IC测试培训一

Chiphomer Technology Ltd 1 ICIC测试培训测试培训 第一章 IC测试基础知识 By 孙鹏程 2009-8-8 Chiphomer Technology Ltd 2 本章要点本章要点 z 1.1 什么是IC测试？ z 1.2 为什么要进行IC测试？ z 1.3 如何进行IC测试？ Chiphomer Technology Ltd 3 1.11.1 什么是什么是ICIC测试？测试？ z什么是IC？ IC:集成电路（integrated circuit）是一种微型电子器件或部 件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、 电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或 几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内， 成为具有所需电路功能的微型结构。 Chiphomer Technology Ltd 4 1.11.1 什么是什么是ICIC测试？测试？ z什么是IC测试？ IC测试就是用相关的电子仪器（如万用表、示波器、直流电 源，ATE等）将IC所具备的电路功能、电气性能参数测试出 来。测试的项目一般有：直流参数（电压、电流）、交流参 数（THD、频率）、功能测试等。 Chiphomer Technology Ltd 5 1.11.1 什么是什么是ICIC测试？测试？ z IC测试的分类 1、量产测试 应用测试机、probe、handler、loadboard等设备及硬件，对IC的主 要性能参数进行大批量的生产测试，其目的主要是将好坏IC分开。 2、评估测试 使用特定测试评估板（demo），对几颗或几十颗IC进行全面的电 气性能评价测试，其目的主要是为了验证IC是否满足 设计 领导形象设计圆作业设计ao工艺污水处理厂设计附属工程施工组织设计清扫机器人结构设计 指标，以及 是否存在缺陷，为设计优化提供依据，其测试数据是编写芯片手册的主 要依据。 3、老化测试 使用极限的测试条件，极限的温度等恶劣环境下，考察IC可用性 及可靠性的测试。 4、失效分析测试 针对已经失效的芯片，通过各种的测试工具，测试 方法 快递客服问题件处理详细方法山木方法pdf计算方法pdf华与华方法下载八字理论方法下载 ，测试条 件，查出失效原因的测试。 Chiphomer Technology Ltd 6 1.21.2 为为什么要进行什么要进行ICIC测试？测试？ z为什么要进行IC测试？ IC测试是为了检测IC在设计和制造过程中，由于设计不完善、 制造工艺偏差、晶圆质量、环境污染等因素，造成IC功能失效、 性能降低等缺陷。通过分析测试数据，找出失效原因，并改进 设计及工艺，以提高良率及产品质量，是IC产业中至关重要的 环节。 Chiphomer Technology Ltd 7 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z量产测试 1、晶圆测试（wafer test 、CP：Chip Probing） 2、成品测试（FT：Final Test） Chiphomer Technology Ltd 8 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z晶圆测试（wafer test 、CP：Chip Probing） 晶圆测试：在wafer加工完成后，送至中测车间用探针卡 （probe card）、探针台（probe）、测试机 （ATE:Automatic Test Equipment ）对wafer中的每颗裸芯 片进行电气参数的测试，并按照一定的 规范 编程规范下载gsp规范下载钢格栅规范下载警徽规范下载建设厅规范下载 进行筛选，分 出好坏裸片的过程。 Chiphomer Technology Ltd 9 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z成品测试（FT：Final Test） 成品测试：经过晶圆测试之后，wafer经过切割、粘片、焊 线、塑封等一系列封装工艺将其中的每颗裸片用环氧树脂 或其他材料分别包装起来，成为单独的IC，然后用测试机 （ATE）、Loadboard、机械手（handler）对每颗IC进行 电气参数的测试，并按照一定的规范进行筛选，分出好坏 IC的过程。 Chiphomer Technology Ltd 10 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z 名词解释 ATE：自动测试设备，也称测试机，是由计算机、硬件 系统和软件系统三部分组成，其实际功能就是一组可以 用程序控制的电压、电流源、信号源、示波器、万用表 等测试仪器。 Chiphomer Technology Ltd 11 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z名词解释 Probe:探针台，用来承载并固定wafer，并且可以做高 精度上下左右移动的设备，有手动、半自动和全自动 之分。 Chiphomer Technology Ltd 12 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z名词解释 Probe card：探针卡，具有精细且良好导电性的探针， 能实现ATE与wafer PAD之间的电气连接的PCB组件。 Chiphomer Technology Ltd 13 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z名词解释 Handler：机械手，能够夹持、传送并归类IC的高精度 机械设备。 Chiphomer Technology Ltd 14 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z名词解释 Socket：转接插座，实现IC管脚和测试板之间的电气连 接。 Loadboard，DUT板、测试板：用于实现ATE资源和 socket之间的电气连接的PCB板。 Chiphomer Technology Ltd 15 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z名词解释 Test program：测试程序，是一系列可以控制、调用 ATE资源的代码。 ovi_1->set_current(OVI_CHANNEL_5, 0.1e-3f); ovi_1->set_voltage(OVI_CHANNEL_5,-2.0f); ovi_1->set_meas_mode(OVI_CHANNEL_5,OVI_MEASURE_VOLTAGE); delay(2); pin5=ovi_1->measure(); Test plan ：测试方案，描述IC具体电气参数的测试方 法，以及测试规范的文件。 CP2290GMM成品测试方案V1.0.2.pdf Chiphomer Technology Ltd 16 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z IC测试开发流程 制定测试 计划 项目进度计划表范例计划下载计划下载计划下载课程教学计划下载 测试前期准备 制定测试方案 测试程序编写 测试板制作测试调试 测试数据收集 测试报告评审 测试维护 Chiphomer Technology Ltd 17 11.3.3 如何进行如何进行ICIC测试？测试？ z IC测试的主要电气参数 1、开短路测试（open-short） 2、关断电流测试（Ioff） 3、静态电流测试（Icc） 4、静态工作电压测试（Vpin） 5、功能测试（Function） 6、性能测试（THD、Gain、Freq、INL、DNL） Chiphomer Technology Ltd 18 提问与讨论 Chiphomer Technology Ltd 19 ICIC测试培训测试培训 第二章 IC测试实例 Chiphomer Technology Ltd 20 本章要点本章要点 z 2.1 LDO基础知识 z 2.2 LDO主要参数 z 2.3 LDO测试方案 z 2.4 LDO测试程序