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555时基集成电路测试中电容的巧用.PDF

555时基集成电路测试中电容的巧用.PDF

上传者: ebrick 2011-04-23 评分1 评论0 下载55 收藏10 阅读量552 暂无简介 简介 举报

简介:本文档为《555时基集成电路测试中电容的巧用pdf》,可适用于硬件技术领域,主题内容包含年第期中图分类号:TN文献标识码:A文章编号:()一O时基集成电路测试中电容的巧用姚海燕(南通市中等专业学校南通)摘要:在集成电路(Ic)测试程序开符等。

年第期中图分类号:TN文献标识码:A文章编号:()一O时基集成电路测试中电容的巧用姚海燕(南通市中等专业学校南通)摘要:在集成电路(Ic)测试程序开发的过程中通常会遇到一些看似很小而有时花上很长时间都不能及时解决的问题。这时换个思路更换测试电路板的硬件都有可能解决问题。以时基电路测试程序开发为例时基电路可以通过外部电路组合成施密特触发电路、单稳态电路、多谐振荡电路等。其中在多谐振荡电路中充、放电电容的巧用将会对整个电路正确波形的产生起到至关重要的作用。关键词:时基电路电容谐振电路。ApplicationofcapacityintimercircuitYAOHaiyan(NantongSpecialMiddleSchoolNantongChina)Abstract:UsuallywemaymeetsomeproblemswhichcannotberesolvedintimeafterpeoplemakehugeeffortinthedevelopmentofICtestaremet.Atthistimeitishelpfulbychangingthethinkingwayorhardwareinloadboard.Takingthedevelopmentoftimercircuitforexampleitcanbeusedfortriggercircuitsinglestablecircuitandresonantoscillationcircuitandets.bycombinationofextendedcircuit.Whileinresonantoscillationcircuititplaysagreatimportantpartinthetotalwaveformsbytheuseofcapacity.Keywords:timercircuitcapacityresonantoscillationcircuit时基集成电路的测试原理通常集成电路的测试方法是搭接外围电路通过测试电路中各种参数、指标将测试结果与集成电路的设计要求相比较。如果测试结果满足设计要求以此判断集成电路功能正常。否则该集成电路就作为不良品处理。因此测试新品开发时一定要充分运用各方面的专业知识防止因为测试人员的疏忽造成测试的错误。众所周知时基集成电路是一种非常实用的电路它广泛应用于家电控制、音响告警、定时器等控制电路中。通过外围电路可以组合成施密特触发电路、单稳态电路、无稳态电路等。那么在时基集成电路测试中就需要按照一定的要求搭接外围电路来完成相应的功能测试。其中由时基集成电路组成的多谐振荡电路应用非常广泛具体电路如图所示它主要通过PIN电容的充、放电来实现谐振。测试电路原理如下:在此谐振电路中只要在VCC端施加特定的初始电压(RA、RB、C值一定)整个电路就会振荡在输出端PIN输出频率一定、占空比一定的方波(PIN/及PIN输出v波形如图所示)。通常设RA=RB=KohmC:.F则输出高电平时问TH=(RARB)xCIn((/)/(/))=xx.x~x.=.ms输出低电平时间TL=RBC((/)/(/))=x.x~x.=.ms占空比(一个周期内高电平时间/一个周期的时间)=./(..)=.%收稿日期:作者简介:姚海燕(一)女工学学士江苏省南通市中等专业学校机电专业部教师研究方向为电子信息。一lCVo时基电路组成的多谐振荡电路图时基电路组成的多谐振荡电路的波形图时基集成电路测试过程中遇到的问题及原因分析与解决方案在实际的测试电路调试过程中一开始在PIN端使用的是普通陶瓷电容测试结果是整个周期看似与标准值差不多只是低电平时间长了ms高电平时间短了ms所以整体周期与期望值相近。但是仔细观察波形发现PIN/波形并未完全在l/VCC~/VCC之间变化实际变化范围要大一些。通过同时观察VCC端和PIN/电压发现在测试机上测试时VCC端电压有波动并且VCC电压波动处PIN/电压变化超过/VCC~/VCC范围。再仔细观察PIN输出此时也正是高低电平交叉变化的时段。因此初步怀疑VCC端电压波动是影响整个输出波形异常的原因。于是在VCC端加电容来平滑VCC端波形从而稳定整个输出。但是结果是VCC端波形稳定了而整个周期确缩短为ms左右占空比却是正确的如图所示。因此原先的猜测是不准确的。为查找测试错误的原因做BENCHTEST。通过观察波形发现VCC端波形很稳定输出端结果与测试机上测试结果相同如图所示。这样排除集成电路本身性能不良的影响唯一有可能导致周期失效的是外接在PIN端的电容。分析该电路中一O一图时基电路组成的多谐振荡电路在测试机上测得的波形图电容可能带来的影响原先电路中使用的是普通低频陶瓷电容频率特性可能不能满足测试的要求。