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OICT-33集成电路测试仪.doc

OICT-33集成电路测试仪

悲傷_難掩飾 2017-09-26 评分 0 浏览量 0 0 0 0 暂无简介 简介 举报

简介:本文档为《OICT-33集成电路测试仪doc》,可适用于工程科技领域,主题内容包含OICT集成电路测试仪操作指南开箱验机一按装箱单验收主机台三芯电源线根说明书份特殊器件测试板块连接电缆根保修单份二开机自检将电源线接于仪器后部插座内符等。

OICT集成电路测试仪操作指南开箱验机一按装箱单验收主机台三芯电源线根说明书份特殊器件测试板块连接电缆根保修单份二开机自检将电源线接于仪器后部插座内打开仪器的电源开关此时仪器应有以下反应:液晶显示屏显示“CHECP”并伴有一声高音提示。测试电源指示灯、FAIL指示灯亮。仪器进入自检状态:A自检正常有两声低音提示显示屏显示“PLEASE”可进行正常测试操作。B在仪器显示“PASS”、“FAIL”、“PLEASE”时可用“F”键来循环选择测试电压每按一次“F”键就更换一种测试电压确认后按其它任意键即可完成选择。C自检失败有两声低音提示显示“”数值。自检失效时不能进行各项操作此时请确认以下内容:a锁紧插座上无集成电路。b锁紧插座任意两脚之间无短路线。c电源电压在规定范围内。如果以上各点均正常即表明仪器损坏请及时与厂商联系。产品操作部件介绍一产品部件名称请见图一、图二。PASS指示灯FAIL指示灯显示屏电源指示灯主机锁紧插座控制棒锁紧插座键盘图一V电源插座散热孔备用电源正极电源开关备用电源负极图二二操作键功能:“O”~“F”键为数字键用于输入被测器件的型号、引脚数目及编辑状态时输入地址、数据。“代换查询”键为功能键。至少输入三位型号数字后输入该键才能被仪器接受。“好坏判别查空”键为复合功能键。若输入的型号为EPROM器件型号(即系列)则它使仪器对被测器件进行查空操作在其他型号时它使仪器对被测器件进行好坏判别。若第一次按下了数字键则至少要输入型号的三位数字后输入该键才能被接受若在没有输入器件型号的时候输入该键则仪器将按前一次输入的器件进行测试。此功能用于测试多只相同的器件。“型号判断”键为功能键在未输入任何数字的前提下输入该键才有效。“编辑退出”键为功能键它使仪器进入或退出数据编辑状态。“老化比较”键为复合功能键当输入型号为EPROM、EEPROM器件时该键的功能是将被测器件内部的数据与仪器内部的数据进行比较在其它型号时该键使仪器对被测器件进行连续老化测试。“读入”键为功能键当输入型号为EPROM、EEPROM器件时该键功能是将被测器件内部的数据读入到仪器内部并保存。“写入”键为功能键当输入型号为EPROM、EEPROM器件时该键功能是将仪器内部的数据写入到被测器件中并作自动比较。“清除”键为功能键当输入操作错误时可用该键结束操作或将已输入的型号清除重新输入新的型号。“F上”、“F下”键均为操作键仅在数据编辑状态下有效它使当前编辑的地址值自动加或减。三锁紧插座操作方法:OOICTC使用进口通用锁紧插座。锁紧插座有松开及锁紧状态。当操作杆竖立时为松开状态可取下或放上被测器件当操作杆平放时为锁紧状态可对器件进行测试。当处于锁紧状态时请勿放上或取下被测器件否则将损坏锁紧插座。基本操作(以测试LS为例)一开启电源:开启电源时锁紧插座上不能放有集成块否则将会损坏该集成块仪器自检将失效。二器件好坏判别:自检正常后显示PLEASE。输入显示。确认无误后将被测器件LS放上锁紧插座并锁紧如图三所示。图三按下“好坏判别”键。A若显示PASS并伴有高音提示表示器件逻辑功能完好黄色LED灯点亮。