GBT 26140-2010 无损检测 测量残余应力的中子衍射方法

ICS19．100 J04 a园 中华人民共和国国家标准 GB／T26140—2010／ISO／TS21432：2005 无损 检测 工程第三方检测合同工程防雷检测合同植筋拉拔检测方案传感器技术课后答案检测机构通用要求培训 测量残余应力的中子衍射方法 Non—destructivetestiⅡg— Standardstestmethodfordeterminingresidualstresses byneutrondiffraction 2011—01—14发布 (IS0／TS21432：2005，IDT) 2011-10-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局者龠 中国国家标准化管理委员会8 111 目 次 GS／T26140—2010／[SO／巧21432：2005 前言 ·⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯-⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ·⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ Ⅲ 引言⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯Ⅳ 1范围⋯⋯⋯⋯⋯-·-·⋯···⋯·⋯·⋯⋯⋯··⋯⋯· ·-··⋯⋯⋯ ⋯ ． ．⋯．．1 2 规范 编程规范下载gsp规范下载钢格栅规范下载警徽规范下载建设厅规范下载 性引用文件⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯·⋯⋯⋯⋯⋯⋯-⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯1 3术语和定义 ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯1 4符号和缩略语· ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯4 5方法概要 ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯6 6测量准备 ·⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯～lo 7材料表征⋯⋯⋯⋯⋯·⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯ ⋯ ⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯14 8记录要求和测量过程⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ · ⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯． ⋯⋯⋯⋯⋯⋯．15 9应力计算⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯ 17 10结果可靠性⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯ ⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯．⋯19 11报告⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ · ⋯ ·····⋯···· · ⋯⋯ ·⋯⋯⋯··19 附录A(资料性附录)测量过程⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯ ⋯⋯·21 附录B(资料性附录)被测物理量不确定度的测定⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯ ⋯ ⋯26 参考文献⋯⋯ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯ ⋯ ⋯ ⋯ 28 刖 罱 6B／T26140—2010／ISO／TS21432=2005 本标准等同采用ISO／TS21432：2005{无损检测测量残余应力的中子衍射方法》(英文版)。 本标准等同翻译IsO／TS21432：2005。 为便于使用，本标准作了如下修改： ——“本国际标准”一词改为“本标准”； ——删除国际标准的前言} ——将国际标准1SO／TS21432：2005／Cor．1：2008(E)技术勘误纳人本标准； ——用GB／T1 1 2000规定的引导语代替国际标准中的引导语} ——勘误了国际标准图1中图例2和图例3的错误，互换了图例2和图例3的内容； ——勘误了国际标准图2中对散射角的表述错误，将20"修改为2口，相应的图例1也修改为2日； ——勘误了国际标准图8c)中SGV质心的标示错误，将“O”改为“x”} ——勘误了国际标准附录A．5．1中的引用错误，将A．4．4改为A．4．5。 本标准附录A和附录B为资料性附录。 本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC／TC56)提出并归口。 本标准起草单位：中国工程物理研究院核物理与化学研究所、上海泰司检测科技有限公司、上海诚 友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、上海材料研究所。 本标准主要起草人：陈波、孙光爱、黄朝强、熊智明、金宇飞。 GB／T26140一2010／lSO／TS21432=2005 引 言 中子衍射是一种测定晶体材料残余应力和外施应力的无损检测方法，可用于测定材料内部和近表 面的应力，测量时将样品或工程部件运送到中子源处，测量得到弹性应变，然后再转换为应力。