中华人民共和国黑色冶金行业标准
金属平均晶粒度测定法 tin 1 5148 -93
Metal-methods for estimating the
average grain size
司 引言
木标准适川十测定金属材料晶粒度。由于它纯粹以晶粒的几何图形为基础,与材料人q完全无k-,
因此,本
方法
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也可以用来测定非金属材料中品粒的大小。本标准侧定品粒度的方法有 比较法、丽积
法和截点法。
1.1 范围
1.1.1 术标准包括完全或上要由单相组成的金属平均晶粒度的测定方法和表d,原则 司时.这些方
法也适用于与标准评级图形貌相似的仟伺组织
1.1.2 如材料的组织形貌与标准评级图中仟 一系列的图形相似,则},j使用比较法 任何情况 卜都}}1
以使用面积法和截饭法。
1.1.3 测定等轴晶粒的品粒度,使用比较法最简便。其精确度可以达到生产检验的要求。如要求吏
i'}i的精确度.则使用面积法和截点法。非等轴的晶粒不能使用比较法。
1.1.4 木标准中,“品粒”是指en界范围内格个区域。在有孪品材料中.每个晶粒和L内部的李晶
带应视为一个晶Vv
,.1.5 亚晶粒的大小,可用测定晶粒度的方法来测
、.1.6 如有争议,截点法是仲裁方法
1.1.1 木标准不适用于深度冷加工材料或部分再结晶的变形合金的晶粒度测定 如要测定径度或巾
度冷加1.材料的晶粒度,应视该材料的组织是出非等轴晶粒所组成。
1.2 使用概述
1.2.1 测定晶粒度时,首先应认识到晶粒度的测定并不是 一种 于分精确的测敬oi41 因为金属组织是巾
不H7尺寸和形状的_维r,In粒堆集而成。叩使这些晶粒的尺寸和形状相同,通过该组织的任 截面 (检
验面)七分布的晶粒大小将是从最大值到零之间变化。因此,在检验Ifii-I不可能有绝对大小均匀的晶
粒分布,也不可能有两个完全相同的检验面。
1.22 从统计学考虑晶粒计数,一般应用时,每一个给定面积内含有100粒以 L便,,I满足统CF学条
件,妇d;测定时,为便于计数可降到5。粒。因此,侧定晶粒度时,必须选择恰当的放大倍数和测却面
积
1.2.3 F,e粒度的侧定应在侮个试样检验面上选择=个或 一个以 卜有代友 Vi的视场内进行。所谓 叫l
表性”即体现试样所有部分都对检验结果有所贡献,而不是带有假想地去选择平均晶粒度的视1f h.只
有这样,测定结果的准确性和精确度才是有效的
1.2.4 使用比较法时,如需复验,应改变观察的放大倍数,以克服初验结果可能带有的 仁观偏见
1.2、5 不同观侧者的测量结果在预定的置信Ix I司内有差异是允许的。
2 定义及符号
2.1 “ ?t,2.1 粒度”是晶粒大小的4i度 通常使用长度、面积或体积来表厂J几不同方法评定或测定晶板郎
大小。而使用晶粒度级别指数表不的晶粒度 卜:测量方法及使用单f亿尤关
中华人民共和国冶金工业部 1993一12-08批准 ’ 门994一01 0」实施
、“ r7门48 93
2.2 晶粒度级别抬数
2.2.1 S微品粒度级别指数G:在100倍下645.16- '1111积内包含的晶粒数n‘,“有如F关系
” 2‘
2.2.2 宏观晶粒度级别指数G1,:在1倍 F 645.16- e IM积内包含的品粒数n' iCN有如 F关系
n二2‘M
2.3 符号及其说Il)J(见表1)。
表
符 号 名 称 及 L兑 }:
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661391, ' -'If h
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:
V I,微品粒度级别于旨数
次观品杭度级别抬数
从川·Itt人}六数
突际使片]的狡大倍数
级别抬数的修正系数