B若显示FALL同时有低音提示表示器件逻辑功能失效红色LED灯点亮。大多数器件测试时间极短但也有部分器件测试时间较长(例如存储器)测试过程中仪器不接受任何命令输入。三器件老化测试输入显示。将LS放上锁紧插座并锁紧按“老化”键仪器即对被测器件进行连续测试。此时键盘退出工作若用户想退出老化测试状态只要松开锁紧插座即可此时仪器将显示FAIL同时键盘恢复工作。对多只相同型号的器件进行分时老化时每换一只器件都要重新输入型号。四器件型号判别:将被测器件插于锁紧插座并锁紧按“型号判别“键仪器显示P请用户输入被测器件引脚数目如有只脚即输入仪器显示P。然后再按“型号判别”键。A若被测器件功能完好并且其型号在本仪器容量以内此时仪器直接显示被测器件的型号例如B若被测器件已损坏或其型号不在本仪器测试容量以内仪器将显示OFF并伴有低音提示随后再显示PLEASE。进行型号判别时输入的器件引脚数目必须是两位数若被测器件只有只引脚则要输入。当被测器件是EPROM、EEPROM时不能进行型号判别。由于本仪器是以被测器件的逻辑功能来判定其型号因此当各系列中还有其它逻辑功能与被测器件逻辑功能完全相同的其它型号时仪器显示出的被测器件型号可能与实际型号不一致这取决于该型号在测试软件中的存放顺序。出现这种现象时说明仪器显示的型号与被测器件具有相同的逻辑功能。五器件代换查询先输入原器件的型号如再按“代换查询”键。若在各系列内存在可代换的型号则仪器将依此次显示这些型号例如以后每按一次“代换查询”键就换一种型号显示直至显示NODEVCE。若不存在可代换的型号则直接显示NODEVCE。本仪器认为那些逻辑功能一致且引脚排列一致的器件为可互相代换的器件并未考虑器件的其它参数此功能请用户参考使用。编程操作此处所说编程操作是指将仪器内部数据写入到EPROM和EEPROM器件中的操作(写入操作)和将锁紧插座上的EPROM、EEPROM器件中的数据读入到仪器内部的操作(读入操作)。一全片读入操作全片读入即是将被测器件中的全部数据读入到仪器内部。将被测器件放上锁紧插座并锁紧。输入被测器件的型号按“读入”键此时仪器进入读存状态。读入完成后显示END。二部分读入操作部分读入即是将被测器件中的部分数据(非全部数据)读入到仪器内部。将被测器件放上锁紧插座并锁紧。输入被测器件的型号按“F上”键输入四位起始地址按“F下”键输入四位结束地址按“F上”键输入四位存放的起始地址再按“读入”键仪器即按指定地址进行读存读入完成后显示“END”。例:将EPROM器件中HEH的内容读入到仪器内部H开始的RAM中操作顺序为:FFEF读入。读入完成后被测器件中HEH的内容即被存放到仪器内部HEH的RAM中。部分读入操作过程中若有地址输入错误的情况请用“编辑退出”键来结束。三全片写入操作全片写入即是将被测器件全部空间写完。将擦除完毕的被测器件放于锁紧插座上并锁紧。输入被测器件的型号按“写入”键仪器显示UPL表示仪器默认的编程电压为档(V)编程速度为档(最高速)。若用户对这两个参数不作修改再次按“写入”键仪器即进行写入操作显示器显示变化的地址和数据。若用户对编程电压或编程速度要作修改再仪器显示UPL时按“F上”键显示UP表示修改编程电压此时输入新的编程电压档数即可(有效档V档V档V)。按“F下”键仪器显示“L”表示表示修改编程速度此时输入新的、编程速度档数即可(有效数字越大速度越低)。参数修改完成后再次按下“写入”键仪器即进入写入操作。写入完成后仪器自动进行校验若完全正确显示PASS若不正确显示比较出错的地址、数据然后再显示FAIL。四部分写入操作部分写入即是将被测器件的部分空间写入。将擦除完毕的被测器件放于锁紧插座上并锁紧。输入被测器件的型号按“F上”键输入四位起始地址按“F下”键输入四位结束地址按“F上”键输入被测器件的四位起始地址再按“写入”键显示UPL请参阅“全片写入”。