本标准 制定的目的是为工程应用中应力的可靠测定提供技术规范。 GB／T26140一2010／琏o／Ts21432：2005 无损检测 测量残余应力的中子衍射方法 警告：本标准不涉及任何安全问 题 快递公司问题件快递公司问题件货款处理关于圆的周长面积重点题型关于解方程组的题及答案关于南海问题 ，即使有任何这方面的内容，也是与其应用有关。适用的安全和 健康行为规范由本标准的用户建立，并在使用本标准时加以遵守。 1范围 本标准规定了中子衍射测量多晶材料残余应力的方法。本标准适用于均匀和非均匀材料以及含不 同晶相的块状样品检测。 本标准简要介绍了中子衍射技术的原理，测量不同种类材料时对应采用的衍射晶面给出了建议，为 如何选择与被测材料晶粒尺寸和应力状态有关的测量方向和待测体积提供了指导。 本标准描述了准确定位和校正中子束内检测部位的过程，目的是在测量时能够准确定义样品材料 的取样体积。 本标准描述了标定中子衍射装置需要注意的问题，介绍了获取无应力参考值的技术方法； 本标准详细描述了中子衍射测量各种弹性应变的方法，阐明了结果分析和确定统计相关性的过程， 对如何从应变数据获得可靠的残余(或外施)应力，以及如何评价结果的不确定度提出了建议。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成 协议 离婚协议模板下载合伙人协议 下载渠道分销协议免费下载敬业协议下载授课协议下载 的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 EN139253无损检测多晶和非晶材料的x射线衍射第3部分：仪器 3术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。 3．1 吸收absorption 中子被原子核俘获。 注：原子棱俘获截面表可以在此网址及其连接处查阅：http：／／www．webelementscorn。 3．2 校正alignment 装置所有单元部件和样品的摆放与取向调整，目的是能够对样品的待铡位置进行可靠的中子衍射 应变测量。 3．3 备向异性anisotropy 材料特性对取向的依赖性。 3 4 衰减attenuation 中子强度的减弱。 注：衰减可用包古吸收和不同枝散射过程的“中子总截面”计算，衰减长度是中子在材料内部强度减少至1／e倍时 的距离． 】 GB／T26140一2010llSOITS21432：2005 3．5 本底background 不属于衍射信号的强度。 注：经常有依赖于散射角或飞行时问的本底，并在数据分析中影响衍射峰的位置。 3．6 限束光学系统beamdefiningoptics 为确定中子束性能(如：中子波长、强度分布、发散度和形状)所安置的设备。 注：这些设备包括孔径、狭缝、准直器、单色器和反射镜。 3．7 布拉格边braggedge 中子强度随波长或衍射角的突然改变，对应关系为A--2dnⅥr，这里^名’f’代表衍射晶面 3．8 布拉格峰braggpeak 对应特定(hkl)晶面的衍射强度分布。 3．9 峰高peakheight 扣除本底后布拉格峰的最大强度。 3．10 峰形函数peakfunction 描述衍射线形状的解析表达式。 3．12 3．13 3 14 315 316 峰位peakposition 描述布拉格峰位置的数值 注：峰位是计算应变的奂定量 衍射diffraction 基于干涉现象的散射 衍射弹性常数diffractionelasticityconstants 多晶材料中与各自(hkl)晶面有关的弹性常数。 注：通常称为弹性常数，可表示为Eu(衍射弹性模量)和岫(衍射泊橙比) 衍射谱diffractionpattern 能够得到的波长或飞行时间和／或散射角范围内散射中子的分布 半高宽fullwidthathalfmaximum FWHM 扣除本底后衍射峰高一半处的宽度。 全谱分析fullpatternanalysis 从测得多晶材料的衍射谱确定多晶的晶体结构和／或微结构。 注：垒谱分析通常根据使用方法命名(例如：里特扶尔禧精修)，单峰分析也是如此 317 318 5．19 3．20 3 2 3 22 3 23 3．24 3．25 3．26 3 27 规范体积gaugevolume 获得衍射数据的体积。 注：这个体积由人射柬和衍射柬交叉部分确定 GB／T26140一2010／lSO／TS21432：2005 昌格参数latticeparameters 晶体学单胞的线性尺寸和角度。 注：大多数工程材料具有立方或六方晶体学结构，因此，晶格参数通常仅是指单胞的边长 晶格间距latticespacing d间距dspacing 相邻晶面之问的距离。 宏观应力merostress 第一类应力typeI stress 包含大量晶粒的体积的平均应力 注：也称为第一娄应力。 微观应力microstress 宏观应力限定体积内的平均应力偏差。 注：有两类截观应力： ——晶牲或相尺度上测定的宏观应力平均偏差(也称为第二类应力 ——几个原子尺度上第二类应力的平均偏差(也称为第三类应力)。 单色装置monochromaticinstrument 利用很窄中子能量(波长)段的中子装置 单色中子束monochromaticneutronbeam 具有很窄能量(波长)段的中子束。 取向分布函数orientationdistributionfunction 晶体学织构的定量描述。 注：取向分布函数对于计算织构材料的弹性常数是必需的 多色中子柬polychromaticneutronbeam 在一定范围内具有连续能量(波长)的中子束 参考点referencepoint 装置规范体积的质心。 注：见6 5。 可复现性reproducibility 相同被测物理量在改变测量条件后所得铡量结果之间的一致性程度。 EVIM：1993] 注1：可复现性的有教陈述要求具有条件改变说明，包括：铡量原理、测量方法、观测人、涮量装置、参考标样、位置 3 GB／T26140一201011SOlls21432：2005 使用条件和时间。 