU200/CMD55,延长射频线,稳压电源等; 5.1.2.5 测试前检查项目:对手机进行全面外观、结构、功能、RF 参数检测; a. 功能测试:拨打电话,显示,铃声,振动,按键,扬声器,受话器,回音,指示灯,拍照,充电, 蓝牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等级下的射频参数; b. 结构测试:壳体配合,结构件配合,天线,Lens,显示屏,装饰件以及其它未描述到的结构; c. 外观检测:喷漆,印刷,电镀等以及未描述到的外观; 5.1.2.6 测试方法 a. 存入 5 个电话,5 条短信息,设置手机时钟为当前日期时间;手机里存放 MP3,MPEG4; b. 手机带满电电池并插卡(测试 RF 参数时取下 SIM Card),设置为开机状态后,放入高低温箱内, 手机间的距离大于等于 10cm,调节温度控制器到-20,并将所测样机同 CMU200/CMD55 和电源连接好; c. 持续 1 小时后,使用稳压电源给待测手机供电,用延长射频线与 CMU200/CMD55 连接并进行通话, 在电压设置为 3.6V 和 4.2V 的情况下进行 RF 参数测试;并保存测试数据(测试方法:参照第一事业部整 机射频指标测试规范); d. 持续 4 个小时之后,在常温下放置 1~2 小时,然后进行外观、结构、功能检查; e. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算; f. 对于翻盖手机,应将一半样品闭合为初始状态,一半样品打开到使用状态;对于滑盖手机,应将 一半样品滑开到上限位置; 5.1.2.7 检验标准:手机外观,结构,功能无异常;RF 参数指标符合要求; a. 功能检查:拨打电话,显示,铃声,振动,按键,扬声器,受话器,回音,指示灯,拍照,充电, 蓝牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常; b. 结构检查:结构无异常(壳体无变形、配合缝隙无变大;转轴无松动或变紧,无异常手感等)以 及其它与测试前状态不一致的现象; c. 外观检查:样品外观无异常(表面喷漆、电镀无裂纹等)以及其它与测试前状态不一致的现象; d. 样品内存,时钟无异常(内存无丢失;时钟无混乱,复位,超前,滞后等); e. RF 参数符合规格要求(参考整机射频指标测试规范(TDMA 制式); 正气、进取、专业 质量体系文件 第 11 页 共 58 页 5.1.3 冲击测试 5.1.3.1 测试目的:用于验证手机的抗冲击性能及射频参数指标; 5.1.3.2 测试条件:加速度 25g,脉冲持续时间 6 ms ;波形: 正弦波;X、Y、Z 三个轴向各冲击 1000 次; 5.1.3.3 测试数量:8pcs(试验后 RF 测试 2pcs); 5.1.3.4 测试设备:电动振动系统; 5.1.3.5 测试前检查项目:对手机进行全面外观、结构、功能和及不同功率等级、不同信道的射频参 数; 5.1.3.6 测试方法: a. 存入 5 个电话,5 条短信息,设置手机时钟为当前日期时间;手机里存放 MP3,MPEG4; b. 将手机装上带满电电池,插上测试卡,设置为开机状态后,固定在振动台上夹紧;参数设置:加 速度 25 g,脉冲持续时间 6 ms ;波形: 正弦波;启动振动系统,X、Y、Z 六个轴向各冲击 1000 次, 每个轴向冲击后都要对手机进行外观、结构、功能检查; c. 所有检查完成后,使用稳压电源给待测手机供电,用射频线与 CMU/CMD 连接并进行通话,在电压 设置为 3.8V 的情况下进行 RF 参数测试(测试方法:参照第一事业部整机射频指标测试规范); 5.1.3.7 检验标准:外观、功能、结构正常;RF 参数指标符合要求; a. 功能检查:拨打电话,显示,铃声,振动,按键,扬声器,受话器,回音,指示灯,拍照,充电, 蓝牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常; b. 结构检查:无零件松动、脱落,晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象; c. 外观检查:外观无异常; d. 内存检查:样品内存,时钟无异常(内存无丢失;时钟无混乱,复位,超前,滞后等); e. RF 参数符合规格要求(参考整机射频指标测试规范(TDMA 制式)); 5.1.4 低频振动测试 5.1.4.1 测试目的:用于验证手机的抗振性能; 5.1.4.2 测试条件:5~20Hz,位移:5mm,X、Y、Z三个轴各 1h; 5.1.4.3 测试数量:8pcs; 5.1.4.4 测试设备:电动振动系统; 5.1.4.5 测试前检查项目:对手机进行全面外观、结构、功能检测; 5.1.4.6 测试方法: a. 