对品粒图象平面 c A照片)51用的测 A: F51格面积
完全辉六测嗽网格内的品Yd:数
8lk测W. I131格听切刘的晶牡数
测从网格内的品粉lh数
试样检ill而卜‘1平方么火内的品 v数
试样险脸面1-.品tv的平均rhT积
测,t网格的长度
在观测 ifti全侧U网格’,一甲.界相交的政点数
试样检w"面 米测1;i网格 1的品界戚点数
试样检验'ei F.,W,粒的平均截距
侮亡方毫米内的品粒数
晶t公称八径
早粉 弗吧特 <6ecai) 八径
八 二 陀
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单位
单位
羊了立一
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3 试#4的制备
3.1 取样
3.1.1 测定晶粒度用的试样应在交货状态的材料上切取。试样的数hi及取样部位按相应的标准或技
术条件规定。
建议试样尺寸为:
圆形:0 10一12m m
方形:10mmx10mm
3.1.2 品粒度试样不允许重复热处理。
3.1.3 渗碳处理用的钢材试样应除去脱碳层及氧化层
3.2 晶粒显示方法
3.2.1 铁素体钢的奥氏体晶粒度
如没有特别规定,奥氏休品粒fu可按于:列方法显刁、
NH r 5148 93
3.2.1.1 渗碳法
渗碳钢采用渗碳法显示奥氏休晶粒度。渗碳的试样在930= 10'C保P.6h,必须保ILL获得lm.以上
的渗碳层 .渗碳剂必须保证在规定的温度和时间内产生过共析层。试样以缓Rki的速度炉冷至下1Y';界温
度以卜,足以在渗碳暇的过共析区的奥氏体晶界 L析出渗碳体网。试样冷却后经磨制和腐蚀,显不出
过共析IX奥氏休Tin粒形貌。可用下列腐蚀剂进补丁浸蚀:
a. 3一4 0o硝酸乙醇溶液;
b. 5%苦味酸乙醇溶液
沸腾的碱性苦味酸钠水溶液(2K苦味酸、269a氧化钠、100..1水)。浸蚀时间:10一20-。
3.2.1.2 网状铁素体法
含碳""0.25一。.60%的碳钢,含碳鼠0.25一0.50%的合金钢;如没有特别规定, 一般对含碳鼠小
上或等f -M 5 j的钢试样在900 = 10'C加热,含碳鼠大十0.35%的钢试样在560- 10C加热。至少保温
30 mi n,然后空冷或水冷。在此范围内含碳4较高的碳钢和含碳员超过。.柑%的合 r^,.钢需要调铭冷却
方法。以便在奥氏体品界仁析出清晰的铁素体网。在此情况 「,建议试样在淬火温度保持必要的时间
后,将温1勿 至73。土川0C,保温10min,随后淬油或淬水。试样经磨制和浸蚀后,显下出洛原品界分
布的铁素体网。可用 卜列腐蚀剂进行浸蚀
:.3一4%石肖酸乙MY溶液:5。、苦味酸乙?V}溶液
3.2.1.3 氧化法
含碳1k` 0.35一。.60%的碳钢和合金钢,将试样检验面顶抛光,然后将抛光面朝 卜置 厂炉中。如没
有特别规定,一般在860士10℃下加热1h然后淬人冷水或盐水。根据氧化情况,试样可适当倾余410-15
进行研磨和抛光。显示出由氧化物沿晶界分布的原奥氏体晶粒形貌。为了显小清晰,可用15%盐酸乙
醉溶液进fT浸蚀。
3.2.1.4
A1妾淬火硬化钢:如没有特别规定,对含碳耸小于或等于0.35%的钢样,置Psoo士上。℃下加热
含碳谧大犷0.3500的钢样,置于860 1 10℃下加热。保温Ih后,以能产生完全淬硬的冷却速度迸行淬
火。获得马氏休组织。经磨制和隆蚀后,显示出完全淬硬为马氏体的原奥氏体nn}们f;貌。为了清晰显
1.d?粒边界,腐蚀前试样可ft55。士川℃州司火lh常用的腐蚀剂:饱和苦床酸水溶液加少E+环氧乙烷
聚 合物
3.2.1.5 网状渗碳体法
过共析钢 ( 般含碳童大于1.000-n);如没有特别规定,均在820二101r F加热。罕少保Y6"30 m ;