注2：可复现性可以根据结果的离散特征定量表示。 拄3：本标准所用结果通常认为是正确的结果。 328 散射scattering 相干散射coherentscattering 中子在有序散射中心产生的干涉相长或相消的散射。 3．29 非相干散射incoherentscattering 中子以一种互不相关的方式进行散射。 3．30 单峰分析singlepeakanalysis 测量衍射数据中对单峰和本底特征进行统计分析的过程。 3．31 织构texture 样品内晶体(晶体学织构)或强化(形态学织构)的择优取向。 3 32 穿过表面扫描throu【ghsurfacescan 确定样品表面或界面位置的过程。 注：有时也称为表面扫描或强度扫描，而扫描结果常被祢为进^曲线。 3 33 飞行时间time-of-flight 一定速度(能量或波长)的中子穿行从定义起点到探测器之间距离所需要的时间。 3 34 测量不确定度uncertaintyofmeasurement 表征合理地赋予被测量量之值的分散性，与测量结果相联系的参数。 [VIM：1993] 注1：例如，这个参数可能是一个标准偏差(或是它的倍数)，或是具有既定可信度区间的半宽度。 注zt测量不确定度通常由许多因素组成。其中一些因素可由一系列涮量结果的统计分布评价，用实验的标准偏 差表征；另外一些因素也可“利用标准偏差表征，其评价基于经验或其他信息的假定几宰分布。 注3；铡量结果被理解为测量值的最佳估计，所有不确定度因紊．包括那些来自系统效应的．如矫正和参考标准方 面的园褰，都对俯差有贡献。 注4：不确定度需区别于测量准确度，测量准确度会受系统偏差影响。 335 壁扫描wallscall 见3．32。 4符号和缩略语 4．1符号 a、b、c 单胞的边长，这里是指晶格参数 nm B 在峰位处的本底 d 晶格间距 Ⅱm e 能量 E 弹性模量 GPa 与(hkl)衍射晶面有关的弹性模量 应变梯度 普朗克常数 晶体学晶面指数 六方结构可选用的晶体学晶面指数 峰高 扣除本底后布拉格峰的中子积分强度 入射和散射中子的波矢 从中子源到探测器的路径长度 中子衰减长度 中子质量(1_67×10_27kg) 记录中子总数 散射矢量(如t。) 从源到探测器的中子飞行时间 温度 标准不确定度 样品坐标轴 热膨胀系数 参数的改变或变化 弹性应变 弹性应变张量分量 (hkl)衍射晶面相关的正弹性应变 中子波长 泊松比 与(hkl)衍射晶面相关的泊松比 应力 应力张量分量 屈服应力 衍射角 方位角 表示晶体学晶面指数 表示有关量沿z洲Y 轴方向的分量 表示有关量在(咄。)方向的法向分量 表示有关量的无应变值 表示有关量的参考值 43缩略语 PSD 位置灵敏探测器 TOF 飞行时间 IGV 装置规范体积 NGV 标称规范体积 SGV 样品规范体积 GB／T26140—2010／ISO／TS21432：2005 GPa mml J·s nnl‘ m mm kg nm1 ℃或K K MPa MPa MPa (。) (。) b宇。。川删H，蛐L；％M Q。下。一。。。钿钆。，岫。如‘船一体一一缈㈣ 2 GB／T26140一2010ITSOITS21432：2005 5方法概要 51导盲 本标准主要涉及工程分析中残余或外施应力的测定问题，方法是通过中子衍射测量晶体学平面之 间的晶格间距，从晶格间距的改变，导出弹性应变，然后根据应变计算应力。通过平移被测样品或部件 穿过中子柬，可以测得不同位置的应变，提供不同位置的应力。本章将简要介绍应变的测量过程。 5．2原理概述——布拉格定律 当晶体材料受到与其晶面间距相近波长的射线照射时，射线将被衍射从而形成特定的布拉格峰，衍 射线产生的角度由布拉格衍射定律给出： 2d“lsln巩H=^ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯(1) 式中： ^——射线波长； dⅢ——产生布拉格峰的(hkl)晶面间距； 日眦——布拉格角。 衍射峰观察位置与人射束成2钆角，如图1所示。 53中子源 中子衍射利用的中子由裂变或散裂产生，前者主要是见于稳态核反应堆，后者是脉冲散裂源。两种 情况产生的中子能量都要慢化至热中子范围，即波长^≥0．09nm。在反应堆源上，通常利用晶体单色 器从多色中子束中选出特定波长的中子；在散裂源上，中于束通常由一系列含有不同渡长中子的短脉冲 组成，每个中子的能量(也即波长)可根据中子飞行至探测器的距离和飞行这段距离所用的时间[称为飞 行时间(TOF)]确定。因此，飞行时间是测量波长(有时称为能散)与在任意特定散射角记录的整个衍 射谱之间的关系。多色中子短脉冲可利用一个或多个斩波器将连续中子或长脉冲斩断得到。 54应变测量 当样品受到已知波长的单色平行中子柬照射时，它的晶格间距可根据布拉格定律公式(1)得到。样 品无应变时，晶格间距对应于材料的无应变(无应力)值，定义为d。m有应力的样品中，晶格间距改变 并且每一个布拉格峰都将偏移，弹性应变可表示为：sm=訾一舞一酱一， 在飞行时间装置(应用飞行时问的仪器)上，具有一定速度(也即波长)范围的中子脉冲直接到达样 品，测量中子的飞行时间￡，由德布罗意关系可计算它们的波长： “嘉“ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯“3) 将公式(3)代人布拉格定律公式(1)，特定波长和晶体平面的对应飞行时间变成： tⅢ=21孕．L-sin0．dⅢ ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯(4) 探测器放在2口角处。 由于入射中子是多色的，记录了所有与应变测量方向垂直的晶面反射，每个反射产生于不同的晶粒 族，使得特定的(hkl)平面衍射至探测器。弹性应变可根据任何反射的飞行时间偏移计算，描述方式类 似于公式(2)，只是2口角是固定的：em=急一訾一生≮导m⋯⋯⋯⋯⋯⋯cs， 需要指出的是同时记录多个晶面反射有利于利用多蜂拟合或全谱分析方法分析数据(见6．3．2)。 