例:将仪器内部RAM中H~FFFH的内容写到EPROM器件从H开始的地址中操作顺序:FFFFFF写入写入。操作过程中若地址输入有误请用“编辑退出”键来结束。五人工比较将被测器件放上锁紧插座并锁紧输入其型号再按“比较”键仪器自动将内部数据与被测器件中的数据进行比较完全正确时显示PASS不正确时先显示比较错误的地址、数据再显示FAIL。六EPROM器件查空操作将被测器件放在锁紧插座上并锁紧输入其型号按“查空”键仪器将对其进行查空检查若是空的(全为FF)显示EPY否则显示NOEPY。七对EEPROM器件进行写入操作时只需按一次“写入”键仪器即按固定速度进行写入。编辑操作编辑操作即是对仪器内部RAM中的数据进行修改的操作。一按“编辑退出”键仪器显示PED此时输入四位地址仪器将显示该地址的数据显示格式为:DDDDDD(DDDD为地址DD为数据)此时若要改变数据直接输入两位新数据即可。编辑方式时可用F、F键使地址值减一或增一若要重新输入新地址按“编辑退出”键仪器回到PED显示状态此时可输入新地址。二若要退出编辑状态可连续按“编辑退出”键仪器显示PLEASE。三编辑举例:设H、H、AH单元的内容分别是H、H、AFH现要改为H、BH、H操作顺序为:按“编辑退出”键显示PED输入四位地址显示输入两位新数据显示按“F下”键显示输入两位新数据B显示B按“编辑退出”键显示PED输入四位地址A显示AAF输入两位新数据显示A按两次“编辑退出”键显示PLEASE。其他操作在进行好坏判别和老化测试时第一次按下“好坏判别”或“老化”键后有可能出现下面三种特殊情况:一显示器显示并伴有长高音提示表示用户应将被测器件退后一格放上锁紧插座如图四所示锁紧后再次按下“好坏判别”或“老化”键。图四二显示器显示UCC数字并伴有长高音提示表示用户应将被测器件退后一格放在锁紧插座再用随仪器提供的连接插针将锁紧插座的第脚与被测器件的某一脚连通(该脚即是显示器显示的数字例如显示UCC即表示将锁紧插座之脚与被测器件的第脚连通)。如图五所示锁紧后再次按下“好坏判别”或“老化”键。图五三显示器显示OU数字并伴有长高音提示表示应将被测器件放到特殊器件测试板(随仪器提供)上进行测试。用户首先应将特殊器件测试板插到锁紧插座上再将被测器件插到测试板中与显示数字对应的插座上如图六所示放好后再次按下“好坏判别”或“老化”键。被测器件图六操作注意事项一输入器件型号时应省去字母及其它标记只输入数字由于各种原因少部分器件需输入的型号与实际型号将不一致请参见附录。二可测系列中仅CMOS、光耦、数码管系列可选择V、V测试电压其它系列只能选择V、V进行测试。型号判别时仅可选择V测试电压。三用万用表电压档可在仪器背部插孔内测量测试电压。四清除:当用户发现输入错误或误操作时按清除键显示即可重新输入。五当用户进行型号判别时被测器件的型号被判出后该型号仅供显示用并未存入仪器内部。若用户对该器件进行好坏判别或老化测试仍需输入一次型号。显示“OU或其他数字”时被测器件的安图六放方法示意图显示“OU或其他数字”时被测器件的安放方法示意图六在输入型号并按下“好坏判别”键后若显示OEE并伴有低音提示说明该器件未列入测试范围。七进行键盘操作时若仪器以高音回答说明操作有效`若以低音回答说明是误操作但任何误操作均不会损坏仪器。八安装被测器件时一定要注意其缺口方向和安放位置。九当测试一批器件结果均为“FALL”时请检查拔动开关是否在“OFF”位置选择的测试电压是否适当。十部分仪器开机时直接显示PASS、FAIL或其它数字需再次开机才能正常工作。仪器关机后必须等五秒以上才能再次开机否则仪器有可能不能复位。