存入 5 个电话,5 条短信息,设置手机时钟为当前日期时间;手机里存放 MP3,MPEG4; b. 将手机装上带满电电池,插上测试卡,设置为开机状态后,固定在振动台上夹紧。将振动参数设 置为 5~20Hz; c. 启动振动系统,X、Y、Z 三个轴向分别进行 1小时测试,每个轴向振动后都要对手机进行外观、结 构、功能检查; 5.1.4.7 检验标准: 外观、结构、功能无异常; a. 功能检查:拨打电话,显示,铃声,振动,按键,扬声器,受话器,回音,指示灯,拍照,充电, 正气、进取、专业 质量体系文件 第 12 页 共 58 页 蓝牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常; b. 结构检查:无零件松动、脱落,晃动无异常以及其它与测试前状态不一致的现象; c. 外观检查:外观无异常; d. 样品内存,时钟无异常(内存无丢失;时钟无混乱,复位,超前,滞后等); 5.1.5 高温储存测试 5.1.5.1 测试目的:手机高温环境下的适应性; 5.1.5.2 测试条件:温度:+702;持续时间:16hrs; 5.1.5.3 测试数量:4pcs; 5.1.5.4 测试设备:高低温箱; 5.1.5.5 测试前检查项目:对手机进行全面外观、结构和功能检测; 5.1.5.6 测试方法: a. 存入 5 个电话,5 条短信息,设置手机时钟为当前日期时间;手机里存放 MP3,MPEG4; b. 一半手机带满电电池,不插卡,设置为关机状态;一半手机不放电池,放入高低温箱内,手机间 的距离大于等于 10cm,调节温度控制器到+70; c. 持续 16 个小时之后,在常温下放置 1~2 小时,然后进行外观、结构和功能检查; d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算; e. 对于翻盖手机,应将一半样品闭合为初始状态,一半样品打开到使用状态;对于滑盖手机,应将 一半样品滑开到上限位置; 5.1.5.7 检验标准:手机外观,结构,功能无异常; a. 功能检查:拨打电话,显示,铃声,振动,按键,扬声器,受话器,回音,指示灯,拍照,充电, 蓝牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常; b. 结构检查:装饰件,logo,LENS 等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象; c. 外观检查:壳体表面无裂纹以及其它与测试前状态不一致的现象; d. 样品内存,时钟无异常(内存无丢失;时钟无混乱,复位,超前,滞后等); 5.1.6 高温运行测试 5.1.6.1 测试目的:验证样机高温环境下的工作性能及传导的射频性能; 5.1.6.2 测试条件:温度:+552;持续时间:4hrs; 5.1.6.3 测试数量:4pcs(试验中 RF 测试 2pcs); 5.1.6.4 测试设备:高低温箱,CMU200/CMD55,延长射频线,稳压电源等; 5.1.6.5 测试前检查项目: a. 功能测试:拨打电话,显示,铃声,振动,按键,扬声器,受话器,回音,指示灯,拍照,充电, 蓝牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能及不同信道、不同功率等级下的射频参数; b. 结构测试:壳体配合,结构件配合,天线,Lens,显示屏,装饰件以及其它未描述到的结构; c. 外观检测:喷漆,印刷,电镀等以及未描述到的外观; 5.1.6.6 测试方法: a. 存入 5 个电话,5 条短信息,设置手机时钟为当前日期时间;手机里存放 MP3,MPEG4; 正气、进取、专业 质量体系文件 第 13 页 共 58 页 b. 手机带满电电池并插卡,设置为开机状态后,放入高低温箱内,手机间的距离大于等于 10cm,调 节温度控制器到+55,持续 1 小时后,使用稳压电源给待测手机供电,用延长射频线与 CMU 连接并进行 通话,在电压设置为 3.6V 和 4.2V 的情况下进行 RF 参数测试(测试方法:参照第一事业部整机射频指标 测试规范); c. 持续 4 个小时之后,在常温下放置 1~2 小时,然后进行功能、结构、外观检查; d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算; e. 对于翻盖手机,应将一半样品闭合为初始状态,一半样品打开到使用状态;对于滑盖手机,应将 一半样品滑开到上限位置; 5.1.6.7 检验标准:手机外观,结构,功能无异常;RF 参数符合要求; a. 