后,以足够缓搜的速度随炉冷却至低 rFIA界温度,使奥氏体晶界L析出渗碳体网。试样经磨制和隆
蚀后,S0小出洽},i,界祈出渗碳体网的原奥氏休品粒形貌。可用下列腐蚀剂进行PX蚀:
a. 3一4‘、石肖酸乙醉溶液;
e. 。。苫味酸乙Ax溶液
3.2.1.6 网状珠光体 (州氏休)法
对使用JC他方法不易显示的共析钢,可选取适当尺寸的棒状试样,进行不完T -I辛‘。即将加热后
的试样 端淬人冷水‘{J冷却,因此,存在着一个不完全淬硬的小区域。在此区域的原奥氏体配界将育少
准细珠光体({创状川L见休)呈网络显示出原奥氏体晶粒形貌。此方法可用卜共析成分稍.蔑或稍低的某此
钢种。可用I`列腐蚀剂进行浸蚀:
a. 3一4 %;i肖酸乙醉溶液;
b. 5 % Y,味酸乙醇 io液
3.2.1.7 除 {_述方法外,根据相应的技术条件规定,试样在不超过 上常热处理温度30 C',似最简
书
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超过930,C{一加热,保温时问 l一I.5h,冷却速度根据热处理方法而定。
3.2.2 奥氏体钢的晶粒度
us 15148一53
3.2.2.1 奥氏体钢实际晶粒度取决丁原热处理状态。
3.22.2 考虑到奥氏体钢出现孪晶会混淆Ilfl粒计数,显小晶粒形貌应采用适当的腐蚀剂,使9'HE}'u-.
示尽量降到最低的程度。
8. 对稳定的奥氏体材料 将试样作阳极,室温下,在休积比为60一90 浓硝酸水溶液中宋用电
服 I一I. 5v进行电解腐蚀。
b. 对不稳定的奥氏体材料:可在48。一700℃的敏化温度加热,使碳化物4`品界打洲飞 采用适介
干锹小碳化物的腐蚀剂显小晶粒形貌
3.2.3 其他企属及H合金的晶粒度
其他金属及具合金晶粒度的试样热处理和腐蚀方法,按有关技术条件或供需双方
协议
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进行
4 晶粒度的测定方法
4.t 比较法
比较法是通过 j`标准评级图对比来评定晶粒度的。
4.1.1 比较法适用于评定等轴晶粒的完全再结晶材料或铸态材料
4.1.2 使用比较法评定品粒度时,当晶粒形貌与标准评级图的形貌完全相似时,评级误筹最小 因
此,本标准务有四个系列标准评级图*:
a. 系列图片 丁 无孪晶品粒 (浅腐蚀),I00倍;
b. 系列图片一0 有孪晶晶粒 (浅腐蚀),100倍;
c. 系列图片山:有孪晶品粒 (深反差腐蚀),巧倍;
d. 系列图片IV 钢中奥氏体品粒 (渗碳法),100倍
4.1.3 对各种常用材料建议使用的标准系列图片见表2:
表 2
材 料 系 列 图 片 从准放大子合数
奥氏体钢
铁 4<休04
渗碳04
不诱钢
铝
铜和铜合段
镁和钱介今
镍和镍合余
t辛和士辛合余
超is!介 2
11或 I\
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100
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100
100
100
75
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I0〔,
I00
4.1.4 显微晶粒度的评定
4.1.1.1 通常使用与标准评级图片相同的放大倍数,通过显微镜投影图象或代表」'l.视场的V.微照I;
写相应的标准评级图片直接比较,选取与试样图象最接近的标准评级图级别,记录评定的结果
4.1.4.2 如将待侧的晶粒图象和标准评级图投到同 一投影屏上,可提高评级精确度
4.1.4.3 当晶粒度超过标准评级系列图片所包括范围或基准放大f合数(M=100) 不能做足需要lit.
可采用其他放大倍数材。若使用放大倍数M的晶粒图象与基准放大倍数Mb的标准汁级图!1}?比Yti.