6 CB／T26140—20IOI[SOITS21432：2005 对于单色和飞行时间装置，应变测量的方向沿着散射矢量方向，即Q-kr—k，该矢量在入射束和衍 射柬中间并垂直于衍射平面，如图1所示。 55中子衍射仪 反应堆源上用于测量应变的典型单色装置如图2所示。首先，用合适的单色器反射多色中子束得 到特定静单色渡长，然后利用限束光学系统对这种单色中子柬进行空间限定，得到所需尺寸的束流，这 种束流经样品衍射后被中子探测器捕获。在单色装置上获得的衍射峰如图3所示。 飞行时间衍射仪主要用在脉冲源上，每个脉冲都给出一个跨越大范围晶格间距的衍射谱。脉冲源 上可同时在两个方向进行应变测量，典型的飞行时间装置见图4。由于散射角固定，散裂源上的许多装 置使用了径向(聚焦)准直器，这比利用狭缝系统能够获得更大的立体角，然而这需要保证大多数被探测 中子来自于确定的规范体积(见65)。根据不同角度位置将探测器各个单元获得的信号合并，带径向 准直器的两个或更多的探涮器可以同时测量多个Q(应变)方向。在这种装置上获得的典型衍射谱 见图5，图中也显示了里特沃尔德蜂形精修的结果，该方法是利用最小二乘法将晶体学模型结构与衍射 数据进行拟合(见6．3．2)。 56应力确定 应力和弹性应变是通过固体的弹性常数相联系的二阶张量，由于中子衍射可以测量晶体一定体积 内的弹性应变，如果相关弹性常数已知，便可以计算相应体积内的平均应力。完全确定应变张量需要铡 量至少六个独立方向的弹性应变；如果主应变方向已知．沿三个方向测量就足够了}在平面应力或平面 应变情况下，则可能进一步减少为两个方向；对于单轴加载的情况，仅需要测量一个方向。 样品内的应力和应变通常依赖方向和位置，这就需要在多个位置和方向测量应变}相应地，也就需 要准直中子柬与探测器准确地定位样品，实现方法通常是靠样品台的平移或转动。 顺序地移动样品通过入射束和衍射束相交所形成的空间体积(称为规范体积，见6．5)，改变弹性应 变空间和测量不同方向，可以绘制样品或部件内的应力分布图。 l——衍射渡矢‘ 2——散射矢量Q 3——^射波矢k． 4——衍射平面。 图1布拉格散射几何示意图 GB／T26140一2010／ISO／1s21432：2005 1——从源出射的中于柬； 2——单色器； 3——限定^射束的光路系统和屏蔽 4——样品I 5——规范体积} 6——探潞器； 7——限定衍射柬的光路系统和屏蔽 8——柬流阻挡器。 图2基于稳态源的应变测量衍射仪示意图 Q——散射矢量 2p教射自。 X——2州(。)； y——中子计数。 图3利用高斯分布拟合的基于反应堆(稳态源)衍射位测量的布拉格峰 GB／T26140—2010／ISO／1s21432：2005 Q——散射矢量．右探测器 口’——散射矢量，左探铡器 1——从源出射的中子束} 2——右探测器； 3——径向准直器 4——样品； 5——规范体积； 6——左探穗器； 7——柬流阻挡器 图4基于脉冲源的飞行时间应变测量衍射倪示意图 阔5产生于脉冲源的衍射潜——实线是6．3．2所描述的里特沃尔德方法的拟合结果 曲 ∞ ∞ ∞ ∞ ∞ O GB／T26140—2010llSOITS21432：2005 6测量准备 6．1导言 在实际测量应变之前，需要校正装置和／或验证装置是否已校正，然后选择合适的衍射测量条件，将 样品准确地放置在衍射装置上，同时也需要确定规范体积的尺寸和形状，估计待测应变所对应的d间 距值。 6．2装置的校正与标定 校正和标定所使用的衍射装置是十分必要的(参见A4．4)。使用单色束装置时，要确保在整个测 量过程中波长保持不变和探测器的角度响应已标定(参见EN139253中的附录c)。对于飞行时间装 置，飞行路径和探测器角度响应都应标定。这两类装置的标定都采用无应力样品，典型的有硅、二氧化 铈或氧化铝粉末，之所以选用这类样品是因为它们能够较好地衍射中子，具有已知且准确的晶格参数， 并且内禀衍射峰宽小。对于飞行时间装置，若要得到强度信息．则需确定入射中子注量率及探测器效率 与波长之间的函数关系，其中一种办法就是使用非相干散射体，例如：钒。 6．3衍射条件选捧 6．3．1单色装置 6 3 1 1波长选择 在单色装置上，用户需要从可选的波长范围内根据具体实验要求确定所用的中子波长，实验中所选 波长和衍射平面应该使衍射角在90。附近。如果波长接近样品内衍射平面d间距的2倍，将会因“布拉 格边”产生衍射谱变形，从而引起衍射峰的伪偏移，参考文献[1]列出了应变测量中几种常用金属的“问 题”波长。对于立方材料，特另Ⅱ应该避免使用90。散射角，因为对所有的(hkl)衍射晶面，都有对应引起布 拉格边效应的(^’^川1)。 实验测量的有效性依赖于以下参数：所选波长对应的入射束强度、衍射中子强度、峰宽和所研究衍 射峰与相邻峰之间的分离程度。由于以上这些因素，选择远离90。的衍射角比接近90。的可能更合理。 6．3．1．2衍射晶面选择 由于材料的弹性和塑性各向异性．不同的(hkl)平面对宏观应力场的响应可能也不同1]，这可以通 过在中子衍射装置上安装拉力棒原位加载和卸载并测量应力和应变来显示，如图6和图7。图中展示 了拉力棒上加载单元记录的应力和中子衍射测量的弹性应变之间的关系。 显然，在弹性区域内，用于测量的任何晶面都是线性响应的，见图6，表明在这个区域内，只要选择 了合适的衍射弹性常数，任何(hkl)晶面都可以用于应力测定。一般来讲，这里的弹性常数既不是体弹 性常数也不是单晶值，而是对应于特定(hkD晶面的多晶集合值。这些常数可以用实验的方法获得，如 图6所示，也可以计算得到(见第9章)，计算方法包括Reuss嘲、Voigt[“、Neerfeld-Hillc扎Ⅲ和自治方 法，倒如Kroner。7o。通常Neerfeld-Hill方法能提供可毒的近似，并且比自治方法更容易实现。赊使用 的方法外，晶体织构也需要加以考虑，关于织构重要性的讨论可参见文献[8]和[9]。 对不同取向的晶粒，塑性变形开始时加载单元记录的应力值也不同，表现在加载时是非线性响应而 卸载时是线性的弹性响应，如图7所示。在这个区域卸载至零外力时，对每个(hkl)晶面会测量到不同 的残余弹性应变，通常称为晶间应变。