关闭

关闭

关闭

封号提示

内容

首页 矿物材料现代测试技术 讲义.pdf

矿物材料现代测试技术 讲义.pdf

矿物材料现代测试技术 讲义.pdf

上传者: cn95566 2012-07-19 评分 0 0 0 0 0 0 暂无简介 简介 举报

简介:本文档为《矿物材料现代测试技术 讲义pdf》,可适用于工程科技领域,主题内容包含矿矿物物材材料料现现代代测测试试技技术术讲讲义义MMooddeerrnnTTeessttiinnggTTeecchhnniiqquuee((MMaa符等。

矿矿物物材材料料现现代代测测试试技技术术讲讲义义MMooddeerrnnTTeessttiinnggTTeecchhnniiqquuee((MMaaiinnllyyiinnmmiinneerraallmmaatteerriiaallaannaallyyssiiss))资源与环境工程学院矿物加工系管俊芳编本课程的教学目的::.了解现代测试技术的主要研究内容.了解主要分析仪器的基本理论、基本概念、主要技术原理及应用特征.通过本课程的系统学习能根据一定的研究方向和课题提出合理的测试项目设计LLeeaarrnnhhoowwttoommeeaassuurreeoorrddeetteerrmmiinnee()thechemicalcomposition,()thestructure,()thesurfacemorphology,andthephysicalandchemicalpropertiesofthematerialMainReferencesX射线结构分析祁景玉主编同济大学出版社材料分析测试技术哈工大出版社X射线分析简明教程地质出版社彭志忠主编无机非金属材料测试方法杨南如主编武汉理工大学出版社X射线衍射与电子显微分析漆雍、戎咏华编上海交通大学材料分析测试方法上海交通大学出版社王成果表面分析方法国防工业出版社美AW赞德纳《ContemporaryInstrumentalAnalysis》:Rubinson,KennethARubinson,JudithF主编科学出版社,IInntthhiissccoouurrssee,,wweewwiilllllleeaarrnnaabboouutt(())XXRRDD((XX射射线线衍衍射射分分析析))(())EEPPMMAA((电电子子探探针针显显微微分分析析))(())SSEEMM((扫扫描描电电子子显显微微镜镜分分析析))和和TTEEMM((透透射射电电子子显显微微镜镜))(())IIRR((红红外外光光谱谱分分析析))(())RRAAMMAANN((拉拉曼曼光光谱谱分分析析))(())XXRRFF((XX射射线线荧荧光光分分析析))(())TThheerrmmaallaannaallyyssiiss((热热分分析析)),,eettcc前前言言现代测试技术有别于传统的化学分析及光学显微镜鉴定方法它是在世纪末世纪初物理学多项重大发现(电子、X射线、放射性等)及相关应用研究的基础上发展起来的世界各主要国家的分析仪器行业于世纪年代末、年代初逐步形成(日本、美国、德国等)。年代以后由于真空技术、计算机信息处理技术、自动化控制技术等的飞速发展及新能源、新材料、新元器件的不断引入一些基础理论问题的突破生产和应用研究范围的不断扩大使得各种测试分析仪器逐渐完善新的测试仪器不断涌现从而极大地推动了各学科研究及生产技术的发展。现代测试技术具有如下六大特征:以“三微”技术为主流:“三微”指微量、微束、微区。。微量:指极少的分析样品用量及对微量元素的较低检测极限()微束:指极细的激发束(如电子束、离子束、激光束等)通常<nm。微区:指极小的分析区域如微米纳米范围以电子探针为例其检测极限为ppm分析区域为几个nm所以其绝对感应量为~g这比以往任何分析手段的灵敏度都高。以高度自动化控制为主要趋势:自动化程度的提高可以最大程度地减少人为分析的误差如X射线结构分析中衍射强度数据的获得最早是采用多重胶片照相方法对衍射点强度进行目估而现在则采用计数器直接自动探测极大地提高了精度及效率。分析数据处理的高度计算机化计算机对大批量数据的复杂运算具有绝对的优势。分析手段综合化如电子探针配合扫描电镜、电子能谱、图形分析系统等不但可以进行微区成分分析还可进行微形貌及元素分布等的综合研究扫描电镜和透射电镜中也不仅可分析物质的微观形貌同时也可进行对观察对象的实时成分测定。分析功能多样化在常规分析设备中增加其它附件可以进行特殊条件下的测试分析。如在四园单晶衍射仪中增加高压附件就可进行高压物相研究在透射电镜中装上冷热台则可进行生物或无机相变研究扫描电镜与一动态拉伸系统连接便可观察到材料在应力作用过程中的结构变化。测试分析网络化许多大型测试分析仪器由于造价高昂为达到资源共享的目的将分析过程网络化已成为必然的趋势。如美国国防部MMC项目(材料显微表征中心)把分布在美国各地的多个实验室的数台电镜进行联网从而实现异地操作。序序论论((PPrreeffaaccee))OutlineChemicalcompositionanalysisStructuralanalysisMorphologicalpropertiesAnalysisofphysicalandchemicalpropertiesAnalyzingMethodsChemicalCompositionWetchemicalanalysisAdsorptionspectroscopeRadiatingspectroscopeOthermethodsOOuuttlliinneeCChheemmiiccaallccoommppoossiittiioonnaannaallyyssiiss::TTooddeetteerrmmiinneetthheekkiinnddssaannddtthheeccoonntteennttssoofftthheeeelleemmeennttssiinnaammaatteerriiaallQQuuaalliittaattiivveeaannddQQuuaannttiittaattiivveeAAnnaallyyssiissDDeessccrriibbiinnggtthheecchheemmiiccaallccoommppoossiittiioonn::WWeeiigghhttccoonncceennttrraattiioonn::ffoorrssoolliidd,,lliiqquuiiddGGeenneerraalleelleemmeennttwwttMMiiccrrooEElleemmeenntt::uugggg((ggtt))((ssttaannddssffoorrppppmm))SSuuppeerrmmiiccrroo::nngggg((ppppbb))HHiinnttEElleemmeenntt::ppgggg((pppptt))VVoolluummeeccoonncceennttrraattiioonn::ffoorrlliiqquuiidd,,ggaassGGeenneerraall::mmoollLLMMiiccrroo::mmmmoollLLTTwwookkiinnddssooffccoommppoossiittiioonneexxpprreessssiioonn::aa))FFoorrmmeettaall,,ssiinngglleeeelleemmeennttmmaatteerriiaall,,ssuullffiiddee,,aannddssoommeeootthheerrmmaatteerriiaallsstthhaatttthheeiirriioonnssaarreennoottooxxyyggeennEExxpprreessssiinnggaassEElleemmeennttccoonntteennttFFoorreexxaammppllee::Iron(钢材):Fe:wt,C:wtPyrrhotite(磁黄铁矿)(FexS):Fe:wtS:wtNi:wtb)Foroxide(氧化物),Silicate(硅酸盐),andsomeothermaterialsthattheirionisoxygen(carbonate碳酸盐,sulfate硫酸盐…)Whenexpressingtheircompositions,generallyasoxidetypesForexample:Orthoclass钾长石(KAlSiO):KOwtSiOwtAlOwtNaOwtCaOwtFeOwtCalcite方解石(CaCO):CaOwtFeOwtMgOwtCOwtvvaalliiddaattiinnggddiiggiittssaannddtthheeiirrrroouunndd……vvaalliiddaattiinnggddiiggiittssaafftteerrppooiinntt::ddiiggiittss::nnoo,,yyeess,,ooddddyyeesseevveennnnooddiiggiittss::ssttrruuccttuurraallAAnnaallyyssiiss::TTooddeetteerrmmiinneetthheeaarrrraannggeemmeennttoofftthheeeelleemmeennttssiinnaammaatteerriiaall::CCrryyssttaallssyysstteemm,,CCeellllppaarraammeetteerrss,,aattoommccoooorrddiinnaatteessiinntthheeuunniittcceellll,,aannddaallssoottooddeetteerrmmiinneetthheemmiinneerraallpphhaassee((ss))CC((CCaarrbboonn))::ccaannbbeeggrraapphhiittee((石石墨墨))oorrbbeeddiiaammoonndd((金金刚刚石石)),,bbeeccaauusseetthheeyyhhaavveeddiiffffeerreennttssttrruuccttuurree((aattoommaarrrraannggeemmeennttiissddiiffffeerreenntt))SSiiOO::ααQQuuaarrttzz,,ββqquuaarrttzz,,…………AAllSSiiOOOO::AAnnddaalluussiittee((红红柱柱石石))KKyyaanniittee((蓝蓝晶晶石石))Describingthecrystal:Crystalsystem:cubic,tetragonal,orthorhombic,monoclinic,triclinic,hexagonal,triogonal,Symmetry:plane(m),Center(c),Axles(,,,,,,),CellParameters:a,b,c,α,βγAtomiccoordinates:halite(NaCl)(石盐):Cl:,,,,,,,,Na:,,,,,,,Morphologicalproperties(Surfaceobservation)ToobservethesurfacecharacteristicofthematerialMacro–Micro–SuperMicro:MacrobynakedeyesMicrobymicroscope,electronmicroscope…SuperMicroScanningtunnelingmicroscopyAtomicforcemicroscopy(AFM)Toobservetheshapeoftheparticles,theirboundarycharacteristic,