标HI 11级图片清’j冶2「收.Yis隔报标准研究总所联系
ND r 5148 一93
评出晶粒度级别指数G',其显微晶粒度级别指数G为公式 (1)
‘二G'+Q ⋯⋯
。= 6.64391潇 一‘”’‘”’ (2)
其他放大倍数 F评定的晶粒度级别与相应的显微晶粒度级别指数对照表
表 3
图象的放
大倍数
与标准评级图编号等同图象的晶村度级别
Nn.1 N..2 N..3 N o.4 N.., N..6 N..7 Nu.8 N..9一N。.;。25 一 3 一 2 一 t 0 l 2 3 4 5 {万
50 一1 0 ] 2 3 4 5 6 7 8
too 1 2 3 4 6 7 8 9 卫O
2。哎) 3 4 6 6 7 8 s 1O l1 12
40幻 5 6 7 8 9 工O 11 12 13 14
800 7 8 9 10 l1 12 I3 14 IS ]6
4.1.5 宏观晶粒度的评定
4.1.5.1 放大倍数为1倍,将试样晶粒图象与标准评级系列图片进行比较,评定结果以平均“直径”
或宏观晶粒度级别指数CM来表示
5.2 当晶粒较小时,最好使用稍高的放大倍数M进行宏观晶粒度的评定,评出晶粒度级别
C众,坟宏观晶粒度级别指数C>N为G式 〔3):
GM二GSM+QM (3)
QM二6.643919M ...................···············,二(4)
‘.2 面积法
面积法是通过统计给定面积内晶粒数。来测定晶粒度的。
4.2., 品粒数”的统计
4.2.1.1 将已知面积的圆形侧鼠网格置于品粒图象L,选用视场内至少能获得50个晶粒的放大倍数,
然后统计完全落在测最网格内晶粒数n1和被网格所切割的晶粒数”:。于是,该面积范围内的晶粒计数
。为公式 (5):
一 合·2·····························一 (5)
通过,,可由公式(6)求出试样检验面「每平方老米内的晶粒数n,
) ii r 5148 93
n -一A (6)
式中 L1一一观测用的放大倍数。
、— 所使用的测缺网格内的晶粒计数;
。2A1.一所使用的测量冽格而积 ,mm为1简化日算,常)F1500omm rlkl积的测吐网格,{一是简化公式 (6)为公式 (7)
”、二0.以)02-材 "n (7)
式中:M一一观tkil川的放大倍数
n— 5000rnm z侧鼠网格内的品粒计数
4.2.2 晶粒度级别指数召的计算按公式 (8);
G二一2.4;12十3.3219tKn,· tt ···t ,·, 一 (8)
式中:”a一一试样脸验面f.每平方毫米内的品粒数
0.2.3 非等轴晶粒,应统计纵向、横向和法向一个斤相垂肖平面内的晶粒数 琢立方毫米内的晶粒
数nv按公式 (,)计算:
,=0.8"户 9A m;·,、。·。、{。, ···4···········4···⋯⋯(”
式中 nx}fl一 纵向面每平方毫米内晶粒数;
n*N- 横向A每平方毫米内晶粒数
几法而— 法向而每、{r方毫米内晶粒数
利用叭值从表蕊查出级别指数‘,并将,,韶。iE护LInPoi}' ni}甘咐加在级别指数脚标},以表r
晶粒的形状
东3 截点法
截点法是通过统计给定长度的侧狱网格上的品界截一「,数宋测定品粒度的
截点的测定可借助各种类型仪器进衍。为 产避免汁数差ii, I建议用截 从法讨,采用手动口数器进
{丁截点统计
对丁」卜均匀等轴晶粒的各种组织,应使用截点法。对 J几作等轴品粒,截点法既而刊月es一分别测定
个相h垂直方向的晶粒度,也可计算出总休的平均晶粒度。
4.3.1 截点法的测定
4.3.1.1 截点N:观侧面r晶界Il测量网格的交点。
4.3.1.2 截即]:覆盖在一个晶粉上的侧量线段的长度。
4.3.1.3平均截喻 试样检验面上晶粒截距的平均依按公式(10)计算:
LM -- n' (10)
式中:L - 所使用的测鼠网格长度,.m,
J- 观侧用的放大倍数;
入 ~一测凌网格乙L_的截点数
4.3.1.4 ?d社心级Vi指数G的计算按公式 (11)
‘一3.2877, 6.643919 ( MT n
式中:叼、N. L同4.3.1.3。
4.3.2 500..测量网格的使用;
4.3.2.1 为 l0使用简便,采用500. m测缺网格。少七尺寸如图 1听
、1玉f51乙巳 93
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图 1 截点法用的加。mo1测鼠网格
1!1线总长:5训;艘长总和:2别 0+16日.下 833 洲().。