如果试验棒上没有剩余加载，根据平衡条件，也应当没有工程(宏 观)残余应力，此时任何晶体学平面的残余应变都将会转换为残余应力。因此，对于工程残余应变测量， 选择在卸载时为基本无残余应变的晶面是非常重要的[例如：图7中的(220)或(331)晶面]。 如果不知道合适的(hkl)晶面，或检验新材料，需要在塑性区域使用拉力棒以确定合适的晶面，如 图7所示。 在一些情况下需要并适合采用晶闻应变影响强的(hkl)晶面，但这种情况下要对晶问应变进行补 偿。其中一种办珐就是在所研究样品上取下小片，对其测量获得d。值，这种小片要求足够小，不包含宏 观应力“⋯。表1列出了几种材料晶间应变影响强和弱的(hkl)晶面。 】o GB／T26140--2010／lSO／TS21432：2005 寰1 不同对称性材料中对晶间应变敏盛性强和弱的晶面举例 材料 对晶间应变敏感性弱的晶面 对晶问应变敏感性强的晶面 fcc(NiEl“、Fe叫，CuEl。1)、 fee(AlEl‘][1“、NiE2]) bec(FeEl5]) 0002(基面) hop(zfl“、TiEⅢ) 1012、1013(锥面) 1010、1210(柱面) hcp(B9181) 2021、1122(次级锥面) lOT2、10i3<基面，柱面和初级锥面) 口——111 o——311 ●——峰形精修 △——抵抗应变 x——应变； y——应力／MPa 圄6镍基台金不同晶面的弹性响应嘲 +峰形精任⋯卸载。 x——应变；y——应力／MPa。 图7镍基合金不同晶面对拉力棒加载和卸载的屈服效应。 GB／T26140—20lOImOITS21432：2005 6．3．2飞行雕间装置 在飞行时间装置上可同时记录许多衍射峰，因此，可以像在单色装置(见63．1)上所描述的选用一 个或多个各自的(hkl)晶面计算应变，也可以选用更多的衍射峰利用里特沃尔德精修程序进行全谱分 析o⋯。后一种情况是根据定义单胞尺寸的晶格参数改变计算得到应变，研究表明这种方珐可以测量得 到拉力棒上卸载后仅剩百分之几塑性应变时很小的残余应力，并适合工程上残余应力的期l量唧咖1(见 图7)。 对于晶格参数为‰的立方材料，可得应变为：PaGo ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯(6) d0 式中晶格参数d的数值从全谱分析得到[它代替了公式(2)中的晶格问距胡。对于非立方材料，需 要选择合适的应变参数，例如：对于无织构的六方材料，应变￡可表示为： 。：堡±§ 式中‰和￡。是分别由晶格参数a和c决定的应变，计算方式与公式(6)相同H”。 6 4定位过程 初始校正过程需要确定IGV质心的位置[见6．5和图8b)]，这个位置就是所有实验测量的参考点， 在理想情况下，它应该是样品台的旋转中心。 精确的样品定位过程描述见A．2，精确程度虽依赖于测量的种类，但通常要求是在士01mm以 内。在应变梯度很大和近表面测量时，高定位精度是很重要的。测量时明确定位不确定度是非常重 要的。 装置校正可以用光学或机械方法，也可以用穿过表面扫描的方法(参见A2 3)，这三种方法都能实 现样品边缘和中子束之间01mm不确定度的定位。 6．5规范体积 标称规范体积(NGV)的定义为平行的入射和衍射中子束穿过限定孔径(例如：狭缝、准直器)后相 交部分所占的空间体积[图8a)]，标称规范体积的质心是这个体积的几何中心(见6．4)。 对使用径向准直器的装置，标称规范体积概念的定义与上述相同，但是每个径向准直狭缝都对它有 影响。 装置规范体积(IGV)是实际中子束通过限柬孔后所形成的空间体积，考虑了束流发散和流强度分 布[图8b)]，确定IGV的方法通常是扫描一个很小的探针(参见A．4．1)，根据衍射束强度的半高宽确定 IGV的尺寸，任何具体过程都需要详细说明。 在取样体积很小情况下，IGV和NGv可能会有明显的不同，需要指出的是IGV和NGv都表示衍 射仪自身的性能。 最后，样品规范体积(SGV)是IGV和所研究样品之间的交叉部分[见图8c)]．它是获得平均应变的 实际体积，这个平均主要受以下几个方面影响； ——所研究样品的相部分填充装置规范体积{ ——中子柬在样品内的衰减； ——中子束的波长和强度分布。 基于以上原因，SGV质心相对1GV质心的不同位置如图8e)所示。 l——孔径； 2——人射中子束 l——孔径} 2——^射中于束} 3一一装置规范体积 1——孔径； 2——^射中子柬； 3——装置规范体积 GB／T26140—2010／ISO／TS21432：2005 一I 3——标称规范体积； 4——中子强度分布谱 4——中子盟度分布谱 5——参考点； 6——样品。 圈8平面示意围--a)标称b)装置c)样品规范体积，“∥裹示NGV和IGV的质心 “x”寰示SGV的质心，IGV的质心就是参考点 GB／T26140—2010／ISO／TS21432．2005 每次测量都要确定SGV及其质心，平均应变的位置就是SGV质心的强度加权位置，在报告中说明 应变测量的这个位置是很重要的。研究表面、界面和强衰减材料时，强度分布效应是非常明显的。对 SGV质心偏离参考点导致结果的讨论参见A．4．5和A．5。 6．6无应变或参考晶格间距测定 衍射测量就是要确定晶格间距，为了测量弹性应变，就需要有一个测定应变的晶格间距参考值。有 些情况下，是可能测定无应变晶格间距d。的，而在另外一些情况下，仅能确定参考晶格问距d一(也就是 其他测量能够比对的晶格间距)。需要指出的是只有根据d。计算了应变才能得到实际的应力值，因此， 只有无法得到函时才考虑利用d一。 除了应力和装置误差外，还有一些晶格间距影响因素，其中最重要的就是化学成分和温度，要根据 实际应用情况选择确定d。的合适方法，主要包括： ——测量材料内可忽略应力的部分； ——测量能够代表被测材料的粉末，这种方法特别适合于多相材料； ——测量从大块材料上切下的小条，这适合手焊接，因为利用许多穿过焊接部位的小条能够确定 d。的间距和方向变化o”} ——通过力平衡和力矩平衡计算d。