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OICT-33集成电路测试仪

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OICT-33集成电路测试仪OICT-33集成电路测试仪 操 作 指 南 开箱验机 一. 按装箱单验收 主机 1台 三芯电源线 1根 说明书 1份 特殊器件测试板 1块 连接电缆 1根 保修单 1份 二. 开机自检 将电源线接于仪器后部插座内,打开仪器的电源开关,此时仪器应有以下反应: 1. 液晶显示屏显示“CHECP—” 并伴有一声高音提示。 2. 测试电源指示灯、FAIL指示灯亮。仪器进入自检状态: A. 自检正常,有两声低音提示,显示屏显示“PLEASE”,可进行正常测试操作。 B. 在仪器显示“PASS”、...

OICT-33集成电路测试仪
OICT-33集成电路测试仪 操 作 指 南 开箱验机 一. 按装箱单验收 主机 1台 三芯电源线 1根 说明 关于书的成语关于读书的排比句社区图书漂流公约怎么写关于读书的小报汉书pdf 1份 特殊器件测试板 1块 连接电缆 1根 保修单 1份 二. 开机自检 将电源线接于仪器后部插座内,打开仪器的电源开关,此时仪器应有以下反应: 1. 液晶显示屏显示“CHECP—” 并伴有一声高音提示。 2. 测试电源指示灯、FAIL指示灯亮。仪器进入自检状态: A. 自检正常,有两声低音提示,显示屏显示“PLEASE”,可进行正常测试操作。 B. 在仪器显示“PASS”、“FAIL”、“PLEASE”时,可用“F1”键来循环选择测 试电压,每按一次“F1”键就更换一种测试电压,确认后按其它任意键即可 完成选择。 C. 自检失败,有两声低音提示,显示“1—”数值。 , 自检失效时,不能进行各项操作,此时请确认以下 内容 财务内部控制制度的内容财务内部控制制度的内容人员招聘与配置的内容项目成本控制的内容消防安全演练内容 : a. 锁紧插座上无集成电路。 b. 锁紧插座任意两脚之间无短路线。 c. 电源电压在规定范围内。 如果以上各点均正常,即 关于同志近三年现实表现材料材料类招标技术评分表图表与交易pdf视力表打印pdf用图表说话 pdf 明仪器损坏,请及时与厂商联系。 产品操作部件介绍 一. 产品部件名称请见图一、图二。 PASS指示灯 FAIL指示灯 显示屏 电源指示灯 主机 锁紧插座控制棒 锁紧插座 键盘 图一 - 1 - 220V电源插座 散热孔 备用电源正极 电源开关 备用电源负极 图二 二. 操作键功能: 1. “O”~“F”键为数字键,用于输入被测器件的型号、引脚数目及编辑状态时输入地址、 数据。 2. “代换查询”键为功能键。至少输入三位型号数字后,输入该键才能被仪器接受。 3. “好坏判别/查空”键为复合功能键。若输入的型号为EPROM器件型号(即27系列), 则它使仪器对被测器件进行查空操作;在其他型号时,它使仪器对被测器件进行好坏判 别。若第一次按下了数字键,则至少要输入型号的三位数字后,输入该键才能被接受; 若在没有输入器件型号的时候输入该键,则仪器将按前一次输入的器件进行测试。此功 能用于测试多只相同的器件。 4. “型号判断”键为功能键,在未输入任何数字的前提下输入该键才有效。 5. “编辑/退出”键为功能键,它使仪器进入或退出数据编辑状态。 6. “老化/比较”键为复合功能键,当输入型号为EPROM、EEPROM器件时,该键的功 能是将被测器件内部的数据与仪器内部的数据进行比较;在其它型号时,该键使仪器对 被测器件进行连续老化测试。 7. “读入”键为功能键,当输入型号为EPROM、EEPROM器件时,该键功能是将被测器 件内部的数据读入到仪器内部并保存。 8. “写入”键为功能键,当输入型号为EPROM、EEPROM器件时,该键功能是将仪器内 部的数据写入到被测器件中,并作自动比较。 9. “清除”键为功能键,当输入操作错误时,可用该键结束操作,或将已输入的型号清除, 重新输入新的型号。 10. “F1/上”、“F2/下”键均为操作键,仅在数据编辑状态下有效,它使当前编辑的地址值 自动加1或减1。 三. 锁紧插座操作方法: OOICT—33C使用进口通用锁紧插座。锁紧插座有松开及锁紧状态。当操作杆竖立 时,为松开状态,可取下或放上被测器件;当操作杆平放时,为锁紧状态,可对器件进 行测试。当处于锁紧状态时,请勿放上或取下被测器件,否则将损坏锁紧插座。 基本操作(以测试74LS00为例) 一. 开启电源: 开启电源时,锁紧插座上不能放有集成块,否则将会损坏该集成块,仪器自检将失效。 二. 器件好坏判别: 1. 自检正常后,显示PLEASE。 2. 输入7400,显示7400。 3. 确认无误后,将被测器件74LS00放上锁紧插座并锁紧,如图三所示。 图三 - 2 - 4. 按下“好坏判别”键。 A. 若显示PASS,并伴有高音提示,表示器件逻辑功能完好,黄色LED灯点亮。 B. 