几个圆的山径分助为 川 58、邓.(,5、邪.洲
4.3.2,之 使用5如。m测厦网格计得的截点数浑,根据观测用的放大倍数脚,从表生或图2可杏出
晶粒度级别指数召;从图3可查出平均截距1。
用于5。。mm侧量网格上截点计数确定暴微晶粒度级别指数表见表4。和表功
召 口卜+八存
、“ 【5146 93
表 4u
放大供数 召 一 砍人’六数 G卜
川 1.288
25 L.3bG
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12.5 6.000
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一
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300 8.526
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73 一0.90 8
74 一0. 86 9
75 0.830
76 -0.792
77 一0.754
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79 - 0.680
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82 0.573
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、 丽 山n.、汕一「‘川 厄 竺 故
图 3 用F500m m测151网格截点lfi数t}接
确定平均截距图
、遥 乙一, 93
4.3.3 rI线截点法
4.3.3.1 在晶粒图象I采用 条或数条西线$F1成测装网格,选择适当的长度和放大价数,以保Id
最少能获得约50个截点。根据测吐网格所截取的截点数来确定晶粒度。
4.3.3.2 计算截点时,测鼠线终板不是截中不介计算口终端点,I好接触到品界时 f叭I为l,'2个截卜
侧ML线‘站吉界相yJ时,应计为1个截"i o H11 S}.地与二个晶粒的fl.合橄市合时,应计为1L2个截 Ii " If
不规则的晶粒形状 下,测徽线会在同 一晶粒边界不同部位产生两个截点后又伸人形成新的截 从,汁算
截点时,应包括新的截饭
4.3.3.3 为 r获得合理的平均值,应任意选徉 3至5个视场进{丁测41。如果这 平均数的精确度下
满足要求时,应增加足够的附加视场。
4.3.3.4 对 少}「等轴晶粒,如经适度加 1过的余属,应沿着试样的纵向、敬向和法向 几个}要方.司
卜使用、}1讨 网格,分别测定截点数。通常采用纵向和横向的试样截面,必要时加巨法向截all ,将图1
听小的loo. m线段任 一条放在相勺垂八的 一个卜要方向 }依次地平移到标志 “十”处,(史川八次。卜‘
锌出该1,1 hl}衍毫来的平均截点数。1'是,每 J方乞术的晶粒数n按公式 (12)计算;
刀、二0.566·刀纵 凡}' n'1 (12)
式.卜:74 u-一纵向
n is一 一横向
n — 法11.]
利用。fti从农
形状
4.3.3.5 对 !几}}
每毫米内平均截汽数
侮毫米内平均截点数
坛毫米内平均截点数
}N出近似对应的晶粒度级别指数G 然后加L脚标,J.一n}.4和n;l:一 nu表示.链粉
,r1轴?肺d ,每毫米的平均截汽数,「妇公式 (13)计算
刀,二专(·、十·h十·、 ,二 (13)
式『{‘:刀纵、凡呱、”砂湘.3.:t.4。
如川Ink 1f{在表3 L P}到的‘值将比用月值所杏出的r 1A偏高,这表明金属变形后尽管桩,)方毫来
内的品粉数大致相同,但品粒的平均线r度略有减少,而表面积右所增大。
4.3.4 单圆截点法
4.3.4.1 对J几试样 卜不同位置的晶粒度有明褪差别的材料,应采用单圆截点法。在此情况 卜,需货
进行大醚视场的测定
4.3.4.2 使用的测皱网格的圆周可为仟 周长,通常使用loom., 200..和250mmo也可使用
图1所d,的各个圆周,分别使用2次、3次和6次。以满足测鼠网格总周长为500. m 每个视场只侧
w`` 一次。根据具体情况,鹅加视场数U, I直至置信I比S足要求为110
4.3.4.3 选择适当的放大倍数,以满足每个回周产q35个截点。测股网格通过 一个f猜粒I合点时
计为2个截伙
4.3.4.4 将所需要的儿个圆周仟意分布在尽可能大的检验面上。
4.3.5三圆截点法
4.3.5.1 试'Y-表明,每个试样截 叔计数达500时,常能获得可靠的精确度。对测U.数据进行X=检验.