，这种方法适合于do没有变化的样品部位能够进行足够的测 量，建议尽可能使用这种方法，这种平衡主要用于检验一致性； ——通过保证垂直于自由表面的应力为零计算d。，这仅适合d。在远离表面时没有改变，而且能够 实现准确近表面应变测量的情况。 需要注意的是应该避免在制备“无应力”材料时引入残余应力或在加工过程中改变微结构。 7材料表征 7．1导言 与被测样品或部件有关的热和机械处理过程都会影响材料的残余应变状态、应变状态的测量和应 变应力的转换。测量时对这些方面都应该加以说明，其中大多数都列在了下面。有些情况下，应开展 初步衍射测试用于建立研究的大致信息，例如；这种信息可用于估算衍射的弹性常数、束流衰减、衍射柬 强度、本底强度以及与放射性活化有关的问题。 7．2成分 表明化学成分和处理过程的标准材料标识可用于选择适当的实验条件，对于多相材料(含混合物) 而言，其化学成分、百分比、取向和各相形态的影响在应力测定时都应该予以考虑。 7 3热／力学历程 设计 领导形象设计圆作业设计ao工艺污水处理厂设计附属工程施工组织设计清扫机器人结构设计 实验时应考虑塑造、成形或连接样品的处理过程，包括热处理。当测量服役后的部件时，可能 与以前的使用条件也有关。 7．4相和晶体结构 被测舍金、陶瓷和混合物的相应该是已知的，并明确测量相的晶体学结构。 7．5均匀性 成分分布或相分布的空间改变与实验有关，可能影响到与实际测量位置的一致性，以及测量结果对 整个样品或部件是否具有代表性。尤其是微结构或成分的不均匀性还会引起无应力晶格间距随样品或 部件内测量位置的改变而改变(见6．6)。 7．6微结构 规范体积内的晶粒数对测量衍射谱的质量非常重要，太尺寸的晶粒或复合强化会导致不同衍射峰 强度的涨落，这种涨落通常说明参与衍射的晶粒数量不够。因此，晶粒尺寸同规范体积和待测应力分布 问的关系应当明确。 14 GB／T26140—2010／iso／Ts21432：2005 7．7织构 晶体学织构会影响衍射峰的强度和应变一应力转换，如果材料确实因处理或使用过程产生了织构 应该对织构进行表征。 8记录要求和测量过程 8．1导亩 有三个参数需要以合适的精度测定：a)应变’b)应变测量方向和c)测量点在样品中的位置。需要 记录足够充分的信息，以便能够理解、评价和复现实验方法和数据分析。关于本章补充的详细资料参见 附录A和附录B。 8．2记录要求 通常，应当提供项目题目、相关研究人员、测量日期和以下信息。 8 2．1基本信息——装置 装置相关信息： ——装置负责人； ——中子掠和位置，装置的名称和型号} ——温度及变化} ——人射和衍射束的光学部件，对于狭缝，应该指出其高度和宽度，以及到参考点的距离；对于径向 准直器，应该提供聚焦长度、鞴片的长度和厚度、隔片问的夹角、所有的孔径尺寸和振荡参数。 单色装置参数： ——单色器的类型，使用的晶体和反射面，探测器的类型，单色器到参考点的距离，探测器到参考点 的距离； ——波长及其测定方法； ——垂直和水平规范强度分布谱(如果对于测量十分重要)； ——探测器分辨率。 飞行时间装置参数： ——飞行路径总长度L，探测器到参考点的距离，探测器盼类型，探测器的角度范围； ——波长范围及其测定方法； ——垂直和水平规范强度分布谱(如果对于测量十分重要)； ——数据分析中所用的布拉格峰数或d间距范围； ——时间分辨和道宽； ——随波长变化的入射强度。 8．2．2基本信息——样品 样品相关信息： ——样品材料，化学组分、晶体结构； ——标有尺寸、参考标记或参考位置以及坐标系的样品图。 823每个应变测量所需的细节信息 应当记录并得到所有的原始数据和这些数据的处理方法。 与具体测量有关的信息： 对单色装置： ——峰位2口山及不确定度； ——无应变时晶面的峰位zoo．圳(或参考峰位2％，Ⅲ)及不确定度。 对飞行时间装置： ——飞行时间fⅢ或全谱分析时的晶胞参数及不确定度； GB／T26140—2010／ISO／TS214322005 ——无应变时晶面的飞行时间t㈨I(或参考飞行时间f⋯)或全谱分析时的晶胞参数及不确定度。 对所有装置： ——与散射矢量Q有关的样品取向及不确定度； ——与参考点有关的样品和规范体积位置及不确定度； ——应变及不确定度} ——d间距测量及不确定度(如果需要绝对值)。 对单峰拟合： ——角度或时间增量} ——采用峰形函数和获得的参数，包括； ·FWHM及不确定度； ·蜂高H或积分强度I及不确定度} ●率底B及不确定度。 对多峰拟合或全谱分析(如里特沃尔德精修方法)： ——峰谱和相关参数包括： ·宽度与波长或衍射角的函数关系； ·峰形的不对称性。 ——本底拟合方式。 ——关于如何考虑织构和弹塑性各向异性的描述， 8．3样品坐标系 应当明确样品内测量位置和方向的坐标系，如果样品形状和／或主应力方向已知，应当与它们关联。 注：对绝大多数形状规则的样品或部件，适合根据其对称性特点采用直角或极坐标系。 8．4样品定位 样品定位要根据装置参考点确定(见6．4)。样品坐标系的方向应与定义Q的坐标系相关联，尽量 准确地确定参考点位置，参见A2。 8．5测量方向 为了确定应力／应变张量，通常要沿至少六个独立的方向进行测量。然而，沿任意三个正交坐标轴 (如样品坐标系)钡I量便可得到应力张量的三个法向分量，因此，可以在主应力方向未知和不超过三个独 立方向测量的情况下获得到应力的重要信息(见5．6)。 8．6测量点的数目和位置 测量点的数目和位置与所要求的应变细节有关，与所研究部位的形状和尺寸有关，与规范体积的尺 寸有关。 对有些待检测位置，需要中子柬在样品内穿越较长的距离，此时，为了能够实现测量可能需要切除 部分材料。 参见A．3。 87规范体积 规范体积由入射束和衍射束上的束流限定光路系统以及束流的方向与发散度确定。规范体积的选 择与待测部位的形状和尺寸有关，同时也与材料参数(如：晶粒尺寸和衰减长度)有关，参见A．4。 8．8规范体积质心 SGV质心位置需要根据装置的束流发散和衰减确定，扫描表面和界面时需要特别加以注意．参见 A．5。 89温度 测量时应对样品的温度进行监视和控制，目的是让晶胞尺寸相对应变的测量不确定度变化很小，或 在分析时能够予以说明，参见A．7。 