insomecases,toobserveatomarrangementdirectlyGenerally,themorphologicalanalysisiscombinedwithchemicalanalysisItiscalledmicroregionanalysis(bothchemicalandmorphologicalanalysis)AAnnaallyyssiissooffpphhyyssiiccaallaannddcchheemmiiccaallpprrooppeerrttiieessIInncclluuddiinnggTThheerrmmaall,,LLiigghhtt,,eelleeccttrriicciittyy,,mmeecchhaanniiccss,,eettccAAnnaallyyzziinnggMMeetthhooddssCChheemmiiccaallCCoommppoossiittiioonnWWeettCChheemmiiccaallAAnnaallyyssiiss::((ssoolliidd,,lliiqquuiidd,,ggaass))lliiqquuiiddcchheemmiiccaallrreeaaccttiioonnccaallccuullaattiinnggcchheemmiiccaallaannaallyyzziinnggrreessuullttSilicateanalysis(includingoxides)usedformostofthematerial:(Itiscalleditemsanalysis)SiO,AlO,MgO,FeO,FeO,CaO,KO,NaO,MnO,TiO,PO,(HO),(HO)percent(wt),Bulksample(>g),longperiod(weeks)GenerallyvalidatingdigitsafterpointAAddssoorrppttiioonnssppeeccttrroossccooppee((IInnssttrruummeennttaannaallyyssiiss))((ssoolliidd,,lliiqquuiidd,,ggaass))lliiqquuiiddAAddssoorrppttiioonnssppeeccttrroossccooppyymmeeaassuurriinngg((ddiiffffeerreennttccaattiioonnaaddssoorrbbssddiiffffeerreennttwwaavveelleennggtthhoofflliigghhtt))GGeenneerraallccoonncceennttrraattiioonn((wwtt))ttoommiiccrroo((uugggg))aannddaallssoottoohhiinnttccoonncceennttrraattiioonn((nngggg))AAAADDSS((AAttoommAAddssoorrppttiioonnSSppeeccttrroossccooppee))MMaaiinnllyyuusseeddttooddeetteerrmmiinneemmiiccrrooeelleemmeennttss((aabboouuttaalllleelleemmeennttssiinntthheeEElleemmeennttTTaabbllee))FFrroommggeenneerraallccoonncceennttrraattiioonnttoommiiccrrooccoonncceennttrraattiioonn((wwttttoouugggg))IICCPP((PPllaassmmaa))MMaaiinnllyyuusseeddttooddeetteerrmmiinneemmiiccrroottoohhiinntteelleemmeennttss((mmoossttoofftthheeeelleemmeennttssiinntthheeTTaabblleeccaannbbeeddeetteerrmmiinneedd))((uuggggnngggg))RadiatingSpectroscopeLightsourcesolidsamplesecondlight(thewavelengthofthendlightchangesaccordingtothekindoftheelementsinthesolidsample)measuringthendlightwavelength,sothekindsandthecontentsoftheelementsinthematerialcanbedeterminedxxrraayyFFlluuoorreesscceenncceeSSppeeccttrroossccooppee((XXRRFF))XX射射线线荧荧光光光光谱谱仪仪GGeenneerraallttoommiiccrrooccoonncceennttrraattiioonn((wwttuugggg))LLiigghhttssoouurrccee::xxrraayywwiitthhccoonnttiinnuueesswwaavveelleennggtthhSSaammppllee::ssoolliiddtthheeeelleemmeennttssffrroommNNaaUUbbuuttccaannnnoottddiissttiinngguuiisshhtthheeddiiffffeerreennttcchhaarrggeessoofftthheessaammeeeelleemmeenntt::FFeeaannddFFee……XXrraayyPPhhoottooeelleeccttrroonnSSppeeccttrroossccooppee((XXPPSS))XX射射线线光光电