结果表明截点计数服从正态分布,从而允许对测w值按正态分布的统计方法处理。对每次1洁粒度测定
结果应计算出置il 11R(计算方法见附录人2)。
4.3.5.2 侧吐网格由 一个同心等距,圆周总周氏为500..的圆组成,如图1所小。将此网格用寸
测节仟意选择的五个不同视场匕,分别记录每次的截点数。然后计算出平均酮.粒度和置信阳。如置信
限不合适
4.35.
,需增加视场数,A至置信限满足要求为止。
3 A4# i&当的放大倍数,使总周长500. m的测Um格能满足产’110。个左}i的截点 hu第
次放置测翁网格产生的截汽数小 丁70或大于150那么应舍介,井垂新调铭放大倍数后再测址。
111 1 5148一93
?
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‘.3.5.4 测缺网格通过 个品书川合汽时,截 应 卜为2个
5 晶粒度的数值表示
5.1 使川1Ffnf 种方法测定拮粒度,最初是以单位自积 }_的韶朴数 (n
(。.)来表小‘。这些数似使用往往不尸]便,因此,通常以公称[详 Cd,J、
)或 fi价CJ `<{品界截?
??(山)
汀丈。
5 2
卜均截}I i_(乃 、叫"c体积乌砂歇数(。)、与砂厂I均截向积ca)及
卜11特 (Fercl)
片’玺级别宁台数14八来表
因为品拉度的各种数仇表 J.都是由},J 4119 `,.丫 l n和叭通过对故或倒数关系ifu4?
示 一41t试样的尚伟冲定,人能简单地将各个品宕‘劣洲劳IJ[二些了 卜为
实际不存在的呆札度,炸比也不能进行各种猫价度敌位的相‘了转换
示该组试样的;At`度。如取样数最多,具测甲依服从 匕态分Pi Ik) ,
算出品粒度的各数他
a则,所得到的·
如取丰丫数一卜少.
.「内〔所以,‘要表
一价将是试样i!i
可取 终干h位数 K
1丁光R,I}刀L和n.}Y'i平均了肖后, rh
5.3 若试f勒丰」发现晶粒不均匀现象.终全而观察后,如属怨然或个+;1现象,,叮不j {算〕如较片阵
遍,则应当L{算不同级"I k", I f.",庄视J如{;各知 积的[If } LL.若}‘}优势峭柱所 气的向积爪少 上视场血积
的90 N时,则只记录此 一种品社的级别指数。否则,应州不同级别指数灰表q}该试样的品}L:I变。玲11
第 一个级别指数代表占优势的品粒度。如:6级,0%-h级300.;
任意取向、均匀、等轴晶粒的显微 升立度各数值关系 (见表5)
表 5 任意取向的均匀、等轴晶粒度关系表
品杜截面
}芳,.. h径” m g141 Jl 林达米匀戚 「;数 均品粒截而而W 平均s,IJ平方L米内
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级 别指数
公你I'L4
(了门,m [n
“弗4!特’
ti价。
d百,”,m
方,r.米一勺
to数2 :”
2.幻
25
3O
0 5I
0.36
0.30
0.25
0.21
0.200
0 I8
0 15
0.125
0 5了的
0.403
0.339
0.285
i 0.20,1;井
0.l43
0,135
0汪20
11.113
3.716
4,12
5 26
5.64
6 25
7.43
8 84
9 刁1
上0 5I
I 1 29
0.0912
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0.0466
叹 0400
0.0323
0.0228
0.()IG上
0.0114
0 0111
0.0100
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48 8
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138
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3日1
463
657
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mm艺x川
注:工 山 =l1/1.