16 GB／T26140—2010llSolTs214322005 9应力计算 9．1导盲 中子衍射方法测量弹性应变，进而计算应力。同x射线衍射一样，测量的只能是正应变，剪应变和 应力应当通过计算得到。 基本上所有衍射方法研究应力和应变都是基于连续力学，利用胡克定律计算应力。如6．3所述，唯 一不同就是采用了特定的衍射弹性常数而不是所有晶粒的平均，因此，广义胡克定律中的平均弹性常数 可以被简单地替换为衍射弹性常数(EⅢ，‰)。各向同性材料应力的计算过程描述见9．2～9．4。 9．2正应力测定 某点的正应力可由沿该点正交坐标轴z，y和z方向测量的应变计算，此时，应力可表示为： ％一百干五寅}=吾面[(1一‰)8一十‰(‰+‰)]⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯“(8) 一”一百币赢“一揣 vⅢ)e。+vⅢ(k+#。)]⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯(9) vⅧ)e；+vⅢ(s。+￡。)]⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯(10) 当坐标轴与主变形方向一致时，这些正应力就是主应力。 在平面应力情况时，其中一个应力(称为％)为o，方程可简化为 “一if皇各k似矗 ％一i当D[‰¨。] 对￡。；o的平面应变情况，通过将s。一。代人公式(8)、公式(9)和公式(10)可得到％和％的表达 式，此时，％变为： ％一。Ⅲ(口。+口。) ⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯⋯”(13) 任意测量点应力的确定都需要在该点测量足够取向的应变。 9．3应力状态的测定 主应力方向未知时，为了确定规范体积内的应变状态，至少需要测量六个独立取向的应变。应力分 量可由测量的正应变e种计算得到，公式如下： e一一(!壬半)[：：菡：：：举芝：妄：；赛Z：；朝一嚣c“+“+“，⋯c·t， 公式(14)中的下标xy，】【z和yz分别对应剪应力分量，角度如图9所示。 此时，需要能够选择六个测量方向，并使它们之间有尽可能大角度。 9 3．1 si小，法 如果样品中待测位置的一个主方向已知，例如=方向，则可以采用sin29法。这种情况下，剪切应 力％和％为0，公式(14)得到简化．这时将可以计算x_y平面内给定方向的正应力％和由公式(14)简 化得到的％之差： s-t=!—i惹盟(％一％)stn2重一兰[—一+％+％]+!—吉≯屯⋯⋯⋯⋯(15) 式中： 咋一d。cos29+％sln2尹+％sin2P 由于公式(15)中，期望值(％一屯)是si一雪的线性函数，该方法常被称为“sin2P法”，并广泛应用于 传统的x射线衍射应力测定o“。霉的范围越宽，测定的应力越可靠，当有些方向不能测量时，这种方法 是很有用的。 H H 面 面 2 —2 GS／T26140—2010／ISO／TS214322005 9．4弹性常数选择 公式(8)～公式(15)都需要衍射弹性常数(Ehu，vⅧ)。正如6．3所述，只有特定情况下才可能使用 通常力学方法所测定的宏观弹性模量和泊橙比，因为衍射弹性常数往往依赖于化学成分、其他相的含量 和／或晶胞缺陷(如：塑性形变后的位错)，因此，此时的弹性常数更倾向于使用通过单轴加载衍射实验获 得的数值01，具有晶体学织构时，衍射弹性常数是依赖于取向的，因此，应该在足够多的方向上开展这 种单轴加载衍射实验。如果无法获得实验数据，则应利用合适的模型进行估算啪巾]，见6．3。 如果没有合适的衍射弹性常数，可以通过单轴加载实验测定，但是由于化学成分、相体积分数、织 构、微结构，甚至温度都可能影响弹性性能，因此，应仔细确保单轴加载和所研究的样品具有相同的材料 特性。同样，两次检验也应该具有相同的实验条件，并建议使用相同的数据处理方法(比如：单峰拟合)。 如果通过全谱拟合计算弹性应变，对无织构的立方和六方相样品可以利用“宏观”的E和v值。 样品有织构时，应修正这些计算。织构越强越陡，弹性常数修正也越多。对所有的晶体学系统，织 构问题都可以通过测量所谓的取向分布函数(ODF)并将其引人到衍射弹性常数的计算中进行考虑o]。 9．5数据分析 采用适当的数学函数对实验数据进行拟合便可以得到布拉格峰位。这种数学函数拟合衍射谱的峰 形，也包括本底，应注意的是应变测定的准确度可能受下述和附录中各项不恰当考虑的影响。 9．5．1峰形拟台函数 在单色束时，峰位通常由高斯函数拟合实验数据获得。 对于散裂源，峰形本身是非对称的，拟合一般采用指数衰减函数和Voigt函数的卷积。 在获得多峰衍射谱时，可以采用全谱分析法计算得到应变，如里特沃尔德精修方法o”(参 见A．6．3)。 9 52本底函数 本底函数的拟合依赖于装置的设置和中子源的类型，因为本底斜率是随衍射角或飞行时间变化的 函数，峰位可能与其相关联，对这种情况要特别注意。除非本底可以单独确定，一般建议采用固定斜率。 如果本底不是常数，对拟合函数及其参数应当予以说明。 9 5．3峰-底比 随着峰高H与本底B比值的下降，特别是当本底不为常数时，区分本底拟台对峰位的影响就更加 困难。 9．5．4畸变峰形 除非采用了适当的修正，应慎重处理由于峰形叠加、样品效应(如：材料的不均匀性和层错)或仪器 效应引起的衍射峰形畸变。研究多相材料时重叠峰往往不可避免，可根据A6所描述的过程采用多峰 拟合进行分析。 GB／T26140一20101tSOITS21432：2005 图9样品坐标系(x，Y，z)中测量点“，y，z)的应力和应变分量 10结果可靠性 测量不确定度的确定与结果本身一样重要，否则无法评价测量的可靠性。第11章列举了应力或应 变测量报告中应该包含的参量，所有这些数据都应该说明不确定度。建议所有这些不确定度都与ISO 标准《测量不确定度表示指南》1”相一致，文献[23]给出了附加指南，附录B简要介绍了计算合成标准 误差的术语和方法。 11报告 11．1导言 报告的基本原则是描述实验过程、测量结果以及怎样进行数据分析，使得使用者有足够的信息去复 现、理解、评估和进一步解释结果。