若显示FALL,同时有低音提示,表示器件逻辑功能失效,红色LED灯点亮。 5. 大多数器件测试时间极短,但也有部分器件测试时间较长(例如存储器),测试过 程中仪器不接受任何命令输入。 三. 器件老化测试 1. 输入7400,显示7400。 2. 将74LS00放上锁紧插座并锁紧,按“老化”键,仪器即对被测器件进行连续测试。 此时键盘退出工作,若用户想退出老化测试状态,只要松开锁紧插座即可,此时仪 器将显示FAIL,同时键盘恢复工作。 3. 对多只相同型号的器件进行分时老化时,每换一只器件都要重新输入型号。 四. 器件型号判别: 1. 将被测器件插于锁紧插座并锁紧,按“型号判别“键,仪器显示P,请用户输入被 测器件引脚数目,如有14只脚,即输入14,仪器显示P14。 2. 然后再按“型号判别”键。 A. 若被测器件功能完好,并且其型号在本仪器容量以内,此时仪器直接显示被测 器件的型号,例如 7400 B. 若被测器件已损坏,或其型号不在本仪器测试容量以内,仪器将显示OFF,并 伴有低音提示,随后再显示PLEASE。 3. 进行型号判别时输入的器件引脚数目必须是两位数,若被测器件只有8只引脚,则 要输入08。 4. 当被测器件是EPROM、EEPROM时,不能进行型号判别。 5. 由于本仪器是以被测器件的逻辑功能来判定其型号,因此当各系列中还有其它逻辑 功能与被测器件逻辑功能完全相同的其它型号时,仪器显示出的被测器件型号可能 与实际型号不一致,这取决于该型号在测试软件中的存放顺序。出现这种现象时, 说明仪器显示的型号与被测器件具有相同的逻辑功能。 五. 器件代换查询 先输入原器件的型号,如7400,再按“代换查询”键。 1. 若在各系列内存在可代换的型号,则仪器将依此次显示这些型号,例如7403,以后 每按一次“代换查询”键,就换一种型号显示,直至显示NODEVCE。 2. 若不存在可代换的型号,则直接显示NODEVCE。 3. 本仪器认为那些逻辑功能一致且引脚排列一致的器件为可互相代换的器件,并未考 虑器件的其它参数,此功能请用户参考使用。 编程操作 此处所说编程操作,是指将仪器内部数据写入到EPROM和EEPROM器件中的操作(写入操作)和将锁紧插座上的EPROM、EEPROM器件中的数据读入到仪器内部的操作(读入操作)。 一. 全片读入操作 全片读入即是将被测器件中的全部数据读入到仪器内部。 1. 将被测器件放上锁紧插座并锁紧。 2. 输入被测器件的型号,按“读入”键,此时仪器进入读/存状态。读入完成后,显示 END。 二. 部分读入操作 1. 部分读入即是将被测器件中的部分数据(非全部数据)读入到仪器内部。 - 3 - 2. 将被测器件放上锁紧插座并锁紧。 3. 输入被测器件的型号,按“F1/上”键,输入四位起始地址,按“F2/下”键,输入 四位结束地址,按“F1/上”键,输入四位存放的起始地址,再按“读入”键,仪器 即按指定地址进行读/存,读入完成后显示“END”。 4. 例:将EPROM器件27512中0100H—E000H的内容读入到仪器内部0200H开始的 RAM中,操作顺序为:27512?F1?0100?F2?E000?F1?0200?读入。读入完成 后,被测器件27512中0100H—E000H的内容即被存放到仪器内部0200H—E100H 的RAM中。 5. 部分读入操作过程中,若有地址输入错误的情况,请用“编辑/退出”键来结束。 三. 全片写入操作 1. 全片写入即是将被测器件全部空间写完。 2. 将擦除完毕的被测器件放于锁紧插座上并锁紧。 3. 输入被测器件的型号,按“写入”键,仪器显示UP1—L1,表示仪器默认的编程电 压为1档(12.5V),编程速度为1档(最高速)。若用户对这两个参数不作修改, 再次按“写入”键,仪器即进行写入操作,显示器显示变化的地址和数据。 4. 若用户对编程电压或编程速度要作修改,再仪器显示UP1-L1时,按“F1/上”键, 显示UP-,表示修改编程电压,此时输入新的编程电压档数即可(1-3有效,1档 12.5V,2档21V,3档26V)。按“F2/下”键,仪器显示“L—”,表示表示修改编 程速度,此时输入新的、编程速度档数即可(1-9有效,数字越大,速度越低)。参 数修改完成后,再次按下“写入”键,仪器即进入写入操作。 5. 写入完成后,仪器自动进行校验,若完全正确,显示PASS;若不正确,显示比较 出错的地址、数据,然后再显示FAIL。 四. 部分写入操作 部分写入即是将被测器件的部分空间写入。 1. 将擦除完毕的被测器件放于锁紧插座上并锁紧。 2. 输入被测器件的型号,按“F1/上”键,输入四位起始地址,按“F2/下”键,输入 四位结束地址,按“F1/上”键,输入被测器件的四位起始地址,再按“写入”键, 显示UP1—L1,请参阅“全片写入”。 3. 例:将仪器内部RAM中700H~2FFFH的内容写到EPROM器件27512从0100H开 始的地址中,操作顺序:27512?F1?0700?F2?2FFF?F1?0100?写入?写入。 4. 