父 n.=0.5859
报告
软件系统测试报告下载sgs报告如何下载关于路面塌陷情况报告535n,sgs报告怎么下载竣工报告下载
6.1 铁素体钢
除用渗碳法}13小奥氏休晶粒度外,其他方法应报告如下内容:
6.1.1 试样热处理的温度及保温时1日〕。
6.1.2 显示品粒边界的方法。
6.1.3 晶粒度级别
6.2 奥氏体钢
6.2.1 品粒显示方法。
6.2.2 V粒度级别
6.3 铜和铜合金
6.3.1 .是粒显示方法。
6.3.2 品粒度以毫米为单位按平均韶朴汽径报出。所谓 “平均品粒良径”是指检验面 t所显T的晶
粒、挤均 “百径”。
64 其他金属及其合金
按有关的技术条件或供需双方协议要求报告。
‘5混合晶粒度
遇the合晶粒度时,应分别报告各种晶粒度及其所占面积百分比。
lii"P 514B 93
附 录 A
(补 充件)
A.1 晶粒度各种测量值的计算
A 1.1
A .1 .1
不一司枚人倍数间品粒度各种测敏值的换算
而积法:ll晶粒数按公式 (AI)换算:
。二·2·(箫)2 (AU
式,I,: n
A,t
一 一换算成放大倍数为tit心钻社数
-一 放大倍数为叼 时刚定的品杜数,
2 截点习川】截气数按公式 (入2)换s? ?
A-二刃2
式巾:N — 换算成放人倍数为衬 的藏点数;
1'一一放人倍数为对 时测定的截点数
(A2)
A.1 .1 .3 长度按公式 (A3)换算:
(A3)
?
式中:I 换林戍放大倍数为甘}的民度
1 I - V}人倍数为灯2时侧定的d}r
图表,l喃 关品粒度数仙的计算
平均晶粒截面面积按公式 (A日}u之 ‘’“’,·‘········一 〔A4)
— 、件均晶粒截面面积,mm2;
— 每‘「方毫来内的晶粒数
.2 公称直径按公式 (A 5)计算
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d。一声 ' (AS)
d,} 晶粒的公称1玺径,mm;
万— 平均晶粒截面面积,mm=
2.3 圆形晶粒平均截距按公式 (A6)计算:
了二a⋯ (A6)
(A7)
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1一 Al形晶粒平均截距,mm;
子-一 平均高、粒截面面积,M ,n %
.2.4 弗华特 (Fe ret)八径 (山,
2.4.1 I' i1Fs的eA个一钻粒截面
a— 品粒截曲积,mm}
1-一一品粒中均Wh , m m
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Y13 -T 5148一93
A.1.2.4.2 圆形截面
、'/-4- }a (AS)
I- 品粒平均截距,mm;
万 .平均晶粒截面积,mm.
关于晶粒度测定结果的置信限
推荐使用本章的统计方法,应用于截点法的数据处理中,以保证测量结果满足相应的置信限
.2.1 .1.粒度测定不可能是 于分精确的测U.通过选取月个 “代表性”视场的测定而计算出的晶
?
?
?
?
粒度平均值,决不能将它看成该试样lei定可靠的11粒度真实代t,值。由7一测Fir俏符合IF.态分布规律,
应用统计学方法进行数据处理,我们可以用标准差为尺度,估计出所侧定晶粒度平均值所在的置信Ix.