这里不再提出严格的报告格式，因为对不同的材料、信息和研究对 象，格式可能也有很大的不同，可以由用户与实验提供者具体协商测试报告的准确格式。 11．2应变或应力值 测量得到的应变或应力值出具的报告应包括以下内容： ——应变或应力分量及其数值，包括它们的不确定度； ——测量位置，如IGV或SGV的加权质心； ——IGV或SGV的尺寸和形状； ——不确定度的来源及其影响结果可靠性的方式。 11．2．1无应力或参考晶格间距 用于获得参考或无应力晶格间距的数值、不确定度和方法，或用于确定相对或绝对应变的单胞参数 值，都应予以描述。 11．2．2应变一应力转换 将应变转换为应力时所用的关系和假设都应出具报告。 11．2．3弹性常数 若将测量的应变转换为应力，应提供所采用的衍射弹性常数值及其出处。 19 GB／T26140—2010／]SO／TS21432—2005 24定位 应报告样品定位的不确定度，并评估其对应变或应力值的影响， 3中子源和装置 应提供以下信息： ——中子源； ——所使用的装置； ——波长和单色器描述(单色装置)或波长范围(TOF装置)} ——装置标定过程和标定测量结果。 4通常的测量过程 以下方面应进行报告： ——用于样品平移和取向的方法； ——定位表面和其他参考点的方法； ——规范体积确定方式； ——采用的衍射峰拟合函数和拟合过程； ——数据处理方法，如：平滑、排除不合理点； ——表明结果可靠性的方法。 5样品／材料性质 所检测材料的以下几个方面也宜予以报告： ——样品大小和形状； ——成分； ——热／力学历程； ——相和晶体结构； ——均匀性； ——晶粒、第二相颗粒或强化相的尺寸和形状} ——织构。 6原始数据 如果需要，报告应包含原始数据。原始数据经任何平滑处理后导出的数据同样都应加以描述 附录A (资料性附录) 测量过程 GB／T26140--20『10／]SOl'P321432：2005 本附录是有经验的工作者针对第8章提供的测量过程。 许多内容在两个国际预标准化研究项目(VAMASTWA20Ⅲ30”和RESTAND[2”)中已经明确， 在下文中可获得进一步的信息叫H蜘。 A．1样品坐标系 对于大多数规则形状的样品，直角坐标或极坐标根据样品的对称性选取是合适的。 A．1．1具有对称元素的样品 大多数部件具有明显的对称元素，很多具有矩形、环形或单轴特征。这些样品的坐标应当根据对称 方向确定： ——矩形样品：z，，沿表面内相互垂直对称的方向，z垂直于表面； ——圆柱状样品：柱坐标系分别沿轴向、径向和环绕(切线)方向； ——延展后具有固定横截面的样品：轧制、拉伸和挤压成型的部件具有恒定但有可能复杂的横截 面，此时，坐标轴应该是一个方向与长轴平行，另外两个方向器着正交垂直轴。 举例： 铁轨：纵向、横向和竖直方向。 棒和管道：轴向、径向和环(切线)向。 规则多变形截面；三角形、正方形、六边形等j轴向、面的法向和平行方向。 A．1．2非规则形状样品 通常非规则形状的样品，坐标系应沿三个适合的方向，优先使用正交坐标系，在整个实验或多个系 统的局部扫描中尽量采用一个坐标系统。 A．2样品定位 样品应该根据装置参考点定位。 A．2．1参考点 应尽可能精确的确定参考点位置，最好在所使用规范体积最小尺寸的10％以内。 A．2．2规范体积 在旋转样品台中心定位IGV的质心(也就是参考点)是比较好的，定位要尽可能准确，一般需在规 范体积尺寸的10％以内。规范体积的位置可以通过(JRA．4．1所述)扫描散射中子的强度谱确定。 A．2．3样品 样品的位置和取向应当利用参考点和相应坐标系(参见A．1)下散射矢量的方向进行描述。样品定 位准确度基本上与参考点类似，可用光学或机械方法测定，也可以相对规范体积采用壁扫描的方式确 定。在样品上标明测量点和测量方向对样品定位是非常有用的，为达到所需的定位精度，标识应足够精 细和明锐。如果定位时使用正交平移装置，它们应精确地垂直，角度偏差小于士0．1。(士1．7mrad)。扫 描陡峭应力梯度、界面、表面或需要大范围平移扫描时，样品校正将尤为重要。 注1：一十有经验的实验人员内服调整极限约为o．5’，当需要更高精度校正时t须借助于光学或机械仪器。 注2：样品相对参考点不能准确的定位将在测量时引^系坑误差。若参考点与样品旋转中心不一致．样品旋转也 将会引起规范体积的偏移，这将在应力测定中引^严重的误差，特别是在应变梯度大或成分分布不均时．饲 如，定位不确定度△z引起该点的应变系统不确定度△E可表示为却一(eclax)缸．因此，当某区域应变梯度 21 GB／T26140—2010／mO／TS21432：2005 为2000XlO叫／mm时，±50pm的定位不确定度将导致±100×10“的应变系统误差。 注3t如果光学或机械方法不能满足样品的定位精度要求，应采用壁扫描的方式测定IGV相对样品表面的位置。 这种方法将产生一个峰强分布谱，称为“进^曲线”，由于样品表面是平移通过规范体积，它给出了表面和规 范体积位置的实际测量关系，对每个测量取向和沿表面平移的一些位置都需要进行重复的壁扫描。尤其要 注意的是测量表面处理后，有织构、大晶粒或高吸收材料的情况，因为，这些因素会导致进人曲线与期望值具 有实质性的不屙。 A．3应变测量点的数■和位置 为了获得明显或特定的应变变化，应当在样品中取足够充分的数据点和测量位置。具体点的数量 和位置依赖于所要求的细节、应变图的变化和规范体积的尺寸。 A．3．1单个位置点的测量 有些情况下仅需要测量指定的某一个位置，这种测量在材料和应变均匀分布的区域是可信的，然 而，在分布不均匀时为了确保结果可靠，需要在特定位置进行附加的插朴测量。 A．3．2应变分布图 为了获得有效的应变分布图，往往是先用规则分布点的稀疏阵列获得大致轮廓，然后根据需要在特 殊位置附近增加点的密度。当在某个测量方向应变梯度或其变化很大时，为了得到足够的空间分辨，需 要在该方向增加应变分布图的密度。 A33切除材料以利于测量 由于束流衰减或样品与装置不匹配，可能使待测的特定位置难以或无法测量。在这种情况下，用户 可以考虑从样品中切除部分材料，这需