电子子((能能))谱谱仪仪MMaaiinnllyyttooiiddeennttiiffyytthheeeelleemmeennttss((qquuaalliittaattiivvee))IIttccaannddiissttiinngguuiisshhddiiffffeerreenntteennvviirroonnmmeennttssoofftthheessaammeeeelleemmeennttOOiinnCCOOaannddiinnSSiiOOaannddiinnHHOOSSaammppllee::ssoolliiddIIssoottooppeeAAnnaallyyssiiss::TTooddeetteerrmmiinneetthheerraattiioooofftthheeddiiffffeerreennttiissoottooppeessoofftthheessaammeeeelleemmeennttMMaaiinnllyyuusseettooddeetteerrmmiinneetthheeaaggeeoofftthheessaammpplleeSSoouurrcceelliigghhtt::PPrroottoonnHH<<yyCC<<,,SSii<<**,,CCll<<**,,,,II<<**,,,,KKAArr<<**,,,,RRbbSSrr,,SSmmNNdd,,UUPPbb<<**,,,,OOtthheerrmmeetthhooddssEElleeccttrroonnPPrroobbeeMMiiccrroossccooppiiccaannaallyyssiiss((电电子子探探针针((显显微微分分析析仪仪))))EEPPMMAASSiimmiillaarrttooXXRRFFBBuutttthheelliigghhttssoouurrcceeiisseelleeccttrroonnbbeeaamm,,aannddtthheeaannaallyyssiissoonnllyybbeeiinnaavveerryyssmmaallllrreeggiioonnSSooiittiissccaalllleeddmmiiccrroorreeggiioonncchheemmiiccaallaannaallyyzziinnggmmeetthhoodd))TTwwookkiinnddssooffrreessuulltt::WWaavveeddiissppeerrsseeSSppeeccttrroossccooppyyEEnneerrggyyDDiissppeerrsseeSSppeeccttrroossccooppyyEElleemmeennttrraannggee::NNaaUUCCoonncceennttrraattiioonnrraannggee::wwtt––uugggg((IIttaallssooccaannnnoottddiissttiinngguuiisshhtthheeddiiffffeerreennttcchhaarrggeessoofftthheessaammeeeelleemmeenntt,,ffoorreexxaammppllee::FFeeaannddFFee))AAEESS((AAuuggeerreelleeccttrroonnssppeeccttrroossccooppyy))俄俄歇歇电电子子谱谱仪仪LLlliigghhttssoouurrccee::eelleeccttrroonnbbeeaammCCoonnddiittiioonn::vvaaccuuuummSSiimmiillaarrttooEEPPMMAAUUssiinnggssppeecciiaallddeetteeccttoorrddeetteerrmmiinneetthheeeenneerrggyyoofftthheeAAuuggeerreelleeccttrroonnIIttccaannoonnllyyddeetteerrmmiinneetthheecchheemmiiccaallccoommppoossiittiioonnoofftthheevveerryyssuurrffaacceellaayyeerr((AA))EElleemmeennttAAnnaallyyzzeerr::((元元素素分分析析仪仪))OOrrggaanniiccaannaallyyssiissFFiivveeeelleemmeennttssQQuuaannttiittaattiivveeaannaallyyssiiss::CC,,HH,,OO,,NN,,SS::CChhrroommaattooggrraamm((色色谱谱分分析析))TTwwookkiinnddss::ggaass,,lliiqquuiidd::((气气相相色色谱谱仪仪、、液液相相色色谱谱仪仪))CC,,HH,,OO,,NN,,SSQQuuaalliittaattiivveeMMaaiinnllyyttooddeetteerrmmiinneetthheessttrruuccttuurreeoofftthheeoorrggaanniiccFFoorreexxaammppllee,,tthheelleennggtthhoofftthheeccaarrbboonncchhaaiinnMMoossssbbuuaarreeSSppeeccttrroossccooppee((穆穆氏氏保保尔尔谱谱仪仪((穆穆谱谱))))TTooddeetteerrmmiinneetthheerraattiioooofftthheeddiiffffeerreennttcchhaarrggeessoofftthheessaammeeeelleemmeennttFFoorreexxaammppllee,,FFeeFFee……BBaacckkssccaatttteerriinnggSSppeeccttrroossccooppee((背背散散射射电电子子谱谱仪仪))TTooddeetteerrmmiinneetthheeddeepptthhoofftthheeeelleemmeennttssiinntthheeppllaatteessaammpplleeCCoommppoossiittiioonnaannaallyyssiiss::BBuullkkaannaallyyssiiss,,mmiiccrroorreeggiioonnaannaallyyssiiss,,ssuurrffaacceeaannaallyyssiiss,,IIssoottooppeerraattiiooaannaallyyssiiss,,oorrggaanniiccaannaallyyssiissggeenneerraall––mmiiccrroo––hhiinnttaannaallyyssiissCChhaarrggeeaannaallyyssiisscciirrccuummssttaanncceeooffeelleemmeennttssaannaallyyssiissSSttrruuccttuurreeAAnnaallyyssiissXXrraayyddiiffffrraaccttiioonn((XXRRDD))XX射射线线衍衍射射ssiinngglleeccrryyssttaallmmeetthhoodd::ssiinngglleeccrryyssttaall::uummmmmmLLiigghhttssoouurrccee::cchhaarraacctteerriissttiiccXXrraayyiinnssttrruummeenntt::ffoouurrcciirrcclleessiinngglleeccrryyssttaallxxrraayyddiiffffrraaccttmmeetteerr四四园园单单晶晶xx射射线线衍衍射射仪仪MMaaiinnllyyttooddeetteerrmmiinneetthheessttrruuccttuurreeoofftthheenneewwmmaatteerriiaallIInnssoommeeccaasseess,,ttooddeetteerrmmiinneetthheeccrryyssttaallppaarraammeetteerrssPowdercrystalmethod:Sample:powder(<mesh)Lightsource:characteristicxrayInstrument:powderxraydiffractmeterMainlytodeterminethemineralphase,qualitativeorquantitativeInsomecases,todeterminethestructureofthenewmaterialOnlyvalidtothecrystalTTrraannssmmiissssiioonnEElleeccttrroonnMMiiccrroossccooppee((TTEEMM))LLiigghhttssoouurrccee::eelleeccttrroonnbbeeaammSSaammppllee::vveerryyvveerryytthhiinn((nnmm))TTooddeetteerrmmiinneetthheessttrruuccttuurreeoofftthheessaammpplleeiinnaavveerryyssmmaallllrreeggiioonn((nnmmrreeggiioonn))IIttccaannddiirreeccttllyyoobbsseerrvveetthheeddiissttrriibbuuttiioonnoofftthheeccrryyssttaallllaattttiicceeInfraredSpectroscope(IR):Lightsource:InfraredlightSample:solid(powder),liquid,gasChecktheadsorptionofthesampletothelightfromlightsourceDifferentchemicalbondscanadsorbdifferentwavelengthofthelightTodeterminetheexistenceofthechemicalbondsinthesample(material),alsocanbeusedtodeterminethemineralphase(differentmineralhasdifferentchemicalbonds:theirkindsandstrength)AdsorptionspectroscopeLaserRamanSpectroscope(RAMAN):Lightsource:laserwithacertainwavelengthSample:solid,liquid,gasWhenexcitedbylaser,thechemicalbondsinthematerialcanradiateacertainwavelengthoflightsimilarwithIRButIRisakindofadsorptionspectroscopeRadiationspectroscopeTodeterminetheexistenceofthechemicalbondsinthesample(material)SurfaceMorphologicalObservationNakedeyes:*Microscope:,(,max)ScanningElectronMicroscope(SEM)<,sampleshouldbeconductiveorbemadetobeconductiveEnvironmentSEM(ESEM):similarwithSEMButthesamplecanbeconductiveornotFieldEmittedSEM(FSEM):<,,conductiveTransmissionElectronMicroscope(TEM):<,,similarwithFSEM,butTEMcanalsodostructuralanalysisScanningtunnelingmicroscopy(STM):toobservethearrangementoftheatoms(surfacelayer)directlySampleshouldbeconductiveAtomicforcemicroscopy(AFM):similarwithASM,butthesamplemayconductiveornot(SEM)(ESEM)(FSEM)Lightsource:electronbeamSample:solidwhenexcitedbyelectronbeam,thesamplecanproducethesecondaryelectronBydetectingthesecondaryelectron,themicroregionmorphologicalcharacteristiccanbeobtained(TEM):similarwithSEM,buttheelectronbeamtransmitthesample((SSTTMM))::((AAFFMM))::UUssiinnggtthheepprriinncciipplleeoofftthheeeelleeccttrroonnccuurrrreenntt((vveerryyvveerryyssmmaallll))((AASSMM))aannddtthheeffoorrccee((AAFFMM))bbeettwweeeennaattoommsswwhheenntthheeaattoommssaarreevveerryynneeaarrpphhyyssiiccaallaannddcchheemmiiccaallpprrooppeerrttiieessTThheerrmmaallAAnnaallyyssiiss::ttooddeetteerrmmiinneetthheecchhaannggeessooffssaammpplleewweeiigghhttoorrtthheerrmmaallpprrooppeerrttiieess((aaddssoorrbbhheeaattoorrrraaddiiaatteehheeaatt))uunnddeerrddiiffffeerreenntttteemmppeerraattuurreeTThheerrmmooggrraavviimmeettrryy((TTGG))DDeerriivvaattiivveeTThheerrmmooggrraavviimmeettrryy((DDTTGG))DDiiffffeerreennttiiaallTThheerrmmaallAAnnaallyyssiiss((DDTTAA))Homework试论述学习分析测试技术的意义及在矿物材料中可能的应用。第第一一部部分分XX射射线线衍衍射射分分析析第一章X射线的性质概述X射线的性质X射线的产生X射线与物质的相互作用物质对X射线的吸收概述年伦琴(WCRoentgen)研究阴极射线管时发现阴极射线管能放出一种有穿透力的肉眼看不见的射线。由于它的本质在当时是一个“未知数”故称之为X射线。这一伟大发现当即在医学上获得非凡的应用X射线透视技术。年劳埃(MVonLaue)以晶体为光栅发现了晶体的X射线衍射现象确定了X射线的电磁波性质。此后X射线的研究在科学技术上给晶体学及其相关学科带来突破性的飞跃发展。由于X射线的重大意义和价值所以人们又以它的发现者的名字为其命名称之为伦琴射线。X射线和可见光一样属于电磁辐射但其波长比可见光短得多介于紫外线与γ射线之间约为到Å的范围(图-)。X射线的频率大约是可见光的倍所以它的光子能量比可见光的光子能量大得多表现明显的粒子性。用于晶体结构分析的X射线波长一般为-nm由于波长较短习惯上称为“硬X线”。用于医学透视的X射线的波长很长故称为“软X线”。X射线波长短、光子能量大由于这两个基本特性所以X射线光学(几何光学和物理光学)虽然具有和普通光学一样的理论基础但两者的性质却有很大的区别X射线与物质相互作用时产生的效应和可见光也迥然不同。图-X射线的频率可见光光谱:(单位nm)--------------紫青兰绿黄橙红X射线的性质()一般性质X射线和其它电磁波一样能产生反射、折射、散射、干涉、衍射、偏振和吸收等现象。但是在通常实验条件下很难观察到X射线的反射。对于所有的介质X射线的折射率n都很接近于(但小于)所以几乎不能被偏折到任一有实际用途的程度不可能像可见光那样用透镜成像。因为n所以只有在极精密的工作中才需考虑折射对X射线作用介质的影响。X射线能产生全反射但是其掠射角极小一般不会超过'~'。()衍射性质在物质的微观结构中原子和分子的距离(Å左右)正好落在X射线的波长范围内所以物质(特别是晶体)对X射线的散射和衍射能够传递极为丰富的微观结构信息。可以说大多数关于X射线光学性质的研究及其应用都集中在散射和衍射现象上尤其是衍射方面。X射线衍射方法是当今研究物质微观结构的主要方法。()穿透性质X射线穿透物质时都会被部分吸收,其强度将被衰减变弱吸收的程度与物质的组成、密度和厚度有关。在此过程中X射线与物质的相互作用是很复杂的会引起多种效应产生多种物理、化学过程。例如它可以使气体电离使一些物质发出可见的荧光能破坏物质的化学键引起化学分解

用户评论(0)

0/200

精彩专题

上传我的资料

每篇奖励 +2积分

资料评价:

/23
仅支持在线阅读

意见
反馈

立即扫码关注

爱问共享资料微信公众号

返回
顶部