间。置信区间的上下限称为置信限。本标准使用 “正常置信限"(C-L)来表A<测量结果有95%的儿
率落在指定的置信区问内。置信限被其平均值所除的商称为 “相对置信限” (R, C 人)。
AZ.2 计算方法
把同 一个测4网格用在1个视场 L,测得的截点数分别为:V 、N z,⋯⋯、N? ··⋯、N 〔〕
A.2.2.1 平均截汽数按公式 (A 9)计算:
,, :V,
V= ····,,····,···········,··,,··,·,···t二(人9)
;
A.2.2 .2 截点计数的标滩差按公式 (A19)计算
危 。、」_万、:
S一了二止二二一三三一 (A]0)
A.2.2.3 截点数的变异系数按公式 (All)计算:
c.二=S ··················⋯⋯ ⋯ (All)
当测量次数增加时,变异系数 (C.v)会趋于 一常数。它反映出所观察的视场内各个测最结果离
散变异程度及测髦结果平均值的特征。因此,将它与理想试样
分析
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中预期的标准值 (A1)进行比较,
如变异系数(C. v)明显地高于标准值或标准差(S)明显大于AM,这表明该试样存在着不均匀
的晶粒度。
A.2.2.4 利用A .2.2.3中计算出的变异系数 (C. V)值,分别从图Ai和图A2查出晶粒度级 别
指数G的95置信限(C. L)和形均截距了的95%相对置信限(R.C.L)。于是,其MO U结果表小
为:
晶粒度级别指数 G士 (C.L)
品粒平均截距:了士了·(R.C,1)
A.2.3 当变异系数 (C .V )值异常大时,可从图A1以C .v值确定晶粒度级别范围,即将 1=均
ne粒度加减范围iE负偏差作为所测到的晶粒度范围。此晶粒度v- LA r i`V均值的置信限不同 即使进行
更多的测4k次数,这个区间范围变化很小,该范IN名XF包括所有可能视场的6a 的晶Vc 4级别。同
样,从图A2也可得到截距范围的正负相对偏差。将此偏派乘以了值,作为所A }9的晶粒截距的范围
A.2.4 如测缺次数与图Ai、图A 2给出的次数不同时,可按下述方法进行确定95 0/?置信限。
A.2.4.1 截恢计数的标准误差由公式 (A12)计算:
S可
式中:s - 截点计数的标准旅 (见公式A 10);
a-1 (A12)
vniT 5148 93
f— 测量次数。
A.2.4.2取截点平均数(而 的95%置信限为2Sp。当N足够大时,级别指数‘的95置信限可
按公式 (A13)计算:
召 (95%c.
(A9)〕
L)=3.321819斋烹卜··。······⋯⋯(A13)
式中:N 平均截点数 〔见公式
S iv- 截点计数的标准误差。
A.2.4.3
」__, L, ~ j二于又 二二、_,~ 。 口2Sa_‘_、二_ 、 _币 ., ,.、.、 .、、、,、
sw半 利 住K息 狱 Vv) 阴 干日坷 直1 限 ,GP 资 小 趋 以 U.01, 叫用戏 性 YS 以1ft几 诊ti下异1目,
/V
级别指数‘的95%置信限可取2.9 x
表 A1
2S9
N
平均截断的95%相对置信限可取1.01、粤。
厂V
理想试样线性分析中预期的标准误差
截点计数
N
N的变异系数
‘方,
N的标准差
c布>
了的标准差
%
C的标准差 1在圆上引
起的误差
%
a 0.50 z
一1:。 立:一:;
+ t0
s 0.41 2.45 ;:: ;}11 + 4 7
l0 0.32 3.16
;:: :i:一;:
十 1.7
15 0.26 3.87 ::: ;{一866676 + 0.7
20 0.22 4.47
;:{ 工{:: + 0.4
30 0.18 5.48 + 22
一 l5
土 19 于{一:: + 0.2
35 0.17 5.92
;:) 幸:一:: + 0.13
4O 0.16 6.32 ;}: 嘿 + 0.1
S0 0.14 7.1 ;}VI214 至a00:{ + 0 07
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14.1
17.3
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图 人1 晶粒度级别指数G的置信限确定图
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平均截距I的相对置信限确定图
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YRiT 5148一 93
实例
00倍下观测,使用500. m的测量网格在5个视场上测得截点数分别为:92,78,109,74和1170
利用公式 (A9)计算平均截L卜,数
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丁 Ni
入让止匕一
=(92+78+109+74+117)
= 94
A.2.5.2 刊用公式 (A 10)计算截点计数的标准差
户