适用范围OOICTC具有以下用途:一用于维修各类电子产品判断其集成电路故障二用于各种智能仪器程序的复制、保存三新产品的开发、研制、调试四中小规模程序的调试五EPROM、EEPROM器件的复制、保存、组合六检验新购器件的质量七破译被抹去号码的集成电路的真实型号。OOICTC测试范围:一TTL、系列二TTL、系列三CMOS、、系列四光耦合器系列五LED系列六EPROM系列七EEPROM系列八常用单片机系列九常用RAM系列十常用微机外围电路系列十一其他常用系列。若用户使用了不在OOICT测试范围的器件只要它是数字器件用户只需提供所用器件的型号、逻辑资料和一只完好的器件我公司即可为之编制测试程序。物理性能一操作系统:二十位轻触式键盘多音提示操作。采用进口通用锁紧插座二输出系统:八位液晶显示器三只LED管声音提示三型号输入位数:OOICTC最多可接受六位型号数字输入四电源电压:交流电VHz五整机功耗:VA六编程电压:VVV七编程速度:档八外接保护电压:~V九适用温度:~十最大测试脚数:Pin十一测试规范:输入、输出短路测试功能测试输入高电平:V输入低电平:V输出高电平:V以上输出低电平:V以下。功能综述一器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时仪器可判断其好坏。二器件型号判别:当不知被测器件型号时仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。三器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时仪器可对其进行连续老化测试。四器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。五电压调节选择:V、V、V、V六内部RAM数据修改:OOICTC可从键盘对自己内部RAM中的数据进行随机修改。七EPROM、EEPROM器件读入:OOICTC可将K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。八EPROM、EEPROM器件写入:OOICTC可将内部RAM中的数据写入到K以内的EPROM、EEPROM器件中并自动校验。维修保养OICTC是精心设计和制造的以下建议将帮助你延长仪器的使用寿命使它运转自如与故障无缘。一仪器安装地点应避免潮湿、粉尘、阳光直射、发热装置及剧烈震动的场所。二仪器严禁进水或其他液体。万一进入请立即切断电源检修仪器。切勿将异物特别是金属物品掉入仪器散热孔内。三请勿将仪器放于温度高于的场合电源电压应在V以内。四为了延长锁紧插座的使用寿命操作是要轻巧被测集成电路引脚不能严重弯曲引脚上不能有杂物。当锁紧插座处于锁紧状态时切勿放上或取下集成电路。可测器件清单CMOS系列CMOSMC系列MC系列请输入与系列相对应的型号如MC为MC为其余以此类推。CMOS系列CMOSMC系列MC系列请输入与系列相对应的型号如MC为MC为其余以此类推。光耦合器系列(括号内的数值是实际输入的型号)N()N()N()N()N()N()N()N()N()N()N()N()N()N()N()N()N()N()TTL系列ATTL系列数码管系列吋共阳、共阴吋共阳、共阴吋共阳、共阴。常用RAM系列EEPROM系列EPROM系列微机外围电路系列ZOCTC(O)常用单片机系列其他系列MC()MC()MC()DGMC()MC()MC()TILMC()()T()AD欢迎咨询:()转WWWOITEKCOMCNEmail:zhouoitekcomcn传真:,,,,,,,,

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