于是换上薄膜电容再做BENCHTEST通过观察波形得出结论周期与占空比均符合要求如图所示。最后到测试机上验证测试结果也很好。图PIN换接薄膜电容后测试的波形图回顾整个测试电路的调试过程时基集成电路构成的多谐振荡电路主要就是靠电容的充、放电完成整个电路的工作电容的好坏直接决定了输出波形的周期及占空比。那么为什么在此电路中要选用薄膜电容以后应如何选用电容来达到特定电路的测试要求这就需要简要地分析回顾一下电容的特性。在各种电子设备中调谐、耦合、滤波、去耦、隔断直流电、旁路交流电等都需要用到电容。电容的种类很多按结构形式来分有固定电容、半可变电容、可变电容。常用电容按介质区分有纸介电容、油浸纸介电容、金属化纸介电容、云母电容、薄膜电容、陶瓷电容、电解电容、铝电解电容、钽、铌电解电容等。不同种类的电容适用于不同的电路。主要的几种电容的构造、特点及应用场合如下:()铝电解电容器用浸有糊状电解质的吸水纸夹在两条铝箔中间卷绕而成薄的化氧化膜作介质的电容器。因为氧化膜有单向导电性质所以电解电容器具有极性。容量大能耐受大的脉动电流(下转第页)一含信息标注的命令行语句序列的形式输出并以一种固定的结构形式存储方便信息检索。本文涉及的命令行语句信息及其信息存储结构如表所示。表命令行语句信息结构从表可以知道命令行语句信息结构包含部分内容:命令行语句序号记录命令行语句在命令行语句序列文件中的位置命令行语句编码表标注命令行语句的编码信息起始单词序号标注命令行语句的首单词符号在细粒度单词符号序列中的位置终止单词序号标注命令行语句的尾单词符号在细粒度单词符号序列中的位置语句块结束语句序号针对命令行后面有语句块的语句标注该命令行语句的语句块结束位置。其中对命令行语句的内容采用记录命令行语句首尾单词符号在细粒度单词符号序列中的位置的方式既方便回溯到命令行在源代码流文件中的位置又能减少文本的储存量。并且记录了命令行语句的语句块结束位置方便定位信息搜索范围。结束语语法分析方法作为编译系统中不可缺少的过程对程序分析有着至关重要的作用。在深入分析、研究其工作原理的基础上将其运用于软件逆向分析的源代码的解析过程并详细介绍了语法分析方法在该过程中的具体应用以及该过程中涉及到的各类技术方法。随着软件工程的不断发展语法分析方法将随着高级语言的发展应用到更多的领域。参考文献:美KennethC.Louden.冯博琴冯岚等译.编译原理及实践M.机械工业出版社.何炎祥.编译原理M.华中科技大学出版社.陈丹伟李军刘继兴.C/C源代码风格检测工具的实现J.计算机应用():.张海藩.软件工程导论M.清华大学出版社.彭四伟朱群雄.基于源代码分析的逆向建模J.计算机应用研究():.王一宾陈文莉陈义仁.语法分析方法研究评述及其应用J.计算机工程与设计():.JeanLouisMarechauxSoftwareITSpecialistIBMRationalModemizelegacysystemsusinganSOAapproachJanZ.MichaelLNelson.ASurveyofReverseEngineeringandProgram.ComprenhensionZ.ODUCSSoftwareEngineeringSumey.责任编辑:刘新影(上接第页)容量误差大泄漏电流大普通的不适于在高频和低温下应用不宜使用在kHz以上频率低频旁路、信号耦合、电源滤波。主要特点:体积小容量大损耗大漏电大。应用:电源滤波低频耦合去耦旁路等。()薄膜电容器用聚脂、聚苯乙烯等低损耗塑材作介质频率特性好介电损耗小不能做成大的容量耐热能力差主要适用于滤波器、积分、振荡、定时电路。()陶瓷电容器用高介电常数的电容器陶瓷(钛酸钡一氧化钛)挤压成圆管、圆片或圆盘作为介质并用烧渗法将银镀在陶瓷上作为电极制成。它又分高频瓷介和低频瓷介两种。具有小的正电容温度系数的电容器用于高稳定振荡回路中作为回路电容器及垫整电容器。低频瓷介电容器限于在工作频率较低的回路中作旁路或隔直流用或对稳定性和损耗要求不高的场合(包括高频在内)。这种电容器不宜使用在脉冲电路中因为它们易于被脉冲电压击穿。高频瓷介电容器适用于高频电路。结束语本次测试的集成电路是时基集成电路由此构成的多谐振荡电路中由于电容充、放电需要考虑精确的时间因此必须使用频率特性好、稳定性高的电容。普通陶瓷电容频率稳定性差电容不能完全充、放电整个电路没有充分谐振因此才导致一开始错误的测试结果。在此测试电路中薄膜电容、高频瓷介电容由于其良好的频率特性毋庸置疑成为首选(经过试验证实电解电容也可用于此电路)。测试结果确实也是如此各参数的波形都能比较好地满足设计要求成功完成本次集成电路的测试。当然测试电路在具体应用时还需要在VCC端加小容量低频陶瓷电容作滤波电容来稳定电源电压以使输出结果更好地满足要求。一个看似很小的发现解决了测试中的一大难题显而易见集成电路测试新品开发时回路中元器件的选择非常重要即使是一个小电容。因此在实际工作中除对电路要有深刻的理解外也必须对基本的元器件有很清晰的认识。只有着眼于细微处方能将测试新品开发的质量提高到新的水平从而做到在实践中不断强化自己的理论知识丰富实际的工作经验。责任编辑:么丽苹一l

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