操作过程中若地址输入有误,请用“编辑/退出”键来结束。 五. 人工比较 将被测器件放上锁紧插座并锁紧,输入其型号,再按“比较”键,仪器自动将内部数据与被测器件中的数据进行比较,完全正确时显示PASS,不正确时先显示比较错误的地址、数据,再显示FAIL。 六. EPROM器件查空操作 将被测器件放在锁紧插座上并锁紧,输入其型号,按“查空”键,仪器将对其进行查空检查,若是空的(全为FF),显示EPY,否则显示NOEPY。 七. 对EEPROM器件进行写入操作时只需按一次“写入”键,仪器即按固定速度进行写入。 编辑操作 编辑操作即是对仪器内部RAM中的数据进行修改的操作。 一. 按“编辑/退出”键,仪器显示PED—,此时输入四位地址,仪器将显示该地址的数据, 显示格式为:DDDD——DD(DDDD为地址,DD为数据)此时若要改变数据,直接 输入两位新数据即可。编辑方式时可用F1、F2键使地址值减一或增一,若要重新输入 - 4 - 新地址,按“编辑/退出”键,仪器回到PED—显示状态,此时可输入新地址。 二. 若要退出编辑状态,可连续按“编辑/退出”键,仪器显示PLEASE。 三. 编辑举例:设0782H、0783H、A890H单元的内容分别是37H、64H、AFH,现要改为 42H、B7H、08H,操作顺序为: 1. 按“编辑/退出”键,显示PED—; 2. 输入四位地址0782,显示0782——37; 3. 输入两位新数据42,显示0782——42; 4. 按“F2/下”键,显示0783——64; 5. 输入两位新数据B7,显示0783——B7; 6. 按“编辑/退出”键,显示PED—; 7. 输入四位地址A890,显示A890——AF; 8. 输入两位新数据08,显示A890——08; 9. 按两次“编辑/退出”键,显示PLEASE。 其他操作 在进行好坏判别和老化测试时第一次按下“好坏判别”或“老化”键后,有可能出现下面三种特殊情况: 一. 显示器显示1—2,并伴有长高音提示,表示用户应将被测器件退后一格放上锁紧插座, 如图四所示,锁紧后,再次按下“好坏判别”或“老化”键。 图四 二. 显示器显示UCC—数字,并伴有长高音提示,表示用户应将被测器件退后一格放在锁 紧插座,再用随仪器提供的连接插针将锁紧插座的第40脚与被测器件的某一脚连通(该 脚即是显示器显示的数字,例如显示UCC—5,即表示将锁紧插座之40脚与被测器件 的第5脚连通)。如图五所示,锁紧后,再次按下“好坏判别”或“老化”键。 图五 三. 显示器显示OU—数字,并伴有长高音提示,表示应将被测器件放到特殊器件测试板(随 仪器提供)上进行测试。用户首先应将特殊器件测试板插到锁紧插座上,再将被测器件 插到测试板中与显示数字对应的插座上,如图六所示,放好后再次按下“好坏判别”或 “老化”键。 - 5 - 被测器件 图六 操作注意事项 一. 输入器件型号时,应省去字母及其它标记,只输入数字,由于各种原因,少部分器件需 输入的型号与实际型号将不一致,请参见附录。 二. 可测系列中,仅CMOS、光耦、数码管系列可选择9.0V、15V测试电压,其它系列只 能选择3.3V、5.0V进行测试。型号判别时仅可选择5.0V测试电压。 三. 用万用表电压档可在仪器背部插孔内测量测试电压。 四. 清除:当用户发现输入错误或误操作时,按清除键,显示00000000,即可重新输入。 五. 当用户进行型号判别时,被测器件的型号被判出后,该型号仅供显示用,并未存入仪器 内部。若用户对该器件进行好坏判别或老化测试,仍需输入一次型号。 显示“OU—2[或其他数字]”时被测器件的安图六放方法示意图 显示“OU—2[或其他数字]”时被测器件的安放方法示意图 六. 在输入型号并按下“好坏判别”键后,若显示O—E—E,并伴有低音提示,说明该器 件未列入测试范围。 七. 进行键盘操作时,若仪器以高音回答,说明操作有效`;若以低音回答,说明是误操作, 但任何误操作均不会损坏仪器。 八. 安装被测器件时,一定要注意其缺口方向和安放位置。 九. 当测试一批器件结果均为“FALL”时,请检查拔动开关是否在“OFF”位置,选择的 测试电压是否适当。 十. 部分仪器开机时直接显示PASS、FAIL或其它数字,需再次开机才能正常工作。仪器关 机后,必须等五秒以上才能再次开机,否则仪器有可能不能复位。 适用范围 OOICT—33C具有以下用途: 一. 用于维修各类电子产品,判断其集成电路故障; 二. 用于各种智能仪器程序的复制、保存; 三. 新产品的开发、研制、调试; 四. 中小规模程序的调试; 五. EPROM、EEPROM器件的复制、保存、组合; 六. 检验新购器件的质量; 七. 破译被抹去号码的集成电路的真实型号。 OOICT—33C测试范围: 一. TTL74、54系列; 二. TTL75、55系列; 三. CMOS40、45、14系列; 四. 光耦合器系列; 五. LED系列; 六. EPROM系列; - 6 - 七. EEPROM系列; 八. 常用单片机系列; 九. 常用RAM系列; 十. 