功能检查:拨打电话,显示,铃声,振动,按键,扬声器,受话器,回音,指示灯,拍照,充电, 蓝牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常; b. 结构检查:结构无异常(壳体无变形、配合缝隙无变大;转轴无松动或变紧,无异常手感等)以 及其它与测试前状态不一致的现象; c. 外观检查:样品外观无异常(表面喷漆、电镀无裂纹等)以及其它与测试前状态不一致的现象; d. 样品内存,时钟无异常(内存无丢失;时钟无混乱,复位,超前,滞后等); e. RF 参数符合要求(参考整机射频指标测试规范(TDMA 制式)); 5.1.7 恒温恒湿测试 5.1.7.1 测试目的:验证手机高温高湿环境下的适应性及传导的射频性能; 5.1.7.2 测试条件:+402,95%RH(+2%~-3%RH);持续时间:48hrs; 5.1.7.3 测试数量:8pcs(试验后 RF 测试 2pcs); 5.1.7.4 测试设备:恒温恒湿箱,CMU200/CMD55、延长射频线,稳压电源等; 5.1.7.5 测试前检查项目:手机进行全面外观、结构、功能检测及不同信道、不同功率等级下的射频 参数; 5.1.7.6 测试方法: a. 存入 5 个电话,5 条短信息,设置手机时钟为当前日期时间;手机里存放 MP3,MPEG4; b. 一半手机装上带满电电池,不插测试卡,设置为关机状态;一半手机不放电池,放入恒温恒湿箱 内,手机间的距离大于等于 10cm,调节温度控制器到+40,湿度控制为 95%RH; c. 持续 48 个小时之后,取出手机,在常温下放置 1~2 小时,然后进行外观、结构、功能检查,并使 用稳压电源给待测手机供电,用延长射频线与 CMU/CMD 连接并进行通话,在电压设置为 3.8V 的情况下进 行 RF 参数测试(测试方法:参照第一事业部整机射频指标测试规范); d. 测试时间以试验箱达到所需温度条件时开始计算; e. 对于翻盖手机,应将一半样品闭合为初始状态,一半样品打开到使用状态;对于滑盖手机,应将 一半样品滑开到上限位置; 5.1.7.7 检验标准:手机外观,结构和功能无异常;RF 参数符合要求; a. 功能检查:拨打电话,显示,铃声,振动,按键,扬声器,受话器,回音,指示灯,拍照,充电, 蓝牙,MINI SD 卡以及其它未描述到的功能正常; 正气、进取、专业 质量体系文件 第 14 页 共 58 页 b. 结构检查:装饰件,logo,LENS 等无开胶以及其它与测试前状态不一致的现象; c. 外观检查:壳体、lens 表面无明显掉漆,无裂纹,破损,冲击痕以及其它与测试前状态不一致的 现象; d. 样品内存,时钟无异常(内存无丢失;时钟无混乱,复位,超前,滞后等); e. RF 参数符合要求(参考整机射频指标测试规范(TDMA 制式)); 5.1.8 温度冲击测试 5.1.8.1 测试目的:验证样机高低温冲击下的材料性能,结构配合,装配、制成工艺等可靠性及传导 的射频性能; 5.1.8.2 测试条件:低温-402/1h,高温+802/1h;转换时间<=5min;12cycles ; 5.1.8.3 测试数量:8pcs(试验后 RF 测试 2pcs); 5.1.8.4 测试设备:温度冲击箱,CMU200/CMD55,射频参数,稳压电源等; 5.1.8.5 测试前检查项目: 手机进行全面外观和功能检测及不同信道、不同功率等级下的射频参数测 试; 5.1.8.6 测试方法: a. 存入 5 个电话,5 条短信息,设置手机时钟为当前日期时间;手机里存放 MP3,MPEG4; b. 一半手机带满电电池,不插卡,设置为关机状态;一半手机不放电池,放入低温箱内;手机间的 距离大于等于 10cm; c. 样机置于-40低温箱内持续 1小时后,在 5min 内迅速移入+80高温箱并持续 1小时后,再在 5min 内迅速回到低温箱。此为一个循环(一个循环用时 2 小时),共循环 12 次; d. 试验结束后将样机从高温箱中取出,在常温下放置 1~2 小时,然后进行外观、结构、功能检查; e. 所有检查完成后,使用稳压电源给待测手机供电,用延长射频线与 CMU200/CMD55 连接并进行通话, 在电压设置为 3.8V 的情况下进行 RF 参数测试(测试方法:参照第一事业部整机射频指标测试规范); f. 对于翻盖手机,应将一半样品闭合为初始状态,一半样品打开到使用状态;对于滑盖手机,应将 一半样品滑开到上限位置; 5.1.8.7 检验标准:手机外观,结构,功能

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