常用微机外围电路系列; 十一. 其他常用系列。 若用户使用了不在OOICT—33测试范围的器件,只要它是数字器件,用户只需提供所用器件的型号、逻辑资料和一只完好的器件,我公司即可为之编制测试程序。 物理性能 一. 操作系统:二十位轻触式键盘多音提示操作。采用进口通用锁紧插座; 二. 输出系统:八位液晶显示器,三只LED管,声音提示; 三. 型号输入位数:OOICT—33C最多可接受六位型号数字输入; 四. 电源电压:交流电220V?15%,50Hz; 五. 整机功耗:15VA; 六. 编程电压:12.5V,21V,36V; 七. 编程速度:9档 八. 外接保护电压:+4.5~6V; 九. 适用温度:0~40?; 十. 最大测试脚数:40Pin; 十一. 测试规范:输入、输出短路测试;100%功能测试;输入高电平:4.8V;输入低电 平:0.1V;输出高电平:2.8V以上;输出低电平:0.7V以下。 功能综述 一. 器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏。 二. 器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。 三. 器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。 四. 器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。 五. 电压调节选择: 3V、5V、9V、15V 六. 内部RAM数据修改:OOICT—33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。 七. EPROM、EEPROM器件读入:OOICT—33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件 内的数据进行读入并保存。 八. EPROM、EEPROM器件写入:OOICT—33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内 的EPROM、EEPROM器件中,并自动校验。 维修保养 OICT—33C是精心 设计 领导形象设计圆作业设计ao工艺污水处理厂设计附属工程施工组织设计清扫机器人结构设计 和制造的,以下建议将帮助你延长仪器的使用寿命,使它运转 自如,与故障无缘。 一. 仪器安装地点应避免潮湿、粉尘、阳光直射、发热装置及剧烈震动的场所。 二. 仪器严禁进水或其他液体。万一进入,请立即切断电源,检修仪器。切勿将异物特别是 金属物品掉入仪器散热孔内。 三. 请勿将仪器放于温度高于50?的场合;电源电压应在220V?15%以内。 四. 为了延长锁紧插座的使用寿命,操作是要轻巧,被测集成电路引脚不能严重弯曲,引脚 上不能有杂物。当锁紧插座处于锁紧状态时切勿放上或取下集成电路。 - 7 - 可 测 器 件 清 单 CMOS40系列 4000 4001 4002 4006 4007 4008 4009 4010 4011 4012 4013 4014 4015 4016 4017 4018 4019 4020 4021 4022 4023 4024 4025 4026 4027 4028 4029 4030 4031 4032 4033 4034 4035 4038 4039 4040 4041 4042 4043 4044 4045 4047 4048 4049 4050 4051 4052 4053 4054 4055 4056 4060 4061 4063 4066 4067 4068 4069 4070 4071 4072 4073 4075 4076 4077 4078 4081 4082 4083 4085 4086 4089 4093 4094 4095 4096 4097 4098 4099 40100 40101 40102 40103 40104 40105 40106 40107 40108 40109 40110 40147 40160 40161 40162 40163 40164 40174 40175 40176 40192 40193 40194 40195 CMOSMC140系列 MC140系列请输入与40系列相对应的型号,如MC14013为4013,MC140195为40195,其余以此类推。 CMOS45系列 4501 4502 4503 4504 4506 4508 4510 4511 4512 4513 4514 4515 4516 4517 4518 4519 4520 4521 4522 4526 4527 4528 4529 4530 4531 4532 4534 4536 4537 4538 4539 4541 4543 4544 4547 4549 4551 4553 4554 4555 4556 4557 4558 4559 4560 4561 4562 4566 4568 4569 4572 4580 4581 4582 4583 4584 4585 4597 4598 4599 CMOSMC145系列 MC145系列请输入与45系列相对应的型号,如MC14513为4513,MC145195为45195,其余以此类推。 - 8 - 光耦合器系列(括号内的数值是实际输入的型号) 507 5072 5073 617 627 637 521-1 521-2 521-3 521-4 621 622 624 036 3111 817 827 837 847 810 812 818 5112 504 880 885 066 074 829 849 2008 2009 2018 2019 504 614 714 509 519 532 632 503 613 713 508 531 027 034 836 212 830 831 836 026 210 570 111 112 113 114 115 116 117 118 723 5121 270 271 272 273 274 275 276 277 017 075 703 631 535 068 815 835 845 733 618 551 505 515 525 825 725 855 860 865 230 855 860 865 230 231 255 119 571 011 715 716 890 850 4N45(445) 4N46(446) 4N36(436) 4N37(437) 4N25(425) 4N26(426) 4N27(427) 4N29(429) 4N30(430) 4N31(431) 4N32 (432) 4N33(433) 4N38(438) 4N32(432) 4N33(433) 4N38(438) 4N28(428) 4N35(435) TTL74/54系列 74/5400 74/5401 74/5402 75/5403 74/5404 74/5405 74/5406 74/5407 74/5408 74/5409 75/5410 74/5411 74/5412 74/5413 74/5414 74/5415 74/5416 75/5417 74/5418 74/5419 74/5420 74/5421 74/5422 74/5423 75/5424 74/5425 74/5426 74/5427 74/5428 74/5430 74/5431 75/5432 74/5433 74/5434 74/5435 74/5437 74/5438 74/5439 75/5440 74/5441 74/5442 74/5443 74/5444 74/5445 74/5446 75/5447 74/5448 74/5449 74/5450 74/5451 74/5453 74/5454 75/5455 74/5460 74/5463 74/5464 74/5465 74/5468 74/5469 75/5470 74/5472 74/5473 74/5474 74/5475 74/5476 74/5477 75/5478 74/5480 74/5436 74/5458 74/5481 74/5482 74/5483 75/5484 74/5485 74/5486 74/5489 74/5490 74/5491 74/5492 75/5493 74/5494 74/5495 74/5496 74/5497 74/54100 74/54104 74/54105 74/54107 74/54109 74/54110 74/54111 74/54112 74/54113 74/54114 74/54116 74/54121 74/54122 74/54123 74/54125 74/54126 74/54128 74/54131 74/54132 74/54133 74/54134 74/54135 74/54136 - 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12 - EPROM系列 2716 2732 2764 27128 27256 27512 微机外围电路系列 8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC(8O2) 常用单片机系列 8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752 其他系列 2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506 欢迎咨询: (010)62178811转308 WWW.OITEK.COM.CN E-mail: zhou@oitek.com.cn 传真:,,,,,,,, - 13 -
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